在晶圓代工領域一直居于臺積電 ( TSMC )之后的聯(lián)電 ( UMC ),可望藉由率先采用FinFET制程技術,領先其競爭對手一步。 盡管十年前,臺積電是最初發(fā)起FinFET 構想的主要企業(yè)之一。但依照聯(lián)電與IBM 簽署的授權協(xié)議,最
圖像傳感器包括CCD與CMOS兩種。其中,CCD是“電荷耦合器件”(Charge Coupled Device)的簡稱,CMOS是“互補金屬氧化物半導體”(Complementary Metal Oxide Semiconductor)的簡稱。CCD是1970年美國
標簽:CMOS CCD無論任何產(chǎn)品,品質的好壞主要取決于性能的優(yōu)劣,而性能優(yōu)劣的關鍵跟產(chǎn)品結構和工作原理又有著較大的關系,CCD和CMOS也既如此?;窘M成CCD是在MOS晶體管的基礎上發(fā)展起來的,其基本結構是MOS(金屬&m
未來幾年由于消費者對傳統(tǒng)機電式電表的更新?lián)Q代,智能電表市場預計將以每年兩位數(shù)的速度增長。智能電表使用最新的集成電路(IC)技術進行精確測量并報告消耗的電量,智能電表比機電式電表復雜,但更加注重測量數(shù)據(jù)的完
引言 測試CMOS電路的方法有很多種,測試邏輯故障的一般方法是采用邏輯響應測試,即通常所說的功能測試。功能測試可診斷出邏輯錯誤,但不能檢查出晶體管常開故障、晶體管常閉故障、晶體管柵氧化層短路,互連橋短路
O 引言 電路中的功率消耗源主要有以下幾種:由邏輯轉換引起的邏輯門對負載電容充、放電引起的功率消耗;由邏輯門中瞬時短路電流引起的功率消耗;由器件的漏電流引起的消耗,并且每引進一次新的制造技術會導致漏電流
臺積電(TSMC)董事長兼CEO張忠謀表示,正在考慮一種經(jīng)營模式──為單一客戶提供服務的晶圓廠。張忠謀在稍早前的第二季分析師電話會議上指出,市場正在朝著少數(shù)但大產(chǎn)量的客戶方向發(fā)展,其中有些客戶的規(guī)模已經(jīng)大到需要
臺積電 ( TSMC )董事長兼CEO 張忠謀表示,正在考慮一種經(jīng)營模式──為單一客戶提供服務的晶圓廠。 張忠謀在稍早前的第二季分析師電話會議上指出,市場正在朝著少數(shù)但大產(chǎn)量的客戶方向發(fā)展,其中有些客戶的規(guī)模已經(jīng)大
專注于經(jīng)濟有效、高性能的手機 CMOS 功率放大器解決方案的新領軍人 Amalfi? Semiconductor, Inc. 近日宣布其 CMOS 功率放大器發(fā)貨量已超過 1 億個,進一步鞏固公司在這一不斷增長的市場的領先地位?!鞍l(fā)貨量超過 1 億
Amalfi Semiconductor, Inc. 近日宣布其 CMOS 功率放大器發(fā)貨量已超過 1 億個,進一步鞏固公司在這一不斷增長的市場的領先地位。 “發(fā)貨量超過 1 億個發(fā)射模塊不僅標志著我們有能力在數(shù)量上滿足市場對高質量 CMOS 功
CCD(Charge Coupled Device)圖像傳感器(以下簡稱CCD)和CMOS圖像傳感器(CMOS Image Sensor以下簡稱CIS)的主要區(qū)別是由感光單元及讀出電路結構不同而導致制造工藝的不同。CCD感光單元實現(xiàn)光電轉換后,以電荷的方
標簽:圖像傳感 CMOS CCD傳感器類型:我們常說的數(shù)碼攝像頭的傳感器相當與傳統(tǒng)相機的膠片,傳感器是數(shù)碼攝像頭的核心,也是最關鍵的技術,它是一種用來接收通過鏡頭的光線,并且將這些光信號轉換成為電信號的裝置。
標簽:圖像傳感 CMOS CCD傳感器類型:我們常說的數(shù)碼攝像頭的傳感器相當與傳統(tǒng)相機的膠片,傳感器是數(shù)碼攝像頭的核心,也是最關鍵的技術,它是一種用來接收通過鏡頭的光線,并且將這些光信號轉換成為電信號的裝置。
標簽:圖像傳感 CMOS CCD傳感器類型:我們常說的數(shù)碼攝像頭的傳感器相當與傳統(tǒng)相機的膠片,傳感器是數(shù)碼攝像頭的核心,也是最關鍵的技術,它是一種用來接收通過鏡頭的光線,并且將這些光信號轉換成為電信號的裝置。
專注于經(jīng)濟有效、高性能的手機 CMOS 功率放大器解決方案的新領軍人 Amalfi Semiconductor, Inc. 日前宣布其 CMOS 功率放大器發(fā)貨量已超過 1 億個,進一步鞏固公司在這一不斷增長的市場的領先地位。“發(fā)貨量超過
如今主板的集成度越來越高,維修主板的難度也越來越大,往往需要借助專門的數(shù)字檢測設備才能完成。不過,有些主板常見故障并不需要專門的檢測設備,你自己即可動手解決,下面是一些最典型的主板故障維修實例,希望大
引言 測試CMOS電路的方法有很多種,測試邏輯故障的一般方法是采用邏輯響應測試,即通常所說的功能測試。功能測試可診斷出邏輯錯誤,但不能檢查出晶體管常開故障、晶體管常閉故障、晶體管柵氧化層短路,互連橋短路
未來幾年由于消費者對傳統(tǒng)機電式電表的更新?lián)Q代,智能電表市場預計將以每年兩位數(shù)的速度增長。智能電表使用最新的集成電路(IC)技術進行精確測量并報告消耗的電量,智能電表比機電式電表復雜,但更加注重測量數(shù)據(jù)的完
如今主板的集成度越來越高,維修主板的難度也越來越大,往往需要借助專門的數(shù)字檢測設備才能完成。不過,有些主板常見故障并不需要專門的檢測設備,你自己即可動手解決,下面是一些最典型的主板故障維修實例,希望大