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漣鋼雙高棒生產(chǎn)線倍尺飛剪技術(shù)研究與應(yīng)用

概述了雙高速棒材線倍尺飛剪技術(shù)在鋼鐵產(chǎn)業(yè)應(yīng)用的最新進(jìn)展 ,并指出雙高棒生產(chǎn)線在提升生產(chǎn)效率、改善產(chǎn)品質(zhì)量、降低生產(chǎn)成本等方面具有顯著優(yōu)勢(shì) 。詳細(xì)闡述了漣鋼雙高棒生產(chǎn)線倍尺飛剪的工作原理 ,并對(duì)其在實(shí)際生產(chǎn)中的應(yīng)用現(xiàn) 狀及所面臨的問題進(jìn)行了深入研究與改進(jìn)。

《機(jī)電信息》
2025-06-23

雙通道高速棒材倍尺飛剪零位校正自動(dòng)化控制
基于聲發(fā)射技術(shù)的火電廠鍋爐水冷壁管氫損傷檢測研究

傳統(tǒng)的鍋爐水冷壁管氫損傷檢測方法多依賴于材料的物理性質(zhì)變化進(jìn)行間接判斷 , 易受環(huán)境干擾且難以精確定位損傷。因此 ,對(duì)基于聲發(fā)射技術(shù)的水冷壁管氫損傷檢測方法展開研究。首先 ,利用聲發(fā)射技術(shù)進(jìn)行水冷壁管信號(hào)的實(shí)時(shí)采集;其次 ,對(duì)采集到的聲發(fā)射信號(hào)進(jìn)行頻率成分提取 , 以獲取與氫損傷相關(guān)的特征頻率;最后 ,分析聲發(fā)射信號(hào)的頻率成分 ,根據(jù)不同損傷類型產(chǎn)生的特征頻率判斷損傷類型 ,基于聲發(fā)射信號(hào)的到達(dá)時(shí)間和波速計(jì)算損傷點(diǎn)相對(duì)于傳感器的位置 ,檢測損傷位置。實(shí)驗(yàn)結(jié)果顯示 ,該方法所得頻率特征曲線與實(shí)際情況高度吻合 ,偏差極小 , 能夠準(zhǔn)確識(shí)別出多種損傷類型 ,且檢測過程中實(shí)現(xiàn)了零誤檢與零漏檢 ,檢測準(zhǔn)確性與可靠性優(yōu)勢(shì)顯著。

《機(jī)電信息》
2025-06-23

檢測火電廠鍋爐聲發(fā)射技術(shù) 水冷壁管氫損傷
DL/T834新舊標(biāo)準(zhǔn)差異對(duì)比分析

為了提升設(shè)計(jì)效率和運(yùn)行安全性 ,對(duì)DL/T 834—2023《火力發(fā)電廠汽輪機(jī)防進(jìn)水和冷蒸汽導(dǎo)則》與DL/T 834—2003 《火力發(fā)電廠汽輪機(jī)防進(jìn)水和冷蒸汽導(dǎo)則》的設(shè)計(jì)、運(yùn)行和檢驗(yàn)及維護(hù)要求進(jìn)行了對(duì)比分析 , 總結(jié)了兩版標(biāo)準(zhǔn)的差異性。分析結(jié) 果可為提升設(shè)計(jì)工作效率與運(yùn)行安全性奠定良好的基礎(chǔ)。

《機(jī)電信息》
2025-06-23

標(biāo)準(zhǔn) 發(fā)電廠疏水冷蒸汽
燃?xì)庹羝?lián)合循環(huán)機(jī)組廠級(jí)AGC功能改造研究與應(yīng)用

隨著電力系統(tǒng)復(fù)雜性增加 , 單機(jī)AGC運(yùn)行方式已經(jīng)難以滿足需求 , 因此廠級(jí)AGC的改造與應(yīng)用成為提升系統(tǒng)性能的重要手段。鑒于此 , 以某燃?xì)庹羝?lián)合循環(huán)機(jī)組廠級(jí)AGC改造為例 ,介紹該項(xiàng)目廠級(jí)AGC功能和負(fù)荷分配策略 ,并通過現(xiàn)場實(shí)際驗(yàn) 證其滿足廠級(jí)AGC指標(biāo)要求。

《機(jī)電信息》
2025-06-23

負(fù)荷分配燃?xì)庹羝?lián)合循環(huán) 廠級(jí)AGC
地鐵車輛蓄電池應(yīng)急牽引電路電纜和連接器選型分析與應(yīng)用

普通國道作為保有量較大的非高速公路 , 其隧道機(jī)電設(shè)施的年度養(yǎng)護(hù)檢測是發(fā)現(xiàn)功能缺陷和性能劣化的重要手段 ?，F(xiàn)基于300余座普通國道隧道的機(jī)電養(yǎng)護(hù)檢測數(shù)據(jù)分析 ,提煉供配電、照明、通風(fēng)、消防、監(jiān)控與通信共五大機(jī)電分部設(shè)施存在的典型問題 ,并重點(diǎn)分析各種故障問題的形成原因 , 以期為隧道管養(yǎng)決策和檢測技術(shù)發(fā)展提供參考。

《機(jī)電信息》
2025-06-23

電纜連接器地鐵車輛蓄電池應(yīng)急牽引
如何輕松解決 ESD 靜電問題

在現(xiàn)代科技高速發(fā)展的今天，靜電問題如影隨形，尤其是靜電放電(ESD)帶來的危害不容小覷。ESD 可能會(huì)導(dǎo)致電子元件損壞、設(shè)備故障，甚至引發(fā)火災(zāi)等嚴(yán)重后果，影響生產(chǎn)效率與產(chǎn)品質(zhì)量。但別擔(dān)心，只要掌握科學(xué)的方法，ESD 靜電問題是可以輕松解決的。接下來，我們就深入探討如何有效應(yīng)對(duì) ESD 靜電問題。

電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化
2025-06-23

放電高壓靜電
可控硅在交流通路中的關(guān)閉原理與實(shí)現(xiàn)方法

可控硅，即晶閘管，作為一種功率半導(dǎo)體器件，憑借其能夠在高電壓、大電流條件下實(shí)現(xiàn)電能控制的特性，被廣泛應(yīng)用于工業(yè)控制、電力電子等眾多領(lǐng)域。在交流電路中，可控硅可用于調(diào)壓、整流、變頻等多種功能。然而，要實(shí)現(xiàn)精確的電能控制，不僅需要掌握可控硅的導(dǎo)通方法，更要深入理解其在交流通路下的關(guān)閉機(jī)制。本文將詳細(xì)探討可控硅在交流通路情況下的關(guān)閉原理與具體實(shí)現(xiàn)方法。

電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化
2025-06-23

可控硅晶閘管半導(dǎo)體器件
基于Kubernetes的EDA容器化部署：高并發(fā)物理驗(yàn)證的資源隔離方案

隨著芯片設(shè)計(jì)復(fù)雜度突破千億晶體管，傳統(tǒng)物理驗(yàn)證（Physical Verification, PV）工具面臨資源爭用、任務(wù)調(diào)度混亂等問題。本文提出一種基于Kubernetes的EDA容器化部署方案，通過資源隔離、動(dòng)態(tài)調(diào)度與彈性伸縮技術(shù)，在AWS云平臺(tái)上實(shí)現(xiàn)高并發(fā)物理驗(yàn)證。實(shí)驗(yàn)表明，該方案可使DRC/LVS驗(yàn)證任務(wù)并發(fā)量提升5倍，關(guān)鍵任務(wù)響應(yīng)時(shí)間縮短70%，資源利用率從45%提升至88%。通過結(jié)合cgroups、NetworkPolicy和自定義資源定義（CRD），本文為超大規(guī)模芯片設(shè)計(jì)提供了安全、高效的云端物理驗(yàn)證環(huán)境。

電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化
2025-06-23

EDA Kubernetes
先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)BTI/HCI效應(yīng)建模：老化感知的時(shí)序收斂方法

隨著7nm及以下工藝節(jié)點(diǎn)的普及，負(fù)偏置溫度不穩(wěn)定性（NBTI/PBTI）和熱載流子注入（HCI）效應(yīng)已成為影響芯片長期可靠性的關(guān)鍵因素。本文提出一種基于物理機(jī)理的老化感知時(shí)序收斂方法，通過建立BTI/HCI聯(lián)合老化模型，結(jié)合靜態(tài)時(shí)序分析（STA）與動(dòng)態(tài)老化追蹤技術(shù)，實(shí)現(xiàn)從設(shè)計(jì)階段到簽核階段的全流程老化防護(hù)。實(shí)驗(yàn)表明，該方法可使芯片在10年壽命周期內(nèi)的時(shí)序違規(guī)率降低92%，同時(shí)保持小于5%的面積開銷。

電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化
2025-06-23

時(shí)序收斂 BTI/HCI效應(yīng) 老化感知
開源時(shí)序分析工具OpenTimer優(yōu)化：O(n)復(fù)雜度路徑提取算法實(shí)現(xiàn)

隨著先進(jìn)制程下芯片規(guī)模突破百億門級(jí)，傳統(tǒng)時(shí)序分析工具在路徑提取階段面臨計(jì)算復(fù)雜度指數(shù)級(jí)增長的問題。本文針對(duì)開源時(shí)序分析工具OpenTimer提出一種基于拓?fù)浼糁εc動(dòng)態(tài)規(guī)劃的O(n)復(fù)雜度路徑提取算法，通過消除冗余計(jì)算、優(yōu)化數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)及并行化處理，使大規(guī)模電路的時(shí)序路徑提取效率提升兩個(gè)數(shù)量級(jí)。實(shí)驗(yàn)表明，在3nm工藝28億晶體管GPU設(shè)計(jì)中，該算法將關(guān)鍵路徑分析時(shí)間從12小時(shí)縮短至42分鐘，內(nèi)存占用降低65%，為開源EDA工具的產(chǎn)業(yè)化應(yīng)用提供了關(guān)鍵支撐。

電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化
2025-06-23

OpenTimer 開源時(shí)序分析
把兩個(gè)輸出電壓不同的穩(wěn)壓芯片的輸出腳接在一起會(huì)發(fā)生什么?

在電子電路設(shè)計(jì)與實(shí)踐中，穩(wěn)壓芯片是維持穩(wěn)定輸出電壓的關(guān)鍵組件。然而，當(dāng)我們將兩個(gè)輸出電壓不同的穩(wěn)壓芯片的輸出腳連接在一起時(shí)，會(huì)引發(fā)一系列復(fù)雜的物理現(xiàn)象和潛在風(fēng)險(xiǎn)。這一操作不僅違反了常規(guī)的電路設(shè)計(jì)原則，還可能對(duì)電路系統(tǒng)造成不可逆的損害。接下來，我們將從電路原理、實(shí)際影響等多個(gè)角度深入探討這一問題。

電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化
2025-06-23

芯片電路設(shè)計(jì) 穩(wěn)壓
開關(guān)電源地彈抑制：分割地層與磁珠選型的量化評(píng)估準(zhǔn)則

在開關(guān)電源設(shè)計(jì)中，地彈噪聲（Ground Bounce）引發(fā)的邏輯誤觸發(fā)、信號(hào)完整性劣化及電磁輻射問題已成為制約系統(tǒng)可靠性的核心瓶頸。某DC-DC轉(zhuǎn)換器在12V轉(zhuǎn)3.3V電路中，因布局不合理導(dǎo)致1%產(chǎn)品無法啟動(dòng)，經(jīng)分析發(fā)現(xiàn)地彈噪聲使COMP引腳電壓跌破-0.5V閾值，觸發(fā)芯片保護(hù)模式。本文提出基于分割地層與磁珠選型的量化評(píng)估準(zhǔn)則，結(jié)合物理公式與仿真驗(yàn)證，實(shí)現(xiàn)地彈噪聲抑制30dB以上的效果。

電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化
2025-06-23

開關(guān)電源地彈噪聲
電力電子設(shè)備在轉(zhuǎn)換電能過程中的效率如何計(jì)算

電力電子效率?是指電力電子設(shè)備在轉(zhuǎn)換電能過程中的效率，通常定義為輸出功率與輸入功率的比值。

電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化
2025-06-23

電力電子效率?
如何調(diào)整音頻處理器延時(shí)？音頻處理器如何調(diào)試

本文中，小編將對(duì)音頻處理器予以介紹，如果你想對(duì)它的詳細(xì)情況有所認(rèn)識(shí)，或者想要增進(jìn)對(duì)它的了解程度，不妨請(qǐng)看以下內(nèi)容哦。

工業(yè)控制
2025-06-23

處理器音頻處理器
這些嵌入式微處理器你都了解嗎？如何選擇嵌入式微處理器

在這篇文章中，小編將對(duì)嵌入式微處理器的相關(guān)內(nèi)容和情況加以介紹以幫助大家增進(jìn)對(duì)它的了解程度，和小編一起來閱讀以下內(nèi)容吧。

工業(yè)控制
2025-06-23

微處理器處理器嵌入式微處理器

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工業(yè)控制

漣鋼雙高棒生產(chǎn)線倍尺飛剪技術(shù)研究與應(yīng)用

基于聲發(fā)射技術(shù)的火電廠鍋爐水冷壁管氫損傷檢測研究

DL/T834新舊標(biāo)準(zhǔn)差異對(duì)比分析

燃?xì)庹羝?lián)合循環(huán)機(jī)組廠級(jí)AGC功能改造研究與應(yīng)用

地鐵車輛蓄電池應(yīng)急牽引電路電纜和連接器選型分析與應(yīng)用

如何輕松解決 ESD 靜電問題

可控硅在交流通路中的關(guān)閉原理與實(shí)現(xiàn)方法

基于Kubernetes的EDA容器化部署：高并發(fā)物理驗(yàn)證的資源隔離方案

先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)BTI/HCI效應(yīng)建模：老化感知的時(shí)序收斂方法

開源時(shí)序分析工具OpenTimer優(yōu)化：O(n)復(fù)雜度路徑提取算法實(shí)現(xiàn)

把兩個(gè)輸出電壓不同的穩(wěn)壓芯片的輸出腳接在一起會(huì)發(fā)生什么?

開關(guān)電源地彈抑制：分割地層與磁珠選型的量化評(píng)估準(zhǔn)則

電力電子設(shè)備在轉(zhuǎn)換電能過程中的效率如何計(jì)算

如何調(diào)整音頻處理器延時(shí)？音頻處理器如何調(diào)試

這些嵌入式微處理器你都了解嗎？如何選擇嵌入式微處理器

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