在今年美國國家儀器(下文簡稱NI)舉辦的的PXI TAC活動上,跨界融合是一個被高頻提及的詞匯。不同行業(yè)之間,技術(shù)的相互融合和復(fù)用的現(xiàn)象變得越來越頻繁,許多即成的經(jīng)驗和方法并不需要重復(fù)造輪子,只要拿來進(jìn)行修飾即
一、資料輸入階段1.在流程上接收到的資料是否齊全(包括:原理圖、*.brd文件、料單、PCB設(shè)計說明以及PCB設(shè)計或更改要求、標(biāo)準(zhǔn)化要求說明、工藝設(shè)計說明文件)2.確認(rèn)PCB模板是
大多數(shù)工程師在工具箱中看到Arduino時都不會選擇它,因為它看起來過于的簡單以至于不太好用或者不能勝任某些功能。大多數(shù)情況下他們都是正確的,但是這并不是我們要在這里所
1.檢測小功率晶體二極管A.判別正、負(fù)電極(a)觀察外殼上的符號標(biāo)記。通常在二極管的外殼上標(biāo)有二極管的符號,帶有三角形箭頭的一端為正極,另一端是負(fù)極。(b)觀察外殼上的色點。在點接觸二極管的外殼上,通常標(biāo)有極性
在當(dāng)今的工農(nóng)業(yè)生產(chǎn)中,需要進(jìn)行溫濕度采集的場合越來越多,準(zhǔn)確方便地測量溫度變得至關(guān)重要。傳統(tǒng)的有線測溫方式存在著布線復(fù)雜,線路容易老化,線路故障難以排查,設(shè)備重新布局要重新布線等問題。
我國的PCB研制工作始于1956年,1963-1978年,逐步擴(kuò)大形成PCB產(chǎn)業(yè)。改革開放后20多年,由于引進(jìn)國外先進(jìn)技術(shù)和設(shè)備,單面板、雙面板和多層板均獲得快速發(fā)展,國內(nèi)PCB產(chǎn)業(yè)由小到大逐步發(fā)展起來。中國由于下游產(chǎn)業(yè)的集
在電路板行業(yè)的生產(chǎn)制造中有一種工序是自選的(測試與不測試),今天幫廣大需要做PCB電路板的客戶分析一下,是否有必要在生產(chǎn)電路板的時候選擇測試與不測試的問題以及選擇什么方式的測試,電路板生產(chǎn)分為三大種類,今天
c8051f005單片機(jī)PWM測試程序//PWM輸出腳P0.3//-----------------------------------------------------------------------------//Includes//-------------------------------------------------------
對學(xué)電子的人來說,在PCB電路板上設(shè)置測試點(test point)是在自然不過的事了,可是對學(xué)機(jī)械的人來說,測試點是什么? 基本上設(shè)置測試點的目的是為了測試電路板上的零組件有沒有符合規(guī)格以及焊性,比如說想檢查一顆電
c8051f005鍵盤測試程序//-----------------------------------------------------------------------------//Includes//---------------------------------------------------------------------------
//-----------------------------------------------------------------------------//Includes//-----------------------------------------------------------------------------#include//SFRdeclar
計數(shù)測試數(shù)碼管顯示程序#include//6.000MHz#defineucharunsignedchar#defineuintunsignedint#defineL0#defineR1ucharSEG7[10]={0x3f,0x06,0x5b,0x4f,0x66,0x6d,0x7d,0x07,0x7f,0x6f};/*0~9的數(shù)碼管段碼
如果測試無法證明不存在嚴(yán)重的運行錯誤,那么嵌入式軟件開發(fā)團(tuán)隊如何才能確定其軟件沒有這些錯誤呢?基于數(shù)學(xué)證明的代碼驗證是值得一試的解決方案。在軟件驗證方面,可擴(kuò)展的高性能數(shù)學(xué)技術(shù)在實際應(yīng)用方面的最新發(fā)展十分有用,可實現(xiàn)對軟件中不存在運行時錯誤進(jìn)行證明。
單片機(jī)進(jìn)行脈寬調(diào)制(PWM) 直流電機(jī)調(diào)速測試程序;UNL2003提供電機(jī)驅(qū)動電流.(
對學(xué)電子的人來說,在電路板上設(shè)置測試點(test point)是在自然不過的事了,可是對學(xué)機(jī)械的人來說,測試點是什么? 基本上設(shè)置測試點的目的是為了測試電路板上的零組件有沒有符合規(guī)格以及焊性,比如說想檢查一顆電
隨著技術(shù)進(jìn)入超大規(guī)模集成(VLSI)時代,VLSI電路的高度復(fù)雜性及多層印制板、表面封裝(SMT)、圓片規(guī)模集成(WSI)和多模塊(MCM)技術(shù)在電路系統(tǒng)中的運用,都使得電路節(jié)點的物理可訪問性正逐步削弱以至于消失,電路
與以前的自我相比,現(xiàn)在的FPGA不再僅僅是查找表(LUT)和寄存器的集合,而是已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出了現(xiàn)在的體系結(jié)構(gòu)的探索,為未來的ASIC提供設(shè)計架構(gòu)。該系列器件現(xiàn)在包括從基本的可編