基于邊界掃描技術(shù)的數(shù)字系統(tǒng)測試研究

FPGA設(shè)計需要注意哪些要點

FPGA的用處比我們平時想象的用處更廣泛，原因在于其中集成的模塊種類更多，而不僅僅是原來的簡單邏輯單元(LE)。早期的FPGA相對比較簡單，所有的功能單元僅僅由管腳、內(nèi)部bu

高效的汽車電子測試——種貫穿HIL仿真到診斷的測試環(huán)境

汽車電路故障的檢測維修方法

汽車電路斷路斷路是指電流暢道的機器性斷開。在串聯(lián)電路中, 如電流停止, 則電路制止事情。在并聯(lián)電路中, 要是一條支路斷開, 則這條支路制止運行, 別的支路照常事情。利用電

靜電的產(chǎn)生及測試

一、靜電的產(chǎn)生 物質(zhì)都是由分子組成，分子是由原子組成，原子中有帶負電的電子和帶正電荷的質(zhì)子組成。在正常狀況下，一個原子的質(zhì)子數(shù)與電子數(shù)量相同，正負平衡，所以對外表現(xiàn)出不帶電的現(xiàn)象。但是電子環(huán)繞于原子核周

針對含DSP電路板的測試方法與診斷分析

在現(xiàn)代雷達系統(tǒng)中，含DSP電路板應(yīng)用很廣，含DSP電路板通常是以某種DSP芯片為核心，外圍配以雙口RAM(DRAM)和閃存(Flash)等器件。DSP芯片大多支持IEEE1149.1標準，并且在電路

NI高速同步測試解決方案

安捷倫科技93000 SoC測試系統(tǒng)的解決方案

鋰電池測試設(shè)備解決方案

相對于其它化學(xué)電池，鋰電池具有許多優(yōu)勢。例如，與鎳氫電池或鎳鎘電池相比，鋰電池更輕，沒有記憶效應(yīng)，并且自放電速率更 慢。鋰電池已被廣泛用作智慧手機和筆記本電腦等現(xiàn)

無線系統(tǒng)設(shè)計的11個省電技巧

要降低無線系統(tǒng)的功耗，我們需要考慮如下11個因素：第一：系統(tǒng)選擇使用的無線類型取決于幾個因素，其中主要是數(shù)據(jù)速率、通信范圍和運營成本。選擇范圍非常廣泛，從短距離Zi

電路板測試、檢驗及規(guī)范

1、Acceptability，acceptance 允收性，允收前者是指在對半成品或成品進行檢驗時，所應(yīng)遵守的各種作業(yè)條件及成文準則。后者是指執(zhí)行允收檢驗的過程，如 Acceptance Test。2、Acceptable Quality Level(AQL)　允收品質(zhì)

HAC電場和磁場測試簡介

太陽能電池和電池板測試方案(圖)

由于新能源最近的紅火，很多企事業(yè)單位都把眼光投到了這塊新興能源上，其中包括核能、風能、太陽能等。除了很多廠家積極投資到這部分產(chǎn)品之外，作為評估檢測產(chǎn)品的各機構(gòu)也

邊界掃描在帶DSP芯片數(shù)字電路板測試中的應(yīng)用

在現(xiàn)代雷達系統(tǒng)中，帶有DSP(數(shù)字信號處理器)芯片的數(shù)字電路板應(yīng)用很廣。DSP芯片基本支持IEEE 1149.1標準，并且在電路板中形成了邊界掃描鏈，支持邊界掃描測試。

帶寬對測試的影響有多重要

電子測量儀器多種多樣，萬用表、示波器、功率計、電能質(zhì)量分析儀、功率分析儀等等，我們經(jīng)常發(fā)現(xiàn)同一個信號用不同的儀器測試，結(jié)果都不一樣，此時我們該如何來判斷測試的準

【泰有聊】技術(shù)篇-連載第二篇：泰克大咖解讀低噪聲背后的科學(xué)

低噪聲的重要性，源自電池技術(shù)及低噪聲、低電壓應(yīng)用的行業(yè)發(fā)展大勢，必須真正實現(xiàn)低電壓，才能使移動設(shè)備中的功率保持在很低的水平，否則電池很容易就耗干了。這些因素正推動著所有這些技術(shù)朝著低電壓的方向發(fā)展，精確的測試和評估系統(tǒng)成為必須的工具，而只有測試系統(tǒng)本身保持精確的低噪聲，才能保證我們需要測量的信號不被湮沒在測試系統(tǒng)本身的噪聲中。這正是業(yè)界普遍面臨的測試挑戰(zhàn)。

晶體二極管的特性和測試方法及參數(shù)

一、二極管的特性 二極管最主要的特性是單向?qū)щ娦?，其伏安特性曲線如圖1所示： 1、正向特性 另在二極管兩端的正向電壓（P為正、N為負）很小時（鍺管小于0.1伏

電子測量儀器帶寬對測試的影響

電子測量儀器多種多樣，萬用表、示波器、功率計、電能質(zhì)量分析儀、功率分析儀等等，我們經(jīng)常發(fā)現(xiàn)同一個信號用不同的儀器測試，結(jié)果都不一樣，此時我們該如何來判斷測試的準確性呢!

JTAG測試

現(xiàn)在，邊界掃描技術(shù)可用于以器件為中心方式的測試中，使得在開發(fā)、調(diào)試和生產(chǎn)測試環(huán)境中采用JTAG（聯(lián)合測試行動組）測試技術(shù)。JTAG技術(shù)是指每個器件引腳的測試點都建在器件內(nèi)，并把這些測試點連接到5-Wire串行總線上

便攜式電解質(zhì)分析儀的設(shè)計及測試