黃強(qiáng)(中國電子科技集團(tuán)公司第58研究所,江蘇 無錫 214035)1引言 蜂窩電話,個(gè)人數(shù)碼助理機(jī)(PDA),數(shù)碼相機(jī)等各種消費(fèi)類電子產(chǎn)品已逐漸變得更小,反應(yīng)更為迅速,同時(shí)智能化的程度也越來越高。因而,電子封裝及組裝工
助焊劑工藝在倒裝晶片裝配工藝中非常重要。助焊劑不僅要在焊接過程中提供其化學(xué)性能以驅(qū)除氧化物和油污 ,潤濕焊接面,提高可焊性,同時(shí)需要起到黏接劑的作用。在元件貼裝過程中和回流焊接之前黏住元件,使其固 定在
在回流焊接爐中,倒裝晶片和其他元件要被焊接在基板上。在此過程中,如果加熱的溫度太高,或者時(shí)間太長 ,助焊劑便會(huì)在潤濕整個(gè)焊接面之前揮發(fā)或分解完,造成潤濕不良或其他焊接缺陷。另外,在復(fù)雜的混合裝配中 ,大
有些倒裝晶片應(yīng)用在柔性電路板或薄型電路板上,這時(shí)候?qū)宓钠秸畏浅jP(guān)鍵。解決方案往往會(huì)用到載 板和真空吸附系統(tǒng),以形成一個(gè)平整的支撐及精確的定位系統(tǒng),滿足以下要求:①基板Z方向的精確支撐控制,支撐高
什么元件被稱為倒裝晶片(FC)?一般來說,這類元件具備以下特點(diǎn)。①基材是硅;②電氣面及焊凸在元件下表面;③球間距一股為0.1~0.3 mm,球徑為0.06~0,.15 mm,外形尺寸為1~27 mm;④組裝在基板后需要做底部填充
對完成底部填充以后產(chǎn)品的檢查有非破壞性檢查和破壞性檢查,非破壞性的檢查有:·利用光學(xué)顯微鏡進(jìn)行外觀檢查,譬如,檢查填料在元件側(cè)面爬升的情況,是否形成良好的邊緣圓角,元件表面 是否有臟污等;·利用X射線檢
要滿足批量高速高良率的生產(chǎn),供料技術(shù)也相當(dāng)關(guān)鍵。倒裝晶片的包裝方式主要有2×2和4×4 in JEDEC盤, 20O mm或300 mm晶圓盤(Wafer),還有卷帶料盤(Reel)。對應(yīng)的供料器有:固定式料盤供料器 (Stationarytray f
焊接完成之后我們可以對產(chǎn)品進(jìn)行一些非破壞性的檢查,譬如,利用X射線檢焊點(diǎn)是否橋連、開路,焊點(diǎn)內(nèi)是 否有空洞,以及潤濕情況,還可以進(jìn)行電氣測試。由于此時(shí)還未完成底部填充,不便進(jìn)行機(jī)械測試和熱循環(huán)及老 化測試