21ic訊 安捷倫科技公司日前宣布其快速壓痕測試 Express Test 選件榮獲全球百大科技研發(fā)獎，現(xiàn)可兼容全部 Nano Indenter G200 臺子、DCM II 和 XP 壓頭。創(chuàng)新 Express Test 技術可實現(xiàn)全球最快速的納米壓痕，以進行力學性能成像。

Express Test 能夠獨一無二地與安捷倫暢銷的 Nano Indenter G200 配合使用，提供適合多種材料的高精度數(shù)據(jù)。Express Test 所提供的方法非常適合金屬、玻璃、陶瓷、結構型高分子、薄膜和低介電材料等多種儀表壓痕應用。Express Test 可在 100 秒內(nèi)在 100 個不同的表面位置執(zhí)行多達 100 次的納米壓痕測量。

對于科學和工業(yè)部門的工程師來說，Agilent Express Test 可提供前所未有的速度、卓越的通用性和即點即拍的簡便性。Express Test 使 Nano Indenter G200 能夠在載荷控制或位移控制模式下工作。測試過程很簡單：即點即拍。

使用 Express Test，用戶可以在幾分鐘內(nèi)完成壓頭的面積函數(shù)校準，使用穩(wěn)健統(tǒng)計快速測試楊氏模量和硬度，以及定量的力學性能成像。安捷倫性能領先的 NanoSuite 軟件允許用戶自動生成直方圖和 3D 力學性能圖形。圖形和支持數(shù)據(jù)可輕松導出到 Microsoft Excel 表格。

關于 Agilent Nano Indenter G200

Agilent Nano Indenter G200 采用電磁驅(qū)動器獲得極佳的力和位移動態(tài)范圍。安捷倫創(chuàng)新的 Express Test 選件使得 G200 成為用于納米力學測試的最精確、最靈活、最容易使用的儀器。G200 設計擁有諸多優(yōu)點，包括支持訪問整個樣品盤、具備極高的樣品定位精度、支持輕松查看樣品位置和樣品工作區(qū)域、支持輕松調(diào)整樣品高度，這些優(yōu)點將會加速整個測試過程。

安捷倫科技提供的納米力學系統(tǒng)

安捷倫為科研、工業(yè)和教育行業(yè)提供高精度、模塊化的納米測量解決方案。經(jīng)驗豐富的應用科學家和技術服務人員為其提供全球支持。安捷倫的尖端研發(fā)實驗室能夠確保及時推出和優(yōu)化創(chuàng)新和易于使用的納米力學系統(tǒng)技術。