Serdes面臨技術(shù)轉(zhuǎn)變，ISSCC專家組就向ADC轉(zhuǎn)移的可能進(jìn)行討論
五個(gè)討論專題中主要圍繞如何轉(zhuǎn)變和何時(shí)展開，同時(shí)探討了模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）是否將會(huì)取代二進(jìn)制前端成為背板式計(jì)算機(jī)和通信系統(tǒng)的serdes主要構(gòu)件。
博通公司的模擬工程部主管Ichiro Fujimori表示，“我的答案是絕對(duì)肯定的。數(shù)據(jù)率20Gbps并超過ADC將成為主流?！?/FONT>
Fujimori表示，帶有多層編碼技術(shù)的ADC將使得設(shè)計(jì)成本更低，并沿襲了早期DSL和語音頻帶調(diào)制解調(diào)器的設(shè)計(jì)布局?！斑@對(duì)于serdes設(shè)計(jì)師來說十分有趣。我們的模擬和數(shù)字小組正在緊密配合工作?！?/FONT>
富士通實(shí)驗(yàn)室的研究員Hirotaka Tamura表示同意Fujimori的上述觀點(diǎn)。他認(rèn)為，使用3比特ADC的設(shè)計(jì)以及對(duì)模擬前端進(jìn)行適當(dāng)?shù)膬?yōu)化，使得以當(dāng)今類似的成本和當(dāng)今類似的設(shè)計(jì)尺寸來支持未來的數(shù)據(jù)率。
“CMOS技術(shù)發(fā)展的趨勢(shì)是越來越多的使用ADC。”
來自德州儀器和IBM的工程師有著更為定量的觀點(diǎn)，他們認(rèn)為不同的設(shè)計(jì)將會(huì)采取諸多分散的新技術(shù)。
德州儀器的杰出技術(shù)成員Andrew Joy表示，“未來不可避免的趨勢(shì)是使用ADC在[長距離]固定信道中和非歸零信令中支持更高的數(shù)據(jù)率。”不過近距離的設(shè)計(jì)仍然在一段時(shí)期內(nèi)會(huì)使用現(xiàn)有的技術(shù)?！皬拈L期看，如果我們想在信道中取得最佳性能，我們必須遠(yuǎn)離serdes和ADC?！?/FONT>
他補(bǔ)充道，“這對(duì)于DSL時(shí)期同樣不易，因?yàn)樵诩夹g(shù)受限的條件下我們的性能是合適的。”
IBM的技術(shù)人員Michael Sorna也對(duì)此表示同意。他指出，在大量被背板設(shè)計(jì)中，serdes也被使用到，包括長距離的光纖和銅纜連接和芯片級(jí)的互連應(yīng)用。
Sorna表示，未來設(shè)計(jì)師所用到的“依賴于目標(biāo)應(yīng)用。今天10G的背板應(yīng)用中模擬均衡就足以應(yīng)付，問題是長期看會(huì)發(fā)展到什么地步。”
Rambus公司的技術(shù)總監(jiān)Jared Zerbe表示，“我的立場(chǎng)是沒有一個(gè)萬能的解決方案，解決方案會(huì)有很多，并且ADC和先進(jìn)的[模擬]線速均衡也不一樣?！?/FONT>
“ADC不是靈丹妙藥，未來也不會(huì)是。他們對(duì)于一些慢連接應(yīng)用顯得太昂貴，而對(duì)于那些速率要求高的又顯得慢。但ADC對(duì)于中速應(yīng)用以及復(fù)雜的背板應(yīng)用是最佳選擇，尤其是摩爾定律發(fā)生在所需數(shù)據(jù)率的前面?！?/FONT>
在DesignCon上的相關(guān)討論還圍繞著20Gbps以上的測(cè)試系統(tǒng)呈現(xiàn)的問題。一個(gè)專家組表示，他們預(yù)計(jì)串行數(shù)率最高將達(dá)到25Gbps。
下載文檔測(cè)試串?dāng)_時(shí)基本組件或階段的簡單框圖。首先，對(duì)通道 1 上的干擾音應(yīng)用一個(gè)濾波器，并測(cè)量作為參考捕獲的輸入。該濾波器確保來自信號(hào)發(fā)生器的所有其他噪聲和諧波被衰減到足以不破壞施加的故意干擾信號(hào)。
關(guān)鍵字： ADC 串?dāng)_和隔離測(cè)試在使用高速轉(zhuǎn)換器和多個(gè)轉(zhuǎn)換器通道的雷達(dá)、衛(wèi)星以及測(cè)試和測(cè)量應(yīng)用中，隔離或串?dāng)_可能是一種錯(cuò)誤的衡量標(biāo)準(zhǔn)。在不考慮通道串?dāng)_的情況下，在頻譜中丟失相關(guān)信息的可能性可能會(huì)對(duì)系統(tǒng)造成破壞，因?yàn)樵诟信d趣的應(yīng)用頻帶中可能會(huì)出現(xiàn)雜散或噪...
關(guān)鍵字： ADC 串?dāng)_和隔離測(cè)試
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