美商國家儀器(NI)發(fā)表了 2012 年「嵌入式系統(tǒng)展望報(bào)告」與「自動(dòng)化測試展望報(bào)告」，分別列出多家公司的結(jié)論與嵌入式系統(tǒng)產(chǎn)業(yè)的方向，以及最新測試/量測技術(shù)成果。
NI的「嵌入式系統(tǒng)展望報(bào)告」報(bào)告針對新一代嵌入式系統(tǒng)的開發(fā)作業(yè)，列出科技與商業(yè)層面的相關(guān)趨勢。能源、運(yùn)輸、生命科學(xué)、工業(yè)級控制等公司，均可針對多種嵌入式監(jiān)控應(yīng)用而利用此份資訊。透過此份報(bào)告，工程師與經(jīng)理人可策略性的建構(gòu)最佳實(shí)例，以利開發(fā)并維護(hù)創(chuàng)新的嵌入式系統(tǒng)。

NI的2012年「嵌入式系統(tǒng)展望報(bào)告」提及下列主要趨勢：行動(dòng)裝置與云端－－在新一代的嵌入式系統(tǒng)中，設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)將延伸利用新款行動(dòng)裝置與云端技術(shù)。透過軟體滿足未來需求──由于嵌入式系統(tǒng)的需求與標(biāo)準(zhǔn)不斷改變，設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)將傾向以「軟體優(yōu)先」的前提而升級產(chǎn)品。 小型團(tuán)隊(duì)亦可達(dá)到創(chuàng)新目標(biāo)──小型設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)將為公司建立更高效率的方法，縮短創(chuàng)新概念的上市時(shí)程。可重設(shè)的運(yùn)算──高階嵌入式監(jiān)控系統(tǒng)正逐漸增加可程式化邏輯的比重。嵌入式平臺(tái)──技術(shù)廠商所開發(fā)的平臺(tái)，亦企圖整合硬體與軟體框架，以協(xié)助設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)建立複雜的嵌入式系統(tǒng)。

2012年NI「自動(dòng)化測試展望報(bào)告」則說明多個(gè)產(chǎn)業(yè)的趨勢，包含通訊、汽車、半導(dǎo)體、航太/國防、醫(yī)療裝置、消費(fèi)性電子。透過此份報(bào)告，工程師與管理階層將可了解最新策略，另有測試作業(yè)的最佳化實(shí)例。此份報(bào)告共分為 5 大項(xiàng)：商業(yè)策略、架構(gòu)、運(yùn)算、軟體、I/O。并將討論下列主要趨勢：

測試組織最佳化──各家公司均審慎評估測試工程與戰(zhàn)略性資產(chǎn)，以期能于高競爭性的環(huán)境中殺出一片天。設(shè)計(jì)流程中的量測與模擬──以完整模型搭配實(shí)際量測，將提升產(chǎn)品品質(zhì)并縮短開發(fā)時(shí)間。PCI Express外部介面──電腦內(nèi)部的高速、低潛時(shí)匯流排，可強(qiáng)化外接介面而提升新的系統(tǒng)拓?fù)?。行?dòng)裝置迅速普及──目前幾乎已達(dá)「人手一支智慧型手機(jī)，所有背包都裝了1 臺(tái)平板電腦」的情況，同時(shí)正改變著測試系統(tǒng)的監(jiān)控方式。可攜的量測演算法──新的工具將僅需開發(fā)一組量測 IP，卻佈署到各式各樣的處理元件中。

2012 自動(dòng)化測試展望報(bào)告，是根據(jù)學(xué)術(shù)/產(chǎn)業(yè)研究、使用者討論/調(diào)查、業(yè)務(wù)情報(bào)、客戶建言所歸納而得。此份報(bào)告所提供的資料，將可協(xié)助建構(gòu)未來的產(chǎn)業(yè)趨勢與技術(shù)，以期解決測試產(chǎn)業(yè)的業(yè)務(wù)與技術(shù)難題。自動(dòng)化測試報(bào)告屬于 NI Test Leadership Council 的一部份。NI 將跨越不同產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域，與全球數(shù)千位的客戶合作出最佳實(shí)例，最后再與大家分享。

NI Test Leadership Council 的方式是邀請測試產(chǎn)業(yè)的領(lǐng)導(dǎo)廠商齊聚一堂一同討論，如此也得以得知商業(yè)與技術(shù)的重要資訊。Test Leadership Council包含技術(shù)交流、互動(dòng)網(wǎng)路、領(lǐng)導(dǎo)廠商高峰會(huì)等活動(dòng)。