搭配電感拓?fù)洌眯∮嵦?hào)MOSFET降低電源轉(zhuǎn)換功耗
現(xiàn)代的電子裝置設(shè)計(jì)須提供多個(gè)不同的直流(DC)電壓,導(dǎo)致內(nèi)部電路須透過(guò)升壓與降壓方式轉(zhuǎn)換電壓,為裝置中負(fù)責(zé)不同功能單元供電;其中,在高效率DC-DC電源轉(zhuǎn)換設(shè)計(jì)方面,以電感為基礎(chǔ)的轉(zhuǎn)換拓?fù)?/strong>,以及應(yīng)用于各種開(kāi)關(guān)的金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效電晶體(MOSFET)已變得相當(dāng)重要。
電感拓?fù)涓纳艱C-DC轉(zhuǎn)換效率
以新一代小訊號(hào)MOSFET為例,具有低汲極(Drain)/源極(Source)導(dǎo)通電阻(RDSon)和良好的開(kāi)關(guān)性能,并采用小型扁平封裝,開(kāi)啟中功率開(kāi)關(guān)模式DC-DC轉(zhuǎn)換的應(yīng)用新領(lǐng)域。儘管高效率電源亦可采用整合型方案,但系統(tǒng)廠考量設(shè)計(jì)靈活性和成本,仍廣泛使用外部功率開(kāi)關(guān)。
由于電荷幫浦等應(yīng)用常受到低電流的限制,對(duì)高輸出功率和高效率電壓轉(zhuǎn)換器而言,最佳解決方案是采用電感拓?fù)洌豁毶约痈膭?dòng)便可實(shí)現(xiàn)升壓、降壓或升降壓轉(zhuǎn)換器。圖1是一個(gè)簡(jiǎn)單的DC-DC降壓轉(zhuǎn)換器電路圖,相較于線性穩(wěn)壓器,該電路在理想元件應(yīng)用中具有100%的轉(zhuǎn)換效能;不過(guò),導(dǎo)通電阻不等于0歐姆(Ω),且電晶體開(kāi)關(guān)將產(chǎn)生損耗與花費(fèi)時(shí)間,電感因具有來(lái)自繞組導(dǎo)線的歐姆電阻,其磁芯也會(huì)增加損耗。
圖1 DC-DC降壓轉(zhuǎn)換器架構(gòu)圖
磁芯損耗係來(lái)自磁場(chǎng)變化引起小磁域運(yùn)動(dòng)而造成的,核心材料的遲滯愈厲害,損耗相對(duì)提高;另渦流也會(huì)導(dǎo)致電感磁芯損耗,因磁場(chǎng)變化將形成電流環(huán)路,使鐵磁性材料變熱。對(duì)高頻開(kāi)關(guān)來(lái)說(shuō),線路上的電流不再占據(jù)整個(gè)線路截面,反而偏向于貼近線路表面,這就是著名的集膚效應(yīng)(Skin Effect),將增大電阻損耗。
此外,輸出電容具有剩余電阻,也會(huì)導(dǎo)致電能損耗和溫度上升,因二極體(Diode)最終會(huì)產(chǎn)生正向電壓損耗和反向電流損耗。在現(xiàn)實(shí)條件下,這些機(jī)制與實(shí)際情況會(huì)使DC-DC轉(zhuǎn)換器效率降至75?98%之間。
模擬與實(shí)作高效率DC-DC降壓設(shè)計(jì)
以圖1的DC-DC降壓設(shè)計(jì)為例,Q1為P通道MOSFET,做為高端開(kāi)關(guān)用途,當(dāng)MOSFET開(kāi)啟時(shí),L1電感上的電流線性增大:ΔIL=(ton/L1)×(VIN×VOUT)。假設(shè)VOUT恆定,開(kāi)關(guān)打開(kāi)時(shí),電流持續(xù)流經(jīng)二極體D1,當(dāng)正向電壓VF對(duì)地時(shí),D1陰極為負(fù),電流以線性方式下降,C2緩衝輸出電壓值愈大,漣波愈小。
圖2則表示SPICE(Simulation Program with Integrated Circuit Emphasis)模擬,高端開(kāi)關(guān)整合P通道MOSFET,電源V1對(duì)其供電,電感值則選定為68μH,輸出電壓采用10μF電容進(jìn)行濾波;蕭特基二極體(Schottky Diode)D1做為續(xù)流二極體。此外,N通道驅(qū)動(dòng)器MOSFET Q2則透過(guò)3.3伏特(V)高位準(zhǔn)(V2)方波發(fā)生器,從而實(shí)現(xiàn)開(kāi)關(guān)動(dòng)作。本例中,開(kāi)關(guān)頻率為100kHz,并在輸出端連接一個(gè)10歐姆的負(fù)載電阻。
圖2 DC-DC降壓轉(zhuǎn)換器SPICE模擬圖
圖3係模擬結(jié)果,當(dāng)Q1開(kāi)啟時(shí),流經(jīng)電感的電流IL1表現(xiàn)出線性增大,開(kāi)關(guān)節(jié)點(diǎn)電壓VSW幾乎等于輸入電壓;當(dāng)Q1關(guān)閉時(shí),流經(jīng)電感的電流下降,開(kāi)關(guān)號(hào)轉(zhuǎn)為300毫伏特負(fù)電壓,即蕭特基二極體的正向電壓,輸出電流為叁角波形的平均值,約為330毫安培(mA),輸出電壓VOUT在大約3.25伏特處保持穩(wěn)定。
圖3 DC-DC降壓轉(zhuǎn)換器電流、開(kāi)關(guān)節(jié)點(diǎn)及輸出電壓模擬數(shù)據(jù)
該例中,電流在整個(gè)開(kāi)關(guān)週期內(nèi)流經(jīng)電感,這種模式稱為DC-DC轉(zhuǎn)換器的持續(xù)模式,輸出電壓計(jì)算公式如公式1、2;電感電壓計(jì)算方法如公式3:
VL=L×(dIL/dt)。。。。。。(1)
VL=L×(ΔIL/Δt)。。。。。。(2)
ΔIL=VL/L×Δt.。。。。。(3)
電感儲(chǔ)存的電量則以公式4表示:
E=L/2×I2.。。。。。(4)
對(duì)于開(kāi)關(guān)關(guān)閉時(shí)的靜態(tài)模式而言,電感增加的電量須等于開(kāi)關(guān)打開(kāi)時(shí)損耗的電量,忽略開(kāi)關(guān)和二極體正向電壓的RDSon損耗,即可得出計(jì)算ΔIL的公式5:
ΔIL=VIN–VOUT)×ton=VOUT×toff
VOUT/VIN=ton/(ton+toff)= ton/T.。。。。。(5)
其中,T為週期時(shí)間,工作週期為D=ton/T、VOUT=VIN×D;本例中,VOUT= 4.5V×(7.2/10)=3.24V。極端情況下,若工作週期為1,則開(kāi)關(guān)始終關(guān)閉且輸出電壓等于輸入電壓;工作週期小于1,則輸出電壓的下降多少取決于工作週期係數(shù)D。
此時(shí),電流漣波如公式6所示:
ΔIL=(VIN–VOUT)/L×ton.。。。。。(6)
本例的數(shù)值為ΔIL=(4.5V–3.24V)/ 68μH×7.2μs=133mA。
電感拓?fù)淇奢p易變換升/降壓設(shè)計(jì)
事實(shí)上,以電感為基礎(chǔ)的DC-DC降壓轉(zhuǎn)換器,只須稍為更改拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),降壓轉(zhuǎn)換器亦可成為升壓轉(zhuǎn)換器。如圖4為一個(gè)簡(jiǎn)單的DC-DC升壓轉(zhuǎn)換器拓?fù)?,若低端MOSFET Q1關(guān)閉,則電感上的電流會(huì)增大,可由公式7計(jì)算:
圖4 DC-DC升壓轉(zhuǎn)換器架構(gòu)圖
ΔIL=VIN×ton.。。。。。(7)
由于陽(yáng)極接地且陰極連接至C2的正電壓VOUT,二極體D1以反相模式驅(qū)動(dòng),若開(kāi)關(guān)關(guān)閉,則電流IL繼續(xù)流經(jīng)D1至輸出;若轉(zhuǎn)換器在靜態(tài)模式下工作,則可根據(jù)公式8、9、10計(jì)算:
ΔIL=VIN/L×ton=(VOUT–VIN)/L×toff.。。(8)
VIN×ton=(VOUT–VIN)×toff 。。。。。(9)
VOUT=VIN×(ton/toff+1)。。。。。。(10)
工作週期為D=ton/T;T=ton+toff。
等式的極端情況表示當(dāng)D=0,即電晶體從未開(kāi)啟時(shí),輸出電壓等于輸入電壓。這時(shí)須考慮無(wú)損耗元件,意味著二極體無(wú)正向電壓,且電感無(wú)繞組歐姆電阻和先前討論的額外損耗機(jī)制。若D接近1,則輸出電壓將快速上升,這對(duì)于安全運(yùn)行將有重大影響,因?yàn)楦吖ぷ鬟L期會(huì)造成MOSFET汲極電壓偏高。
圖5表示SPICE模擬,低端開(kāi)關(guān)整合采用SOT23封裝的N通道MOSFET及蕭特基二極體,轉(zhuǎn)換器開(kāi)關(guān)采用100kHz控制訊號(hào),工作週期為0.5。至于圖6表示模擬結(jié)果,其中的曲線2代表輸出電壓,對(duì)理想元件而言,由于工作週期為0.5,輸出電壓將等于輸入的兩倍。
圖5 DC-DC升壓轉(zhuǎn)換器SPICE模擬圖
圖6 DC-DC升壓轉(zhuǎn)換器電流、電壓模擬數(shù)據(jù)
實(shí)際上,二極體的正向電壓會(huì)降低輸出電壓,曲線1表示N通道MOSFET的汲極電壓VD,其在接地電壓和VD(最大值)之間切換,可由公式11表示:
VD(max)=VIN×1/(1–D)+VF 。。。(11)
在本模擬案例中,工作週期D=0.5,VD(max)=2×VIN+VF。
小訊號(hào)MOSFET提高電路轉(zhuǎn)換效率
類似DC-DC降壓轉(zhuǎn)換器的設(shè)計(jì),若將蕭特基二極體替換為MOSFET,同樣可提高升壓轉(zhuǎn)換器的效能,在開(kāi)關(guān)週期的電流相位中開(kāi)啟。圖7表示同步DC-DC升壓轉(zhuǎn)換器的拓?fù)洌鋺?yīng)用印刷電路板(PCB)架構(gòu)中,采用整合恩智浦(NXP)小訊號(hào)MOSFET的DC-DC降壓轉(zhuǎn)換器,因該MOSFET以SOT457、SOT23、SOT223和DFN2020MD-6(SOT1220)等小型表面組裝元件(SMD)技術(shù)封裝,將可提供極低的導(dǎo)通電阻及良好開(kāi)關(guān)性能。
圖7 同步DC-DC降壓轉(zhuǎn)換器架構(gòu)圖
該印刷電路板拓?fù)湟嗖捎昧枇柼?Linear Technology)的控制器,以兩個(gè)N通道MOSFET構(gòu)成開(kāi)關(guān)層級(jí),為讓高端開(kāi)關(guān)能通過(guò)電感連接節(jié)點(diǎn),直達(dá)輸入電源,必須進(jìn)一步使用高于輸入電壓本身的控制電壓。
此一額外的電壓用于上級(jí)MOSFET的閘極控制,通過(guò)電荷幫浦產(chǎn)生,電容C25連接至開(kāi)關(guān)節(jié)點(diǎn)、開(kāi)關(guān)后的輸出,并通過(guò)蕭特基二極體連接穩(wěn)定電壓INTVCC(接腳12);INTVCC由內(nèi)部5伏特低壓差線性穩(wěn)壓器(LDO)提供。
當(dāng)?shù)投碎_(kāi)關(guān)打開(kāi)時(shí),電容通過(guò)二極體充電,本例中,C25的一端接地,若Q2關(guān)閉、Q1打開(kāi),則充電后的電容連接至VIN,在接腳BOOST(接腳14)處,可測(cè)量電壓VIN+INTVCC–VF(二極體的正向電壓)。儘管此一升壓設(shè)計(jì)可正確驅(qū)動(dòng)高端開(kāi)關(guān),但對(duì)于電荷幫浦而言,使用低電流蕭特基二極體便已足夠。[!--empirenews.page--]
該設(shè)計(jì)采用的控制器還整合0.8伏特精密基準(zhǔn)電壓源,用于輸出電壓調(diào)節(jié)。降壓轉(zhuǎn)換器的輸出返回至FB接腳。由R41+ R39和R38組成的電阻分壓器調(diào)節(jié)輸出電壓,可由公式12計(jì)算:
VOUT=0.8V×(1+(R41+R39)/R38)。。。(12)
假設(shè)控制器以恆定頻率工作,在高電流情況下可輕鬆控制DC-DC降壓轉(zhuǎn)換器的輸出電壓,但于低電流情況下對(duì)控制要求則升高,須大幅調(diào)整工作週期,或?qū)⒖刂破鬓D(zhuǎn)換為另一種控制模式,如高負(fù)載模式。該控制器有強(qiáng)制連續(xù)、高負(fù)載和脈衝跳躍叁種工作模式;其中,高負(fù)載模式具有高效率優(yōu)點(diǎn),但漣波更大且電磁干擾(EMI)嚴(yán)重,最合適的模式須取決于終端應(yīng)用的規(guī)格和需求。
可編程設(shè)計(jì)的開(kāi)關(guān)頻率范圍為250k? 750kHz,頻率由電阻R30決定,控制器也可將內(nèi)部振盪器與外部時(shí)鐘源同步(MODE/PLLIN,接腳1)。該模式下,RC網(wǎng)路須與接腳2(FREQ)相連,做為鎖相迴路(PLL)濾波器。
掌握電壓/電流漣波設(shè)計(jì) 中功率DC-DC轉(zhuǎn)換效率增
DC-DC轉(zhuǎn)換器有多種應(yīng)用,具備外部MOSFET級(jí)的降壓轉(zhuǎn)換器控制器拓?fù)?/strong>常用于運(yùn)算和消費(fèi)性電子產(chǎn)品中。新一代系統(tǒng)單晶片(SoC)解決方案須用到許多獨(dú)立的電源電壓,以提供主機(jī)板、筆記型電腦、平板裝置、電視或機(jī)上盒(STB)等裝置優(yōu)異的電源管理方案。
由于電源範(fàn)圍最高可達(dá)數(shù)百瓦,最低僅數(shù)瓦,在桌上型電腦中,DC-DC轉(zhuǎn)換器須提供高達(dá)100安培的電流和130瓦功率,開(kāi)關(guān)級(jí)MOSFET採(cǎi)用無(wú)損封裝(LFPAK)或QFN 5×6封裝的趨勢(shì)也逐漸盛行,一般筆電和小筆電的功率需求相對(duì)較小,功耗範(fàn)圍為18~55瓦。開(kāi)關(guān)MOSFET主要採(cǎi)用SO-8和QFN 3×3封裝。電視、機(jī)上盒或平板電腦等消費(fèi)性電子的應(yīng)用,功耗要求為7~15瓦。
對(duì)于中等功率範(fàn)圍而言,目前可用QFN 3×3、QFN 2×2或SOT457等具有更小封裝的小訊號(hào)MOSFET來(lái)替代SO-8。為達(dá)到所需的電流漣波,須仔細(xì)選擇用于降壓轉(zhuǎn)換器的電感值。電流漣波更大,則輸出電壓漣波也更大;漣波增加,則電感更小、輸入電壓更高,若開(kāi)關(guān)頻率降低,則將進(jìn)一步增大。
ΔIL可由下列公式13算出:
ΔIL=VIN/L×ton=VOUT/L×toff.。。(13)
其中,T=ton+toff=1/f
得到公式14:
ΔIL=(VOUT/L)×(1–VOUT/VIN)×1/f.。。(14)
此時(shí)表示L=(VOUT/ΔIL)×(1–VOUT/VIN)×1/f。在極端情況下,電路會(huì)以連續(xù)模式的極限運(yùn)行,電流在再次增大之前會(huì)完全降為零,可得出公式15: ΔIL=2×I(均值)。。。。。。(15)
代換ΔIL后,L=VOUT×(1–VOUT/VIN)/2×I(均值)×f
實(shí)際上,漣波電流ΔIL一般約為最大電流的30%,輸出電壓的漣波不僅取決于電感和ΔIL,還與輸出電容的電容值有關(guān),電容愈大,漣波愈小。圖8為流入電容的電流波形圖,無(wú)損耗電容的計(jì)算方式如公式16:
圖8 電容電流與時(shí)間的關(guān)係示意圖
。。。。。。(16)
對(duì)于t0至t1,IC=ΔIL/ton×t;對(duì)于t1至t2,IC=ΔIL/toff×t。
電容漣波電壓如公式17所示:
。。。。。。(17)
當(dāng)T=ton+toff=1/f時(shí),可進(jìn)一步得出公式18:
VC_ripple=ΔIL/(C×8×f)。。。。。。(18)
此外,實(shí)際電容須考慮等效串聯(lián)電阻(ESR),因此可得出公式19:
VC_ripple=ΔIL×(ESR+1(8×F×Cout))?(19)
做為開(kāi)關(guān)的MOSFET則須考慮兩個(gè)損耗過(guò)程,一個(gè)是歐姆損耗,由剩余導(dǎo)通電阻RDSon造成;第二個(gè)損耗產(chǎn)生于開(kāi)關(guān)瞬變。由于MOSFET并非理想的電源開(kāi)關(guān),從關(guān)閉到開(kāi)啟狀態(tài)(或開(kāi)啟到關(guān)閉)仍存有短暫的導(dǎo)通時(shí)間。
RDSon損耗也稱I2R損耗,可通過(guò)公式20計(jì)算(lout表示RMS值):
。。。。。。(20)
其工作週期為D=ton/T,項(xiàng)數(shù)1+δ包含與MOSFET的RDSon有關(guān)的溫度。δ典型值為δ=(0.005/℃)×(Tj–25℃)
低端開(kāi)關(guān)則與其相似,由于當(dāng)高端開(kāi)關(guān)關(guān)閉時(shí),同步MOSFET接通,因此I2R損耗可由公式21計(jì)算:
。。。。。。(21)
汲極電流/電壓影響MOSFET開(kāi)關(guān)性能
至于轉(zhuǎn)變損耗,僅高端開(kāi)關(guān)受此機(jī)制影響,塬因在于所採(cǎi)用的續(xù)流二極體(圖8中的D1)已接通,它將同步MOSFET上的電壓降至較小的正向電壓VF,若電路不含續(xù)流二極體,則情形有所不同。MOSFET的RDSon損耗須計(jì)入本體二極體的損耗,若不使用續(xù)流蕭特基二極體,則效率通常受較高的VF和本體二極體反向恢復(fù)時(shí)間的影響。
圖9表示MOSFET開(kāi)關(guān)性能的測(cè)試電路,包含閘極至源極CGS、汲極至閘極CDG的寄生電容。電流源IG為控制閘極,在源極另一個(gè)電流源與一個(gè)續(xù)流二極體并聯(lián),隨后連接VSS,只要MOSFET為關(guān)閉狀態(tài),電流便流經(jīng)該二極體。導(dǎo)通過(guò)程中,若電流源IG打開(kāi),CGS的電壓線性上升,直至達(dá)到閘極-源極閾值電壓VGS(th)。此時(shí)開(kāi)始有汲極電流通過(guò),表示MOSFET在t0階段依然處于關(guān)閉狀態(tài)。
圖9 MOSFET開(kāi)關(guān)性能測(cè)試塬理圖
汲極電流在t1階段上升。同時(shí)閘極電壓上升,直至達(dá)到VGS(pl)。VGS(pl)通常稱為MOSFET的臺(tái)階電壓。它在資料手冊(cè)中一般不會(huì)明確提及,但可由塬理圖中的閘極電荷與閘極-源極電壓衍生出來(lái),在詳細(xì)資料手冊(cè)中可找到。t0和t1階段過(guò)后,電荷為Q0=Vpl×(CGS+CDS)。
在下一個(gè)t2階段,汲極電壓下降,閘極-源極電壓VGS保持恆定,為VGS(pl)。電荷Q1以相反方向?qū)DS充電,Q1=VSS ×CDS。CDS有別于雙極電晶體,它與米勒電容類似,且對(duì)MOSFET的開(kāi)關(guān)性能有巨大影響。在t3階段閘極電壓再次增大,直到達(dá)到所需的最大閘極電壓,此時(shí)電流源被截流。FET的RDSon進(jìn)一步降低。閘極驅(qū)動(dòng)器提供額外的電荷Q2如公式22所示:
Q2=(VGS(t4)–VGS(pl))×(CGS+CDS)。。。(22)
總電荷則為QG=Q0+Q1+Q2,對(duì)功率MOSFET而言,該電荷可輕易超過(guò)100nC,計(jì)算方式如公式23:
IG=QG/ts.。。。。。(23)
由此可見(jiàn),閘極電流可經(jīng)計(jì)算達(dá)到開(kāi)關(guān)時(shí)間ts,若須較短的轉(zhuǎn)換時(shí)間,就要使用強(qiáng)大的驅(qū)動(dòng)器控制MOSFET,以保持較低的開(kāi)關(guān)損耗。在t1階段,MOSFET具有完全的輸入電壓,此時(shí)汲極電流增加;在下一個(gè)t2階段,ID定而汲極-源極電壓VDS下降,主要開(kāi)關(guān)損耗均產(chǎn)生于這兩個(gè)開(kāi)關(guān)階段;而t3階段損耗極小,可忽略,RDSon下降到最小值,此時(shí)達(dá)到最終VGS電壓。
開(kāi)啟時(shí)的開(kāi)關(guān)損耗發(fā)生于t1和t2階段,最主要損耗發(fā)生在t2,此時(shí)MOSFET的閘極電壓保持在臺(tái)階電壓V(pl)。損耗可由公式24計(jì)算:
PSW(on)=VIN×I/2×(t3+t1)×1/T?(24)
轉(zhuǎn)換器的開(kāi)關(guān)頻率為fSW=1/T,MOSFET的關(guān)斷特性與開(kāi)啟時(shí)類似??傞_(kāi)關(guān)損耗可由公式25計(jì)算:
PSW=VIN×1/T×(Imin/2×ton+Imax/ 2×toff)。。。。。。(25)
開(kāi)關(guān)時(shí)間將取決于驅(qū)動(dòng)器的電流驅(qū)動(dòng)能力和MOSFET的閘極電阻,假設(shè)開(kāi)啟和關(guān)斷時(shí)的驅(qū)動(dòng)電流相等,則開(kāi)關(guān)時(shí)間為tSW=QG/Idrive
LTC3851 tSW可由公式26估算:
tSW=QG×Rdrive/(Vdrive–VGS(th))。。。(26)
控制器的Rdrive約為2歐姆,與其有關(guān)的電壓是驅(qū)動(dòng)器電壓INTVCC–V(th)。
小訊號(hào)MOSFET轉(zhuǎn)換/散熱效率俱優(yōu)
顯而易見(jiàn),小訊號(hào)MOSFET適合中等功率DC-DC轉(zhuǎn)換,若閘極-源極電壓為4.5伏特,可提供15毫歐姆的RDSon,對(duì)SOT457元件而言,這是非常小的電阻,可提供更優(yōu)異的電源轉(zhuǎn)換效率,再加上採(cǎi)用銅片引線框架,讓封裝尺寸縮小,亦可具有良好散熱性能。
圖10是一張熱成像照片,說(shuō)明此一參考設(shè)計(jì)的DC-DC轉(zhuǎn)換器PCB的輸出電流為6安培,并將電壓從10伏特降為1.5伏特,由于工作週期低至0.15,低端開(kāi)關(guān)比高端開(kāi)關(guān)散發(fā)更大的熱量;而該元件的溫度約為80℃,可推斷結(jié)點(diǎn)溫度Tj通常比封裝表面高5?10℃,故本測(cè)試中,Tj低于90℃。
圖10 內(nèi)建DC-DC轉(zhuǎn)換器的PCB熱成像照片
高效率中等功率DC-DC轉(zhuǎn)換器可採(cǎi)用小訊號(hào)MOSFET設(shè)計(jì),P通道MOSFET作為高端開(kāi)關(guān),與蕭特基二極體共同組成簡(jiǎn)單轉(zhuǎn)換器,其中,蕭特基二極體須具低正向電壓,採(cǎi)用緊湊型扁平功率封裝,若還須進(jìn)一步提升效率,則要改採(cǎi)同步DC-DC轉(zhuǎn)換器。