21ic訊 凌華科技于2012年推出的測(cè)量測(cè)試新品─高速數(shù)字化儀PXIe-9848，入圍美國電子設(shè)備權(quán)威媒體《Test & Measurement World》2013年最佳測(cè)試產(chǎn)品獎(jiǎng)(The Best in Test Product Awards)。該獎(jiǎng)項(xiàng)為全球電子測(cè)試與測(cè)量測(cè)試產(chǎn)業(yè)中享有極高評(píng)價(jià)的榮譽(yù)之一，參選者需經(jīng)過各專家或編輯嚴(yán)格的評(píng)選與反復(fù)討論，并符合重要和創(chuàng)新兩大特性才能有入圍的資格。來自世界各地的產(chǎn)品提報(bào)中，最終只有約70個(gè)產(chǎn)品入圍，競(jìng)爭(zhēng)十分激烈。

“我們很榮幸能在這么多的精英產(chǎn)品中脫穎而出，凌華科技高速數(shù)字化儀PXIe-9848以其極致的表現(xiàn)被認(rèn)定為全球最佳測(cè)試產(chǎn)品之一。PXIe-9848不僅能滿足客戶對(duì)于復(fù)雜質(zhì)量測(cè)試參數(shù)設(shè)置與測(cè)試的需求，甚至超越原本的期待：包含上升時(shí)間(rise time)、過沖(overshoot)、開機(jī)延遲時(shí)間(turn-on delay)等，提供給客戶兼具成本效益與功能優(yōu)化的解決方案。”凌華科技量測(cè)與自動(dòng)化產(chǎn)品事業(yè)處總監(jiān)吳幼倩表示。

凌華科技PXIe-9848是針對(duì)電源質(zhì)量檢測(cè)而量身訂做的高速多通道PXI Express接口數(shù)字化儀，具備高達(dá)8通道、14位分辨率與100 MS/s的采樣率，兼具高動(dòng)態(tài)范圍性能、高速高精度與高密度等產(chǎn)品特色，是目前市面上同類型8通道數(shù)字化儀產(chǎn)品中，擁有最佳性能表現(xiàn)的一款數(shù)字化儀。PXIe-9848基于PXI Express的設(shè)計(jì)架構(gòu)，可支持多模塊同步采樣功能，模塊內(nèi)置高達(dá)512MB內(nèi)存;另支持100 MHz高帶寬傳輸，可順暢地同步處理8個(gè)通道的信號(hào)采樣。其多通道設(shè)計(jì)，可大幅節(jié)省產(chǎn)線檢測(cè)的時(shí)間成本，提升檢測(cè)效率，是電源質(zhì)量檢測(cè)、激光雷達(dá)(LiDAR)以及雷達(dá)信號(hào)采集等相關(guān)應(yīng)用的理想選擇。

“自1991年以來，我們每年皆評(píng)選出年度最佳測(cè)試獎(jiǎng)。”美國《Test & Measurement World》雜志主編Janine Love說，“今年有更多杰出的創(chuàng)新產(chǎn)品與服務(wù)參與評(píng)選，也期待我們的讀者能肯定這些票選出來的產(chǎn)品，發(fā)現(xiàn)這些產(chǎn)品如評(píng)選的結(jié)果一樣優(yōu)秀。”

最佳測(cè)試產(chǎn)品獎(jiǎng)(The Best in Test Product Awards)旨在表彰對(duì)測(cè)量測(cè)試產(chǎn)業(yè)做出特別重大貢獻(xiàn)的創(chuàng)新產(chǎn)品，每年會(huì)從入圍最佳測(cè)試獎(jiǎng)的名單中選出一項(xiàng)產(chǎn)品，頒發(fā)“年度最佳測(cè)試產(chǎn)品獎(jiǎng)”。《Test & Measurement World》雜志編輯從眾多提名者中評(píng)選出入圍名單，然后邀請(qǐng)?jiān)撾s志具有工程背景的讀者，以網(wǎng)絡(luò)投票方式票選出優(yōu)勝者，最后將讀者及編輯人員得票數(shù)合并計(jì)算，以確定年度“最佳測(cè)試獎(jiǎng)”的得主。

《Test & Measurement World》目前開放讀者在線投票，網(wǎng)絡(luò)票選時(shí)間至2012年12月31日結(jié)束。凌華科技PXIe-9848產(chǎn)品則列于網(wǎng)絡(luò)投票頁面中的“數(shù)據(jù)采集分類項(xiàng)目”(Data Acquisition category )，以及于其他類別(other categories)中：http://www.tmworld.com/electronics-blogs/other/4402436/Cast-your-vote-for-Best-in-Test- .

2013年最佳測(cè)試大獎(jiǎng)?lì)C獎(jiǎng)典禮將于1月31日將宣布各獎(jiǎng)項(xiàng)得主。頒獎(jiǎng)典禮結(jié)合“2013設(shè)計(jì)年會(huì)”( DesignCon 2013)于美國加利福尼亞州的圣克拉拉，Santa Clara會(huì)議中心劇院一同舉行。