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[導(dǎo)讀] 提高精度已成為最早期矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)測量的目標(biāo)。通過校準(zhǔn)和矢量誤差校正技術(shù),可以將VNA精度從儀器端口擴展到測試電纜的端點。當(dāng)待測器件(DUT)直接連接到測試端口電纜時,校準(zhǔn)面和測量面是同

提高精度已成為最早期矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)測量的目標(biāo)。通過校準(zhǔn)和矢量誤差校正技術(shù),可以將VNA精度從儀器端口擴展到測試電纜的端點。當(dāng)待測器件(DUT)直接連接到測試端口電纜時,校準(zhǔn)面和測量面是同一平面。在這種情況下,校準(zhǔn)和誤差校正是直截了當(dāng)?shù)倪^程,其涉及機械或電子同軸校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)。然而,對引腳貼裝或表面貼裝封裝的DUT而言,必須使用測試設(shè)備,而目前同軸校準(zhǔn)平面和測量平面是分開的,并需要額外的誤差校正技術(shù)來達(dá)到高測量精度。這些方法經(jīng)常采用裝置的建模響應(yīng),來有效地將校正平面移至DUT的端口。部分工程師則選擇采取最小影響的測試設(shè)備,并僅僅測量DUT和設(shè)備的總響應(yīng)。本文討論了兩種基于模型的校正,其增加了測量精度,并不再需要忽略由測試設(shè)備引入的測量誤差。

直接測量涉及到測量的物理校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)以及計算誤差項。這種方法提供了高精度,這主要是基于校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)精確特性的程度是已知的。多年來已有很多有關(guān)各種直接測量校準(zhǔn)技術(shù)的文章。所有詳細(xì)內(nèi)容可以在安捷倫應(yīng)用筆記1287-3和1287-11中閱讀到。1-3基于模型的校準(zhǔn)采用了從網(wǎng)絡(luò)響應(yīng)建模中推導(dǎo)出的數(shù)學(xué)校正。該建模響應(yīng)可能來自仿真結(jié)果或理論性行為,但往往是從實際測量得出的。通常,測量和建模的結(jié)合有助于實現(xiàn)最高質(zhì)量的結(jié)果。

如圖1所示的端口擴展是最簡單的建模技術(shù)。它依賴于簡單的測試設(shè)備延遲(并且,在某些情況下,有衰減的)模型。去嵌入采用設(shè)備的完整S參數(shù)模型。這兩種技術(shù)不再需要建立精確的設(shè)備內(nèi)部校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn),這是難以實現(xiàn)地(特別是對負(fù)載標(biāo)準(zhǔn)),并花費了很多時間和精力。

測試設(shè)備的差別很大,這取決于應(yīng)用和成本。同時,在制造業(yè)中所使用的測試設(shè)備是嚴(yán)格的,并且往往價格昂貴,特別是印制電路板(PCB)設(shè)備在研究和開發(fā)(R&D)實驗室中是共同的。其相對便宜并易于制作,盡管對頻率超過3GHz的信號損失不能被忽略。目前無線應(yīng)用中的許多器件必須在高達(dá)13GHz的頻率進(jìn)行測試。因此,減少或消除裝置的損耗和延誤是必要的,這使得DUT的真實特性得以獲得分析。

所以,當(dāng)在裝置中測量器件時,將PCB板上的軌跡認(rèn)為是網(wǎng)絡(luò)分析儀和DUT之間同軸測試電纜的擴展。通過實現(xiàn)每部分設(shè)備上的端口擴展,將測量平面擴展到超出同軸校準(zhǔn)平面的右側(cè),達(dá)到DUT的端口。當(dāng)設(shè)備連接器和DUT之間的損耗和電長度已知時,可以通過在售的大部分VNA人工將其減去。

許多測試設(shè)備采用了具有SMA連接器的PCB測試設(shè)備(圖2)。測試設(shè)備/VNA的組合可以在SMA連接器平面進(jìn)行校準(zhǔn)。但是,當(dāng)測試設(shè)備用于測量電路板貼裝器件時,PCB測試設(shè)備的電氣特性可能改變DUT的測量幅度和相位。端口擴展用于增加線性相位(連續(xù)延遲),以及轉(zhuǎn)移參考平面到DUT平面的同軸誤差校正陣列的損耗與頻率項。

當(dāng)測試設(shè)備的延遲和損耗未知時,必須在采用端口擴展之前對其進(jìn)行測量。安捷倫科技已開發(fā)出自動化方法,并將其集成到PNA系列VNA中。安捷倫的自動端口擴展(APE)使用簡單的開路或短路測量提供了簡便的方法來計算測試設(shè)備的損失和延遲。采用最適合的直線模型來計算電延遲。采用兩種方法之一來計算損耗項,這依靠用于傳輸線的媒介。損耗模型被假設(shè)是同軸或介質(zhì)。同軸和介電模型都提供了可變的損耗與頻率的關(guān)系,其不是簡單的直線。當(dāng)在PCB上建立測試設(shè)備時,要采用介電模型。

APE算法測量開路或短路,并計算測試設(shè)備所測試部分的插入損耗和電延遲。這一步對測試設(shè)備的每個部分重復(fù)進(jìn)行。這一步之后,只有測試設(shè)備失配仍然是誤差來源。失配誤差的主要來源是從同軸線纜到微帶線的過渡,這發(fā)生在每個測試設(shè)備端口的連接器處。該失配不能通過同軸校準(zhǔn)來去除,這是因為其出現(xiàn)在同軸校準(zhǔn)平面之后。

可以通過在過渡處采用良好質(zhì)量的邊緣突出的連接器減小反射來提高測量精度,并在測試設(shè)備中具有良好的50歐姆傳輸線。港口擴展技術(shù)提供了良好的效果,并具有中等水平的精度。盡管并不和使用高質(zhì)量設(shè)備內(nèi)部校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)一樣精確,它仍是迄今為止較為容易在設(shè)備內(nèi)部測試器件的方法,并為多種應(yīng)用提供了足夠的精度。

APE技術(shù)采用了曲線擬合過程來計算低階損耗和相位響應(yīng)。同時,該算法容許失配紋波,其不會去除紋波本身。大多數(shù)情況下,只需一個高反射標(biāo)準(zhǔn)來精確計算損耗和延誤響應(yīng)。只用一個高反射標(biāo)準(zhǔn)來要求測量的頻率范圍足夠?qū)?,以便反射測量中的紋波通過至少有一個完整周期。在這種情況下,可以使用最方便的標(biāo)準(zhǔn),這往往是開路的。采用兩個標(biāo)準(zhǔn)對寬帶測量而言差別不大,這是由于當(dāng)使用開路或短路時,紋波中出現(xiàn)的標(biāo)準(zhǔn)或經(jīng)過計算的損耗是一樣的。使用兩個標(biāo)準(zhǔn)來提高窄帶測量的精度,其中并不會出現(xiàn)完整的紋波周期。圖3中所示的更低軌跡的表示了在采用APE之前,測試設(shè)備的一部分響應(yīng)。上面的軌跡表明了在采用APE后的響應(yīng)。損耗補償可能以0dB誤差為中心(棕色軌跡),或?qū)⒓y波峰值保持在0dB以下(藍(lán)色軌跡)。

圖4表示了平衡到不平衡5.5GHz無線本地網(wǎng)(WLAN)濾波器測試到10GHz的響應(yīng)。表示了在自動端口擴展工具欄內(nèi),測試設(shè)備之一的端口延遲和損耗項。該值由安捷倫PNA網(wǎng)絡(luò)分析儀自動計算。下面的兩個軌跡表示了沒有端口擴展的DUT測量。沒有端口擴展,測量包括了DUT和測試設(shè)備。失真響應(yīng)是由于沒有相位補償(尤其重要的是對平衡端口),并沒有對PCB上該傳輸線的損耗進(jìn)行補償。具有端口擴展,嚴(yán)重誤差由于測試設(shè)備被去除,并為WLAN濾波器的實際性能提供了相當(dāng)高的精度。

測試設(shè)備去嵌入是更為嚴(yán)格的建模技術(shù)。該過程一開始就建立DUT所使用的測試設(shè)備的模型。模型的精度直接影響去嵌入測量的精度。去嵌入被用于消除測試設(shè)備、適配器和探頭的不良影響。替代簡單地減去電長度和插入損耗,去嵌入使用經(jīng)過建模的響應(yīng)來作為頻率的函數(shù),并采用數(shù)學(xué)從測量中去除測試設(shè)備的影響。不同于端口擴展,去嵌入去除了同軸線到微帶線過渡的失配影響。測試設(shè)備電路的S參數(shù)存儲在一個.s2p文件格式中。

創(chuàng)建測試設(shè)備.s2p模型的最簡單方式就是采用測量探頭,其可以與該測試設(shè)備中傳輸線的DUT端點實現(xiàn)接口(圖5)。這種情況下,用戶在測試設(shè)備一側(cè)實現(xiàn)了一個使用同軸標(biāo)準(zhǔn)的未知的通過校準(zhǔn),并使用了測試設(shè)備另一側(cè)的探頭阻抗標(biāo)準(zhǔn)基板(ISS)。測試設(shè)備的傳輸線是未知的路徑。經(jīng)過校準(zhǔn)后,測試設(shè)備只被簡單測量,并未移動探頭或同軸線纜。測量過程對測試設(shè)備的每個部分反復(fù)進(jìn)行,使用與第一個設(shè)備相同的校準(zhǔn)。為了用探頭來測量傳輸線端點,接地平面必須放在與測試探頭的節(jié)距間有正確間距的測試設(shè)備上。

替代探測測試設(shè)備的方法就是使用一項技術(shù),其實現(xiàn)了兩個單端口校準(zhǔn)。這項技術(shù)假設(shè)測試設(shè)備部分是可互換的(即,S21=S12),總是如此。第一個單端口校準(zhǔn)是在同軸連接器的端點,采用同軸標(biāo)準(zhǔn)實現(xiàn)。第二個單端口校準(zhǔn)是在放置DUT的地方,使用設(shè)施設(shè)備內(nèi)部的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)。安捷倫PNA和ENA網(wǎng)絡(luò)分析儀都提供了宏來提取測試設(shè)備部分的.s2p數(shù)據(jù),其使用兩套單端口校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。盡管這一方法具有優(yōu)勢,并不需要探針,但為了實現(xiàn)單端口測試設(shè)備內(nèi)的校準(zhǔn),要求產(chǎn)生制作測試設(shè)備內(nèi)的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)及其特性。

如果測試設(shè)備的直接測量是不切實際的,那么可以實現(xiàn)仿真來確定測試設(shè)備部分的S參數(shù)行為。對基于這一技術(shù)的精確數(shù)據(jù)而言,PCB材料良好的損耗模型和精確的軌跡尺寸是必需的。

測試設(shè)備去嵌入準(zhǔn)確的反面是測試設(shè)備嵌入。如果網(wǎng)絡(luò)可以從測量中精確減去,其可以很容易地被添加到測量中也是合理的。VNA在50歐姆單端環(huán)境中匹配來實現(xiàn)S參數(shù)。當(dāng)測量設(shè)備不符合這一類別時,需要對該數(shù)據(jù)進(jìn)行進(jìn)一步處理。許多這些軟件設(shè)備工具被內(nèi)建到安捷倫科技的PNA和ENA矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀中。對于非50歐姆的設(shè)備,有可能重述S參數(shù)數(shù)據(jù),以便它看起來像使用VNA阻抗測量DUT,而非50歐姆。也有可能嵌入虛擬阻抗匹配電路,這往往需要例如聲表面波(SAW)濾波器等設(shè)備,而不必真向測試設(shè)備中增加電感和電容。可以對設(shè)備計算混合模式(微分,共同和交叉模式)S參數(shù),至少有一個平衡端口。圖6表示了部分常見的阻抗匹配網(wǎng)絡(luò)內(nèi)建到用于這一目的的VNA中。

對具有平衡端口的設(shè)備,4端口去嵌入允許測試端口之間的串?dāng)_仿真(圖7)。盡管當(dāng)使用同軸線纜時,串?dāng)_是微不足道的,但當(dāng)測試設(shè)備或探頭用于測量時有可能變得顯著。使用兩個二端口.s2p文件將比使用單一的四端口文件提供不同的測量結(jié)果,這是因為串?dāng)_項也不會包括在兩端口文件內(nèi)。

端口擴展及去嵌入是很重要的工具,應(yīng)該被增加到每位工程師的測量工具包中,以獲得最準(zhǔn)確的結(jié)果。PNA的自動端口擴展功能通過所要求的測量利用指導(dǎo)用戶憑借推斷來安裝。遇到實際情況,建議采用測試設(shè)備去嵌入來獲得最準(zhǔn)確的測量結(jié)果。PNA的校準(zhǔn)向?qū)Ш苋菀椎夭捎靡徊讲降囊龑?dǎo)過程實現(xiàn)了探針去嵌入完整的校準(zhǔn)步驟。

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