EMI測(cè)試挑戰(zhàn)

? EMI 診斷是件痛苦的工作. 工程師需要找到噪聲源的根本原因來解決它.

? 診斷處理由改變器件來解決,

? 切割PCB線& 重連直到找到噪聲源.

? 難以定位模擬和/或數(shù)字信號(hào)的哪個(gè)點(diǎn).

? 當(dāng)設(shè)備發(fā)射RF功率時(shí)，RF反而影響電路，可能明顯改變EMI信號(hào)

? 難以捕捉異常的EMI突發(fā).

? 需要實(shí)時(shí)SA具有長(zhǎng)時(shí)間的采集.

? 大多數(shù)頻譜儀不是實(shí)時(shí)的.

? 大多數(shù)實(shí)時(shí)頻譜是昂貴的，不方便

EMI測(cè)試流程

EMC標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)項(xiàng)目及內(nèi)容

泰克產(chǎn)品方案