摘要：在此介紹了一種以DDS芯片AD9912作為信號(hào)源的高頻石英晶體測試系統(tǒng)。AD9912是一款直接數(shù)字頻率合成芯片。一方面，AD9912內(nèi)部時(shí)鐘速度可高迭1 GSPS，并集成了14位數(shù)／模轉(zhuǎn)換器，可以直接輸出400 MHz信號(hào)，另一方面，AD9912的頻率控制字為48位，可以小于4 μHz的分辨率輸出信號(hào)。由于采用了DDS芯片AD9912作為信號(hào)源，所設(shè)計(jì)的石英晶體測試系統(tǒng)能夠在20kHz～400 MHz范圍內(nèi)測試石英晶體的串聯(lián)諧振頻率。與國內(nèi)目前普遍使用的基于振蕩器和阻抗計(jì)測試方法的測試儀相比，該測試系統(tǒng)具有測試頻率范圍寬、重復(fù)精度高等優(yōu)點(diǎn)。
關(guān)鍵詞：石莢晶體；串聯(lián)諧振頻率；π網(wǎng)絡(luò)零相位法；DDS AD9912

0 引言
    石英晶體諧振器(以下簡稱石英晶體)廣泛用作時(shí)間頻率基準(zhǔn)和為時(shí)序邏輯電路提供同步脈沖。石英晶體的測試方法主要有阻抗計(jì)法、π網(wǎng)絡(luò)最大傳輸法、π網(wǎng)絡(luò)零相位法，其中π網(wǎng)絡(luò)零相位法是國際電工委員會(huì)(IEC)推薦的標(biāo)準(zhǔn)方法。π網(wǎng)絡(luò)零相位法石英晶體測試設(shè)備在發(fā)達(dá)國家已廣泛使用。典型儀器是美國S&A公司生產(chǎn)的250B零相位測試系統(tǒng)，其測試頻率范圍為0．5～200 MHz，串聯(lián)諧振頻率測試精度±2 ppm。阻抗計(jì)型石英晶體測試設(shè)備在中國仍然占主導(dǎo)地位。阻抗計(jì)型石英晶體測試設(shè)備具有制造成本較低，操作簡單的特點(diǎn)。但其串聯(lián)諧振頻率測量范圍較小，測量精度較低。因此，研制寬范圍、高精度的石英晶體頻率測試系統(tǒng)，具有服務(wù)生產(chǎn)的實(shí)際意義。
    π網(wǎng)絡(luò)零相位法石英晶體測試系統(tǒng)所能測量的頻率范圍和精度直接依賴于π網(wǎng)絡(luò)的掃頻信號(hào)源，為了使石英晶體測試系統(tǒng)的測量范圍達(dá)到20 kHz～400 MHz，需要研究設(shè)計(jì)一個(gè)信號(hào)源，該信號(hào)源的輸出頻率范圍為0～400 MHz，并且輸出頻率精度高、穩(wěn)定度高、頻率分辨率高、頻率切換速度快。

1 π網(wǎng)絡(luò)零相位法高頻石英晶體測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)
1．1 石英晶體電參數(shù)等效模型
    石英晶體具有壓電效應(yīng)，當(dāng)外加交變電場的頻率等于其固有頻率時(shí)，石英晶體將產(chǎn)生機(jī)械諧振，該機(jī)械振動(dòng)通過壓電效應(yīng)與振蕩電路相耦合產(chǎn)生電諧振，這種情況下石英晶體可以等效為圖1所示的RLC諧振電路。其中，C0是靜電容，L1為動(dòng)態(tài)電感，Rr是串聯(lián)諧振電阻，C1為動(dòng)態(tài)電容。

1．2 π網(wǎng)絡(luò)零相位法石英晶體頻率測試原理
    IEC推薦的π網(wǎng)絡(luò)模型如圖2所示，π網(wǎng)絡(luò)由對(duì)稱的雙π型回路組成，R1，R2和R3構(gòu)成輸入衰減器，R4，R5和R6構(gòu)成輸出衰減器，它們的作用是使π網(wǎng)絡(luò)的阻抗與測量儀表的阻抗相匹配，并衰減來自測量儀器的反射信號(hào)。Y為被測石英晶體。VA為π網(wǎng)絡(luò)輸入信號(hào)，VB為π網(wǎng)絡(luò)輸出信號(hào)，實(shí)際測量對(duì)，不斷改變輸入信號(hào)的頻率，測量輸入信號(hào)和輸出信號(hào)的相位差，當(dāng)石英晶體處在諧振狀態(tài)時(shí)，整個(gè)π網(wǎng)絡(luò)呈純電阻性，輸入信號(hào)和輸出信號(hào)之間相位差為零。因此，π網(wǎng)絡(luò)零相位法可通過檢測π網(wǎng)絡(luò)兩端信號(hào)的相位差是否為零來判斷待測石英晶體是否諧振，從而測出石英晶體的串聯(lián)諧振頻率。當(dāng)π網(wǎng)絡(luò)兩端信號(hào)的相位差為零時(shí)，石英晶體處在諧振狀態(tài)，石英晶體串聯(lián)諧振頻率等于π網(wǎng)絡(luò)輸入信號(hào)頻率。
1．3 測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)
    本系統(tǒng)基于霄網(wǎng)絡(luò)零相位法設(shè)計(jì)而成，由DDS電路、π網(wǎng)絡(luò)電路、鑒相電路、模擬信號(hào)處理電路、串口電路、LCD電路、觸摸屏電路、鍵盤電路、512 MB NANDFLASH存儲(chǔ)器電路等組成。圖3是晶體頻率測試系統(tǒng)原理框圖。

    高頻石英晶體測試系統(tǒng)以一款A(yù)RM芯片STM32F103作為核心單元。STM32F103內(nèi)核為32 b的Cortex-M3 CFU，最高可達(dá)72 MHz工作頻率。STM 32F103通過內(nèi)置高速SPI總線與DDS芯片AD9912相連，控制AD9912輸出掃頻信號(hào)。
    當(dāng)被測晶體放入π網(wǎng)絡(luò)電路后，在不同的掃頻信號(hào)作用下，π網(wǎng)絡(luò)兩端輸入和輸出信號(hào)的相位差不同。π網(wǎng)絡(luò)兩端的輸入信號(hào)和輸出信號(hào)分別送入鑒相電路，在鑒相電路的輸出端得到與π網(wǎng)絡(luò)兩端輸入和輸出信號(hào)的相位差成正比的電壓信號(hào)。鑒相電路的輸出電壓信號(hào)和輸入信號(hào)相位差之間的關(guān)系如圖4所示。

    鑒相電路的輸出電壓信號(hào)經(jīng)過信號(hào)調(diào)理電路轉(zhuǎn)變?yōu)檫m合于進(jìn)行ADC采集的信號(hào)。信號(hào)通過STM32F103內(nèi)置的12位ADC通道采集到處理器內(nèi)部。測量過程時(shí)，DDS輸出信號(hào)的頻率由小變大，π網(wǎng)絡(luò)兩端輸入信號(hào)和輸出信號(hào)的相位差絕對(duì)值由大變小并逐漸接近于零，之后又由小變大。而ADC采集的結(jié)果則由小變大，到達(dá)最大值后，又由大變小。因此，這個(gè)最大值1．8 V處對(duì)應(yīng)的DDS輸出信號(hào)頻率即為石英晶體的串聯(lián)諧振頻率。

2 DDS技術(shù)在測試系統(tǒng)中的應(yīng)用
2．1 DDS技術(shù)
    DDS有2個(gè)突出的特點(diǎn)，一方面，DDS工作在數(shù)字域，一旦更新頻率控制字，輸出的頻率就相應(yīng)改變，其跳頻速率高；另一方面，由于頻率控制字的范圍寬，頻率分辨率高。與傳統(tǒng)的頻率合成器相比，DDS具有低成本、低功耗、高分辨率和頻率快速轉(zhuǎn)換等優(yōu)點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于電子儀器儀表領(lǐng)域。
    AD9912是ADI公司于2007年新推出的一款DDS芯片，內(nèi)部時(shí)鐘速度可高達(dá)1 GSPS，并集成了14位數(shù)模轉(zhuǎn)換器，因此可以直接輸出400 MHz信號(hào)。AD9912采用48位頻率控制字，輸出頻率分辨率小于4μHz。AD9912兼容多種系統(tǒng)時(shí)鐘輸入方式，石英晶體、晶體振蕩器和外部時(shí)鐘都可以作為其系統(tǒng)時(shí)鐘輸入。由于具有片上系統(tǒng)時(shí)鐘鎖相環(huán)(PLL)，允許系統(tǒng)時(shí)鐘輸入低至25 MHz。
2．2 信號(hào)源硬件設(shè)計(jì)
    筆者選擇ADI公司的AD9912作為信號(hào)源的核心。STM32F103通過內(nèi)置高速SPI總線控制AD9912輸出0～400 MHz的掃頻信號(hào)。AD9912的工作原理如圖5所示。

    AD9912的外圍電路主要由5大模塊組成：電源、時(shí)鐘源、SPI通信接口、啟動(dòng)配置邏輯、輸出信號(hào)處理電路。
    AD9912的電源分為模擬3．3 V、數(shù)字3.3 V、模擬1．8 V和數(shù)字1．8 V四大類。模擬3．3 V和數(shù)字3．3 V經(jīng)過濾波器互相隔離。模擬1．8 V和數(shù)字1．8 V經(jīng)過濾波器互相隔離。AD9912的參考時(shí)鐘選用25 MHz的高性能恒溫石英晶體，AD9912內(nèi)部的PLL電路對(duì)該參考時(shí)鐘進(jìn)行40倍倍頻得到1 000 MHz時(shí)鐘信號(hào)作為AD9912的系統(tǒng)時(shí)鐘。32管腳CLKMODESEL為時(shí)鐘模式選擇管腳，如果使用石英晶體作為系統(tǒng)時(shí)鐘輸入，該管腳應(yīng)該接地，如果使用振蕩器或者外部時(shí)鐘源作為系統(tǒng)時(shí)鐘輸入，該管腳應(yīng)被上拉至1．8 V。由于選用的是石英晶體，該管腳接地。
    SPI通信接口硬件連接如圖6所示。

    啟動(dòng)配置邏輯包含S1，S2，S3，S4四個(gè)管腳。其中S4為邏輯0時(shí)，選擇時(shí)鐘模式：使用石英晶體作為系統(tǒng)時(shí)鐘輸入，并且由AD9912內(nèi)部的PLL電路進(jìn)行倍頻得到時(shí)鐘信號(hào)；S4為邏輯1時(shí)，選擇時(shí)鐘模式：由外部直接輸入時(shí)鐘信號(hào)。因此，把S4設(shè)置為邏輯0。S1、S2和S3的8種不同邏輯組合，用來選擇8組預(yù)置的16位頻率控制字。允許在未配置I／O寄存器的情況下，產(chǎn)生8種頻率不同的信號(hào)。由于本測試系統(tǒng)需要的是掃描信號(hào)，不需要某固定頻率的信號(hào)，因此，把S1，S2和S3設(shè)置為邏輯0，使DDS在啟動(dòng)時(shí)不輸出信號(hào)。
    AD9912的輸出信號(hào)為差分信號(hào)，采用射頻變壓器將差分信號(hào)轉(zhuǎn)換為單端信號(hào)，并經(jīng)過低通濾波電路和功率放大電路后輸入至π網(wǎng)絡(luò)和補(bǔ)償網(wǎng)絡(luò)。AD9912輸出信號(hào)處理電路如圖7所示。其中，DAC_OUT和DAC_OUTB是AD9912輸出的差分信號(hào)。

2．3 信號(hào)源軟件設(shè)計(jì)
    處理器STM32F103控制AD9912輸出頻率信號(hào)，主要是通過SPI向AD9912的寄存器中寫入對(duì)應(yīng)的值。
    由于選用25 MHz的高性能恒溫石英晶體作為參考時(shí)鐘，需要使能系統(tǒng)時(shí)鐘PLL，應(yīng)將寄存器0x0010的第4位設(shè)置為邏輯0。
    寄存器0x01A0～0x01AD為輸出信號(hào)控制字，其中0x01A0～0x01A5為保留寄存器，0x01A6～0x01AB為頻率控制字，0x01AC～0x01AD為相位控制字。
    輸出信號(hào)頻率與頻率控制字關(guān)系為：
    fDDS=(FTW／248)fs      (1)
    式中：fDDS為AD9912輸出信號(hào)頻率；FTW為頻率控制字；fs為AD9912的系統(tǒng)時(shí)鐘頻率。
    由式(1)得到：
    FTW=round[248(fDDS／fs)]      (2)
    例如，當(dāng)fs=1 GHz，fDDS=19．44 MHz，則FTW=5 471 873 547 255(即0x04FA05143BF7)。
    輸出信號(hào)相位與相位控制字關(guān)系為：
    △φ=2П(△phase／214)          (3)
    式中：△φ為AD9912輸出信號(hào)相位；△phase為相位控制字。由于信號(hào)源需要應(yīng)用于高頻石英晶體測試系統(tǒng)中，所以，不能只輸出一個(gè)固定頻率的信號(hào)，必須輸出掃頻信號(hào)。測試之前，通過健盤或觸摸屏輸入待測晶體的標(biāo)稱頻率、起始掃描頻率、終止掃描頻率、掃描步進(jìn)頻率，處理器根據(jù)式(2)算法，由掃描步進(jìn)頻率計(jì)算出掃描步進(jìn)控制字(以下稱為FTWstep)。圖8所示為信號(hào)源應(yīng)用于高頻石英晶體測試系統(tǒng)的軟件流程圖。

3 實(shí)驗(yàn)結(jié)果
    信號(hào)源的精度和穩(wěn)定度直接影響到測試系統(tǒng)測量石英晶體頻率的精度和穩(wěn)定度。因此，使用CNT-90型頻率計(jì)測量本系統(tǒng)信號(hào)源輸出的信號(hào)頻率。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，信號(hào)源輸出信號(hào)頻率的精度高于±0．1 ppm，頻率的穩(wěn)定度高于±0．1ppm，實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)如表1所示。

    表中，f為設(shè)定的頻率值；f為實(shí)際測量的頻率平均值；△f／f為相對(duì)偏差。

4 結(jié)語
    本設(shè)計(jì)成功地把DDS技術(shù)應(yīng)用到高頻石英晶體測試系統(tǒng)中。實(shí)現(xiàn)了基于DDS技術(shù)的寬帶信號(hào)源。該信號(hào)源具有輸出頻率范圍寬、精度高、穩(wěn)定度高、頻率分辨率高，頻率切換速度快的特點(diǎn)，從而滿足了高頻石英晶體測試系統(tǒng)對(duì)信號(hào)源的要求。