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[導(dǎo)讀]摘要:裝備測(cè)試性設(shè)計(jì)的好壞直接影響了它在使用過(guò)程中發(fā)生故障時(shí)的診斷效率,對(duì)裝備質(zhì)量進(jìn)行考核和評(píng)估時(shí),測(cè)試性能指標(biāo)是一個(gè)重要的參數(shù)。分析了幾種測(cè)試性驗(yàn)證評(píng)估方法,選擇使用更合理的超幾何分布驗(yàn)證方法,并使

摘要:裝備測(cè)試性設(shè)計(jì)的好壞直接影響了它在使用過(guò)程中發(fā)生故障時(shí)的診斷效率,對(duì)裝備質(zhì)量進(jìn)行考核和評(píng)估時(shí),測(cè)試性能指標(biāo)是一個(gè)重要的參數(shù)。分析了幾種測(cè)試性驗(yàn)證評(píng)估方法,選擇使用更合理的超幾何分布驗(yàn)證方法,并使用虛擬儀器編程語(yǔ)言LabWindows/CVI進(jìn)行界面設(shè)計(jì)和編程,將這一理論方法應(yīng)用于實(shí)踐,可提高準(zhǔn)確率,縮短時(shí)間,在工程和實(shí)踐中具有很高的使用價(jià)值。
關(guān)鍵詞:測(cè)試性;LabWindows/CVI;驗(yàn)證評(píng)估;故障診斷

0 引言
    測(cè)試性是裝備的一種設(shè)計(jì)特性,測(cè)試性的好壞直接影響了裝備性能的高低以及在使用過(guò)程中發(fā)生故障時(shí)檢測(cè)時(shí)間的長(zhǎng)短。改善測(cè)試性是改進(jìn)電子裝備系統(tǒng)設(shè)計(jì),提高性能,簡(jiǎn)化維修保障工作和提高效費(fèi)比的最有效途徑。在對(duì)裝備質(zhì)量進(jìn)行考核時(shí),測(cè)試性指標(biāo)是很重要的方面。目前,對(duì)測(cè)試性的驗(yàn)證評(píng)估缺乏科學(xué)有效的措施和方法,還沒(méi)有統(tǒng)一的系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)。本文分析現(xiàn)有的測(cè)試性驗(yàn)證評(píng)估方法,使用更加合理的超幾何分布法。該方法不僅需要的樣本量較少,而且準(zhǔn)確率更高,縮短了時(shí)間,是一種更為有效的方法。根據(jù)這一理論方法指導(dǎo),使用更人性化的LabWindows/CVI編程語(yǔ)言,進(jìn)行界面設(shè)計(jì)和編程實(shí)現(xiàn),將其應(yīng)用到工程實(shí)踐中去。

1 測(cè)試性驗(yàn)證及指標(biāo)
1.1 測(cè)試性驗(yàn)證
    測(cè)試性這一術(shù)語(yǔ)是1975年首先由F.Liour等人在《設(shè)備自動(dòng)測(cè)試設(shè)計(jì)》一文提出的,隨后相繼用于診斷電路設(shè)計(jì)及研究等各個(gè)領(lǐng)域。測(cè)試性是指能及時(shí)準(zhǔn)確地確定其狀態(tài)(可工作、不可工作或性能降低)并隔離其內(nèi)部故障的一種設(shè)計(jì)特性。對(duì)裝備戰(zhàn)備完好性、任務(wù)成功性、壽命周期及維修人力具有顯著的影響。在系統(tǒng)研制的不同階段應(yīng)分別實(shí)施測(cè)試性分析、設(shè)計(jì)和驗(yàn)證,保證系統(tǒng)具有所要求的測(cè)試性。由于現(xiàn)有的裝備大部分未展開(kāi)測(cè)試性設(shè)計(jì)及驗(yàn)證,而且設(shè)計(jì)之前也沒(méi)有考慮測(cè)試性問(wèn)題,所以測(cè)試性較差,發(fā)生故障時(shí)所需要的檢測(cè)時(shí)間太長(zhǎng),檢測(cè)準(zhǔn)確率較低。因此,應(yīng)更加注意裝備在研制之前的測(cè)試性設(shè)計(jì),將合適的測(cè)試性設(shè)計(jì)方案應(yīng)用于每個(gè)系統(tǒng)或設(shè)備的初步設(shè)計(jì)中,對(duì)選用的測(cè)試性設(shè)計(jì)方案進(jìn)行定性分析和評(píng)價(jià),保證能達(dá)到所要求的測(cè)試性水平。為確定裝備是否滿足規(guī)定的測(cè)試性要求,需要對(duì)測(cè)試性進(jìn)行驗(yàn)證。檢驗(yàn)其測(cè)試性是否合乎要求,掌握裝備檢查發(fā)現(xiàn)異常的能力、檢測(cè)和隔離故障的能力以及用于預(yù)計(jì)測(cè)試性指標(biāo)模型的有效性等。
1.2 測(cè)試性指標(biāo)
    對(duì)測(cè)試性進(jìn)行驗(yàn)證,要明確驗(yàn)證的要求和內(nèi)容。測(cè)試性定量指標(biāo)主要有故障檢測(cè)率(Fault Detection Rate,F(xiàn)DR)、故障隔離率(Fault Isolation Rate,F(xiàn)IR)和虛警率(False Alarm Rate,F(xiàn)AR)。
    (1)故障檢測(cè)率(FDR):一般定義是在規(guī)定的時(shí)間內(nèi),通過(guò)給定測(cè)點(diǎn)能夠在規(guī)定工作時(shí)間T內(nèi)正確檢測(cè)到故障數(shù)ND與規(guī)定工作時(shí)間T內(nèi)發(fā)生故障總數(shù)NT之比,用百分?jǐn)?shù)表示。數(shù)學(xué)公式為:
  
    (2)故障隔離率(FIR):在規(guī)定時(shí)間內(nèi),通過(guò)電路所提供的測(cè)點(diǎn)能夠在規(guī)定條件下用規(guī)定方法使正確隔離刀小于等于L個(gè)可更換單元的故障數(shù)NL與同一時(shí)間內(nèi)檢測(cè)到的故障數(shù)ND之比,用百分?jǐn)?shù)表示。數(shù)學(xué)公式為:
  
    (3)虛警率(FAR):規(guī)定工作時(shí)間內(nèi),發(fā)生虛警數(shù)NFA與同一時(shí)間內(nèi)的故障檢測(cè)總數(shù)之比,當(dāng)通過(guò)測(cè)點(diǎn)檢測(cè)到被測(cè)單元有故障,而實(shí)際上該單元沒(méi)有發(fā)生故障。數(shù)學(xué)公式為:
  
    式中:NF為真實(shí)故障檢測(cè)數(shù)。由于虛警率的產(chǎn)生因素較多,包括電路本身、環(huán)境因素、人為因素等。所以在進(jìn)行測(cè)試驗(yàn)證時(shí),通常采用故障檢測(cè)率和故障隔離率。

2 幾種驗(yàn)證評(píng)估方法分析
    FDR和FIR是電子裝備測(cè)試性最主要的兩個(gè)指標(biāo),目前國(guó)內(nèi)外普遍采用的指標(biāo)驗(yàn)證方法有兩種:二項(xiàng)分布法和正態(tài)分布法。還有一種超幾何分布法,所需抽樣樣本量小,費(fèi)用低,更加科學(xué)合理。
2.1 二項(xiàng)分布法
    國(guó)軍標(biāo)中采用二項(xiàng)分布法對(duì)FDR和FIR進(jìn)行驗(yàn)證,其數(shù)學(xué)模型為:從樣本總體N中抽取n個(gè)試驗(yàn)樣本,每次抽樣為O~1分布,即或是成功或是失敗,設(shè)成功的概率為q,那么失敗的概率為1-q。在n次抽樣中,成功i次的概率由二項(xiàng)分布來(lái)表達(dá),即:
  
    二項(xiàng)分布法的判別準(zhǔn)則規(guī)定:n次抽樣中允許失敗的次數(shù)不超過(guò)r次,如果試驗(yàn)中實(shí)際失敗的次數(shù)r’≤r,則判為合格,否則判為不合格。
2.2 正態(tài)分布法
    正態(tài)分布法數(shù)學(xué)模型為:根據(jù)拉普拉斯定理,當(dāng)n→∞時(shí),二項(xiàng)分布近似為正態(tài)分布,二項(xiàng)分布P(n,k,p)趨近正態(tài)分布N(np,nq,q),即:
  
    正態(tài)分布法的判別準(zhǔn)則規(guī)定為:若成功率規(guī)定值為qs,對(duì)n個(gè)樣本中失敗的次數(shù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析,正態(tài)分布置信度1-a的成功率單側(cè)置信上、下限為qU,qL,有:
    qs≥qL接收,否則拒收;
    qs≥qU接收,否則拒收。
    試驗(yàn)樣本量n的確定方法有:


  
    式中:Z1-a/2為標(biāo)準(zhǔn)中心正態(tài)分布上側(cè)1-a/2分位點(diǎn);δ為允許偏差,推薦值δ=0.03~O.7,δ=O.01~O.05。
2.3 超幾何分布法
    采用抽樣檢驗(yàn)的方式,依照超幾何分布,在n次抽樣試驗(yàn)中,失敗次數(shù)為r次的概率為:
  
    在n次試驗(yàn)中,失敗次數(shù)不大于r(成功次數(shù)大于等于,n-r次)的概率定義為超幾何分布函數(shù),其數(shù)學(xué)模型為:
  
    當(dāng)樣本總體N足夠大,以至于每抽去一個(gè)樣本對(duì)整個(gè)樣本空間的成功率影響甚微時(shí),不放回抽取可以近似看成有放回抽取,那么超幾何分布可以用二項(xiàng)分布近似,即若N→∞時(shí),有:
  
2.4 三種方法分析
    使用二項(xiàng)分布法的條件:
    (1)樣本總體數(shù)量未知;
    (2)每次抽樣相互獨(dú)立,具有獨(dú)立同分布;
    (3)確定抽樣方案需給定參數(shù)α,β,q0和q1。
    正態(tài)分布法的使用條件:
    (1)樣本總體為未知量;
    (2)樣本量n→∞,該要求在工程上不現(xiàn)實(shí);
    (3)確定樣本量和進(jìn)行判決需給定參數(shù)α,qs。
    超幾何分布法的條件:
    (1)樣本總量N可以比較??;
    (2)需給出參數(shù)α,β,q0和q1。
    分析結(jié)果:超幾何分布法所得試驗(yàn)樣本量小,可以使驗(yàn)證試驗(yàn)更加快速和節(jié)省費(fèi)用。這是因?yàn)榉植伎傮w的確定性,減小了試驗(yàn)的風(fēng)險(xiǎn),在不增加使用方和承制方風(fēng)險(xiǎn)的情況下,采用超幾何分布法可以減少若干樣本量,所以采用超幾何分布法進(jìn)行編程實(shí)現(xiàn)。

3 LabWindows/CVI編程實(shí)現(xiàn)
    通過(guò)上述分析,確定了測(cè)試性驗(yàn)證的方法,使用LabWindows/CVI編程語(yǔ)言,將超幾何分布法進(jìn)行工程實(shí)現(xiàn)。
3.1 語(yǔ)言介紹
    該語(yǔ)言是National Instruments公司(簡(jiǎn)稱NI公司)推出的交互式C語(yǔ)言開(kāi)發(fā)平臺(tái),可以在多種操作系統(tǒng)(Windows98/XP/NT/2000,Mac OS和UNIX)下運(yùn)行,它的特點(diǎn)如下:交互式程序開(kāi)發(fā);功能強(qiáng)大的函數(shù)庫(kù);靈活的程序調(diào)試手段;高效的編程環(huán)境;開(kāi)放式框架結(jié)構(gòu);集成式的開(kāi)發(fā)環(huán)境。這些特點(diǎn)大大增強(qiáng)了該語(yǔ)言的功能,為語(yǔ)言開(kāi)發(fā)人員提供了理想的軟件開(kāi)發(fā)平臺(tái)。作為虛擬儀器軟件開(kāi)發(fā)工具,可將計(jì)算機(jī)資源和儀器硬件有機(jī)地融為一體,有效地使用計(jì)算機(jī)強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力和儀器硬件的測(cè)量控制能力,實(shí)現(xiàn)對(duì)數(shù)據(jù)的顯示、存儲(chǔ)和分析處理。開(kāi)發(fā)者可以利用界面感強(qiáng)的優(yōu)點(diǎn),通過(guò)面板、控件和菜單的設(shè)計(jì)和靈活的編程語(yǔ)言,完成所需功能。目前在國(guó)內(nèi)外已經(jīng)得到了較為廣泛的使用。


3.2 界面創(chuàng)建與編程實(shí)現(xiàn)
    界面設(shè)計(jì)主要包括創(chuàng)建用戶界面、在代碼文件中編寫(xiě)功能程序、運(yùn)行和調(diào)試等。按照要實(shí)現(xiàn)的功能和合理的結(jié)構(gòu)設(shè)置,設(shè)計(jì)出如圖1所示的界面。


    首先,創(chuàng)建用戶界面的過(guò)程。根據(jù)所用的參數(shù)和將要實(shí)現(xiàn)的功能,設(shè)計(jì)出如圖界面,其中包括樣本總量、最低可接受值、設(shè)計(jì)目標(biāo)、使用方風(fēng)險(xiǎn)和承制方風(fēng)險(xiǎn),并且各個(gè)數(shù)值根據(jù)要求設(shè)置,可以修改。其次,屬性修改和路徑匹配。在界面中,用到NUMERIC,TABLE,COMMAND-BUTTON等控件。由于界面有多個(gè)彈出界面,所以應(yīng)對(duì)面板進(jìn)行區(qū)分,例如PANEL1,PANEL2,PANEL3等。調(diào)用時(shí),應(yīng)確認(rèn)調(diào)用的路徑,明確是
在那個(gè)面板中進(jìn)行的。最后,進(jìn)行程序設(shè)計(jì)。在控件設(shè)置完畢后,系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)生成一些代碼,主要的功能程序在源程序中添加即可。下面列舉一些用到的程序語(yǔ)句:


    所實(shí)現(xiàn)的功能就是通過(guò)運(yùn)算,得出抽樣方案,以供選擇使用,然后與實(shí)際操作中得出的結(jié)論相比較,以判斷該裝備的測(cè)試性設(shè)計(jì)得是否合格。

4 結(jié)語(yǔ)
    介紹了裝備測(cè)試性在進(jìn)行質(zhì)量考核時(shí)的重要作用,其測(cè)試性的好壞就是裝備性能的好壞。在進(jìn)行驗(yàn)證評(píng)估時(shí)所參考的測(cè)試性指標(biāo),都是對(duì)測(cè)試性進(jìn)行驗(yàn)證的定量指標(biāo)。分析了驗(yàn)證評(píng)估的幾種方法,通過(guò)比較,得出使用超幾何分布法進(jìn)行驗(yàn)證時(shí)所需樣本量更小,而且準(zhǔn)確率很高。使用虛擬編程語(yǔ)言進(jìn)行界面設(shè)計(jì),使之用于工程實(shí)踐中,為以后的類似工作提供了參考。
 

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