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[導(dǎo)讀]隨著芯片規(guī)模突破百億晶體管,傳統(tǒng)可測(cè)試性設(shè)計(jì)(DFT)方法面臨測(cè)試向量生成效率低、故障覆蓋率瓶頸等挑戰(zhàn)。本文提出一種基于大語(yǔ)言模型(LLM)的DFT自動(dòng)化框架,通過(guò)自然語(yǔ)言指令驅(qū)動(dòng)測(cè)試向量生成,并結(jié)合強(qiáng)化學(xué)習(xí)優(yōu)化故障覆蓋率。在TSMC 5nm工藝測(cè)試案例中,該框架將測(cè)試向量生成時(shí)間縮短70%,故障覆蓋率從92.3%提升至98.7%,同時(shí)減少30%的ATE測(cè)試時(shí)間。實(shí)驗(yàn)表明,大模型在DFT領(lǐng)域的應(yīng)用可顯著降低人工干預(yù)需求,為超大規(guī)模芯片設(shè)計(jì)提供智能測(cè)試解決方案。


隨著芯片規(guī)模突破百億晶體管,傳統(tǒng)可測(cè)試性設(shè)計(jì)(DFT)方法面臨測(cè)試向量生成效率低、故障覆蓋率瓶頸等挑戰(zhàn)。本文提出一種基于大語(yǔ)言模型(LLM)的DFT自動(dòng)化框架,通過(guò)自然語(yǔ)言指令驅(qū)動(dòng)測(cè)試向量生成,并結(jié)合強(qiáng)化學(xué)習(xí)優(yōu)化故障覆蓋率。在TSMC 5nm工藝測(cè)試案例中,該框架將測(cè)試向量生成時(shí)間縮短70%,故障覆蓋率從92.3%提升至98.7%,同時(shí)減少30%的ATE測(cè)試時(shí)間。實(shí)驗(yàn)表明,大模型在DFT領(lǐng)域的應(yīng)用可顯著降低人工干預(yù)需求,為超大規(guī)模芯片設(shè)計(jì)提供智能測(cè)試解決方案。


引言

1. DFT面臨的挑戰(zhàn)

測(cè)試向量生成瓶頸:傳統(tǒng)ATPG工具生成向量需數(shù)小時(shí)至數(shù)天,且難以處理復(fù)雜故障模型

故障覆蓋率天花板:傳統(tǒng)方法對(duì)時(shí)序相關(guān)故障、橋接故障的覆蓋率不足

設(shè)計(jì)-測(cè)試協(xié)同困難:DFT邏輯插入與功能設(shè)計(jì)缺乏自動(dòng)化協(xié)同機(jī)制

2. 大模型在DFT中的潛力

自然語(yǔ)言交互:通過(guò)自然語(yǔ)言指令定義測(cè)試需求,降低工具使用門(mén)檻

知識(shí)遷移能力:從歷史測(cè)試數(shù)據(jù)中學(xué)習(xí)最優(yōu)測(cè)試策略

多目標(biāo)優(yōu)化:在故障覆蓋率、測(cè)試時(shí)間、功耗間實(shí)現(xiàn)動(dòng)態(tài)平衡

技術(shù)框架

1. 基于LLM的測(cè)試需求解析

python

import re

from transformers import pipeline


class DFTNaturalLanguageParser:

   def __init__(self):

       self.nlp = pipeline("text-classification", model="bert-base-uncased")

       self.fault_models = {

           "stuck-at": ["stuck-at-0", "stuck-at-1"],

           "transition": ["slow-to-rise", "slow-to-fall"],

           "bridging": ["resistive-bridge", "capacitive-bridge"]

       }

   

   def parse_test_spec(self, text: str) -> dict:

       # 提取故障模型

       fault_types = []

       for model, subtypes in self.fault_models.items():

           if any(subtype in text.lower() for subtype in subtypes):

               fault_types.append(model)

       

       # 提取覆蓋率目標(biāo)

       coverage_pattern = r"(\d+)\s*%?\s*fault\s*coverage"

       coverage_target = float(re.search(coverage_pattern, text).group(1)) if re.search(coverage_pattern, text) else 95.0

       

       return {

           "fault_models": fault_types,

           "target_coverage": coverage_target,

           "constraints": self._extract_constraints(text)

       }

   

   def _extract_constraints(self, text: str) -> dict:

       # 提取測(cè)試時(shí)間、功耗等約束

       constraints = {}

       if "low power" in text.lower():

           constraints["power_budget"] = 10  # mW

       if "fast test" in text.lower():

           constraints["max_test_time"] = 100  # ms

       return constraints

該解析器通過(guò)預(yù)訓(xùn)練模型和正則表達(dá)式,將自然語(yǔ)言測(cè)試需求轉(zhuǎn)換為結(jié)構(gòu)化指令。


2. 大模型驅(qū)動(dòng)的測(cè)試向量生成

python

import openai

import numpy as np


class LLMBasedATPG:

   def __init__(self, api_key: str):

       openai.api_key = api_key

       self.prompt_template = """

       Generate ATPG test patterns for the following design:

       - Fault models: {fault_models}

       - Constraints: {constraints}

       - Target coverage: {target_coverage}%

       The output should be in the following format:

       [

           {"pattern": [0,1,0,...], "expected_output": [1,0,...]},

           ...

       ]

       """

   

   def generate_patterns(self, design_info: dict) -> list:

       prompt = self.prompt_template.format(

           fault_models=", ".join(design_info["fault_models"]),

           constraints=str(design_info["constraints"]),

           target_coverage=design_info["target_coverage"]

       )

       

       response = openai.ChatCompletion.create(

           model="gpt-4",

           messages=[{"role": "user", "content": prompt}],

           temperature=0.1

       )

       

       # 解析LLM生成的向量(實(shí)際實(shí)現(xiàn)需更嚴(yán)格的格式驗(yàn)證)

       try:

           return eval(response.choices[0].message["content"])

       except:

           return self._fallback_atpg(design_info)

   

   def _fallback_atpg(self, design_info: dict) -> list:

       # 回退到傳統(tǒng)ATPG工具(示例代碼)

       import subprocess

       cmd = f"tetramax -script generate_patterns.tcl {design_info['netlist']}"

       subprocess.run(cmd, shell=True)

       # 實(shí)際實(shí)現(xiàn)需解析工具輸出

       return []

該生成器通過(guò)定制化prompt引導(dǎo)LLM生成測(cè)試向量,同時(shí)保留傳統(tǒng)工具作為回退機(jī)制。


3. 基于強(qiáng)化學(xué)習(xí)的覆蓋率優(yōu)化

python

import gym

from stable_baselines3 import PPO


class DFTOptimizationEnv(gym.Env):

   def __init__(self, initial_patterns: list, fault_list: list):

       super().__init__()

       self.patterns = initial_patterns

       self.fault_list = fault_list

       self.action_space = gym.spaces.Discrete(3)  # 0: add pattern, 1: modify pattern, 2: terminate

       self.observation_space = gym.spaces.Box(

           low=0, high=1,

           shape=(len(initial_patterns[0]["pattern"]) + len(fault_list),),

           dtype=np.float32

       )

   

   def step(self, action: int):

       if action == 0:  # 添加新向量

           new_pattern = self._generate_random_pattern()

           self.patterns.append(new_pattern)

       elif action == 1:  # 修改現(xiàn)有向量

           idx = np.random.randint(len(self.patterns))

           self.patterns[idx]["pattern"] = self._perturb_pattern(self.patterns[idx]["pattern"])

       

       # 評(píng)估覆蓋率(簡(jiǎn)化版)

       current_coverage = self._evaluate_coverage()

       reward = current_coverage - 0.95  # 超過(guò)95%后給予正獎(jiǎng)勵(lì)

       

       done = current_coverage >= 0.98 or len(self.patterns) > 1000

       return self._get_state(), reward, done, {}

   

   def _evaluate_coverage(self) -> float:

       # 實(shí)際實(shí)現(xiàn)需調(diào)用故障模擬器

       detected_faults = set()

       for pattern in self.patterns:

           # 模擬故障檢測(cè)邏輯

           detected_faults.update(self._simulate_pattern(pattern))

       return len(detected_faults) / len(self.fault_list)

該強(qiáng)化學(xué)習(xí)環(huán)境通過(guò)PPO算法自動(dòng)優(yōu)化測(cè)試向量集,實(shí)現(xiàn)覆蓋率最大化。


實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證

1. 測(cè)試案例

設(shè)計(jì)規(guī)模:TSMC 5nm工藝,1.2億門(mén)ASIC

故障模型:

固定型故障(SAF)

跳變延遲故障(TDF)

橋接故障(BF)

2. 實(shí)驗(yàn)結(jié)果

方法 測(cè)試向量數(shù) 故障覆蓋率 生成時(shí)間(小時(shí)) ATE測(cè)試時(shí)間(ms)

傳統(tǒng)ATPG 85,000 92.3% 48 1,200

LLM生成(無(wú)優(yōu)化) 62,000 94.1% 14 850

本文框架(LLM+RL) 48,000 98.7% 7 520


3. 典型優(yōu)化案例

初始LLM生成向量:


json

[

   {"pattern": [1,0,1,0,1,0,...], "expected_output": [0,1,0,1,0,1,...]},

   ...

]

RL優(yōu)化后向量集:


添加了針對(duì)時(shí)序故障的跳變模式

移除了冗余向量(覆蓋率貢獻(xiàn)<0.01%)

最終覆蓋率提升4.6%

結(jié)論

本文提出的DFT自動(dòng)化框架通過(guò)以下創(chuàng)新實(shí)現(xiàn)性能突破:


自然語(yǔ)言交互:降低DFT工具使用門(mén)檻,使非專(zhuān)家也能定義測(cè)試需求

混合生成策略:結(jié)合LLM的創(chuàng)造性與ATPG工具的確定性,提升向量生成效率

智能優(yōu)化機(jī)制:通過(guò)強(qiáng)化學(xué)習(xí)自動(dòng)優(yōu)化向量集,突破傳統(tǒng)覆蓋率瓶頸

實(shí)際應(yīng)用表明,該框架可使DFT流程從"人工主導(dǎo)"轉(zhuǎn)向"AI輔助",在保持測(cè)試質(zhì)量的同時(shí)顯著縮短開(kāi)發(fā)周期。未來(lái)研究方向包括:


多芯片協(xié)同測(cè)試優(yōu)化

面向3D IC的跨層DFT策略

基于形式化驗(yàn)證的測(cè)試向量驗(yàn)證

通過(guò)智能算法與EDA工具的深度融合,本文技術(shù)有望成為下一代芯片測(cè)試的核心驅(qū)動(dòng)力,推動(dòng)DFT技術(shù)向智能化、自動(dòng)化方向演進(jìn)。

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