0 引言 靜電是物體表面的靜止電荷。物體在接觸、摩擦、分離、電解等過程中,發(fā)生電子或離子的轉(zhuǎn)移,正電荷和負電荷在局部范圍內(nèi)失去平衡,就形成了靜電。當物體表面的靜
概述 在進行裝配、測試和故障處理時,有時需要對MAX2140 SDARS接收器進行非標準操作。其中一個例子就是熱插拔操作,即在不關(guān)閉電源的情況下,直接將該器件與電路進行連接或
靜電放電(ESD, electrostatic discharge )是在電子裝配中電路板與元件損害的一個熟悉而低估的根源。它影響每一個制造商,無任其大小。雖然許多人認為他們是在ESD安全的環(huán)境
隨著電子產(chǎn)品迅速走向隨身使用化、功能強大化與低功耗化,半導(dǎo)體技術(shù)的持續(xù)微縮就沒有停止的可能性。然而,這樣的演變趨勢造就了電子產(chǎn)品‘使用可靠性的設(shè)計工作&rsqu
在人們的日常工作生活中,靜電放電(ESD)現(xiàn)象可謂無處不在,瞬間產(chǎn)生的上升時間低于納秒(ns)、持續(xù)時間可達數(shù)百納秒且高達數(shù)十安培的電流,會對手機、筆記本電腦等電子系統(tǒng)造
隨著技術(shù)的發(fā)展,移動電子設(shè)備已成為我們生活和文化的重要組成部分。平板電腦和只能手機觸摸技術(shù)的應(yīng)用,讓我們能夠與這些設(shè)備進行更多的互動。同時,它也構(gòu)成了一個完整的
USB 3.0傳輸速率高達5Gbit/s,且電源匯流排也有高達900毫安培的最大輸出電流,因此電路電氣瞬變和過流故障的預(yù)防極為重要,設(shè)計人員必須慎選適當?shù)臒崦綦娮瑁≒TC)和靜電放
在智能手機產(chǎn)品設(shè)計中,需要考慮ESD防護的主要有以下接口或組件: SIM 卡接口 USB 接口 耳機接口 MIC Receiver Speaker LCD 充電接口 Micro SD 接口 串口電池接口 按照不同接口的 ESD狀況,劃分防護等級。 防護等級一
手機、數(shù)碼相機、MP3播放器和PDA等手持設(shè)備的設(shè)計工程師,正不斷地面臨著在降低整個系統(tǒng)成本的同時、又要以更小的體積提供更多功能的挑戰(zhàn)。集成電路設(shè)計工程師通過在減少硅
在能被ESD直接擊中的區(qū)域,每一個信號線附近都要布一條地線。I/O電路要盡可能靠近對應(yīng)的連接器。對易受ESD影響的電路,應(yīng)該放在靠近電路中心的區(qū)域,這樣其他電路可以為它們提供一定的屏蔽作用。通常在接收端放置串聯(lián)
自適應(yīng)電纜均衡器是串行數(shù)字視頻(SDV)廣播和串行電信設(shè)備接收器前端的基本組成部分,它們還可以用于其它類型的有線通信系統(tǒng)。均衡器直接與傳輸線接口,恢復(fù)由電纜造成信號
來自人體、環(huán)境甚至電子設(shè)備內(nèi)部的靜電對于精密的半導(dǎo)體芯片會造成各種損傷,例如穿透元器件內(nèi)部薄的絕緣層;損毀MOSFET和CMOS元器件的柵極;CMOS器件中的觸發(fā)器鎖死;短路反偏的PN結(jié);短路正向偏置的PN結(jié);熔化有源
來自人體、環(huán)境甚至電子設(shè)備內(nèi)部的靜電對于精密的半導(dǎo)體芯片會造成各種損傷,例如穿透元器件內(nèi)部薄的絕緣層;損毀MOSFET和CMOS元器件的柵極;CMOS器件中的觸發(fā)器鎖死;短路反偏的PN結(jié);短路正向偏置的PN結(jié);熔化有源器件內(nèi)
本文介紹了整車部分ESD 抗擾度測試。 測試方法: 按照放電方式分類可以分為直接接觸放電和空氣放電。 1、 放電試驗點至少應(yīng)包括乘客車廂內(nèi)的成員能觸及的全部電源開關(guān)和控制器件,歡迎
目前幾乎所有的芯片組都有片上ESD保護。ESD電路放在芯片的外圍和鄰近I/O焊墊處,它用于在晶圓制造和后端裝配流程中保護芯片組。在這些環(huán)境中,ESD可通過設(shè)備或工廠的生產(chǎn)線