本文描述了一種定義簡單RC濾波器的技術(shù),以實現(xiàn)超過1MHz的基于分流器的電流測量。
電池仿真在電動汽車、消費電子以及各類電子設備的電池研發(fā)中發(fā)揮著關鍵作用。通過使用電池模擬器,團隊能夠進行高精度的電池測試,從而確保設計方案能夠滿足目標使用場景的需求。本文將詳細探討在實施電池仿真前的諸多優(yōu)勢。
本文將深入解析雙脈沖測試的原理、應用及泰克科技在這一領域的先進解決方案,并介紹泰克專家高遠新書的相關內(nèi)容。
6月11日,泰克科技宣布推出EA-BIM 20005電池阻抗分析儀,這是一款專為滿足現(xiàn)代電池測試需求而設計的高端設備,旨在助力對電池質(zhì)量和性能有更高要求的行業(yè),推動行業(yè)創(chuàng)新。
在這篇文章中,小編將對測試測量器件搖表的相關內(nèi)容和情況加以介紹以幫助大家增進對搖表的了解程度,和小編一起來閱讀以下內(nèi)容吧。
泰克將帶領您深入探究AI服務器電源架構(gòu)的技術(shù)演進前沿現(xiàn)場,深入剖析其中的三大趨勢與面臨的測試挑戰(zhàn),助您精準洞察下一代高性能供電系統(tǒng)的制勝關鍵所在。
全球領先的測試和測量技術(shù)解決方案提供商益萊儲/Electro Rent再次受邀參加2025年6月26日將于在上海浦東嘉里大酒店隆重舉行的Keysight World Tech Day 2025年度盛會,與是德科技深度合作,助力行業(yè)科技創(chuàng)新,為客戶提供更經(jīng)濟、更靈活、更便捷的測試租賃解決方案和服務支持。
隨著智能汽車技術(shù)的飛速發(fā)展,汽車電子系統(tǒng)對高清視頻和音頻傳輸?shù)男枨蟛粩嘣黾印-by-One HS作為一種高性能的串行化接口技術(shù),憑借其高帶寬、低功耗和高可靠性等特點,被廣泛應用于汽車電子系統(tǒng)中。本文將介紹V-by-One HS技術(shù)的核心特性、應用場景以及泰克公司提供的測試解決方案。
泰克創(chuàng)新實驗室V2.0經(jīng)過全面升級,設備更新且測試能力大幅提升,能夠滿足第三代半導體功率器件的多樣化測試需求。此次升級涵蓋了GaN器件開關測試、動態(tài)導通電阻測試、SiC功率器件的短路測試和雪崩測試,以及更全面的靜態(tài)參數(shù)和電容參數(shù)測試系統(tǒng)。此外,實驗室還引入了全新的可靠性測試系統(tǒng),專注于第三代半導體功率器件的性能評估。
RIGOL作為電子測試測量領域的佼佼者,憑借其先進的示波器技術(shù)和專業(yè)的總線分析解決方案,為CAN-FD總線的開發(fā)、測試和驗證提供了強有力的支持。
泰克提供旨在提高高速診斷精度、可靠性和效率的解決方案。其產(chǎn)品專為滿足捕捉和分析高速事件的獨特需求而設計,確保團隊擁有突破研發(fā)界限所需的工具。
泰克進入中國市場已有四十余年,這是一段充滿挑戰(zhàn)與機遇的旅程,更是一段與您共同成長、攜手創(chuàng)新的歷程。
在2025慕尼黑上海電子展上,普源精電科技股份有限公司以“成就科技探索,助您無線可能”為主題,集中展示了數(shù)字示波器、函數(shù)/任意波形發(fā)生器、頻譜分析儀、射頻信號源、電源及電子負載、萬用表及數(shù)據(jù)采集器等儀器及解決方案,全方位呈現(xiàn)出其在電子測試測量領域的前沿技術(shù)與創(chuàng)新成果。
在超寬禁帶半導體領域,氧化鎵器件憑借其獨特性能成為研究熱點。我們有幸與香港科技大學電子及計算機工程教授黃文海教授,圍繞氧化鎵器件的研究現(xiàn)狀、應用前景及測試測量挑戰(zhàn)展開深入交流。
如何在高速信號捕捉、多通道同步采集以及復雜協(xié)議解碼之間取得平衡,已成為汽車行業(yè)的技術(shù)人員面臨的共同挑戰(zhàn)。本文將從測試難點和解決方案角度,探討解決方案中涉及的關鍵技術(shù)點。
EA-PSB 20000系列不僅以更少的硬件實現(xiàn)了更高的功率、更強的功能與更優(yōu)的效率,還為測試工程師提供了一種高效、靈活且經(jīng)濟的解決方案。
本文將介紹一個成功應對設備停機挑戰(zhàn)的案例,展示益萊儲(Electro Rent)如何通過設備租賃服務,幫助Grant Instruments在意外停機期間維持生產(chǎn)運營,確??蛻魸M意度和業(yè)務連續(xù)性。
本文介紹了HDMI技術(shù)的核心特性、應用場景,以及泰克公司提供的測試解決方案。
在半導體領域,隨著技術(shù)的不斷演進,對CMOS(互補金屬氧化物半導體)可靠性的要求日益提高。特別是在人工智能(AI)、5G通信和高性能計算(HPC)等前沿技術(shù)的推動下,傳統(tǒng)的可靠性測試方法已難以滿足需求。本文將探討脈沖技術(shù)在CMOS可靠性測試中的應用,以及它如何助力這些新興技術(shù)的發(fā)展。
EA公司憑借先進的碳化硅(SiC)技術(shù),成功開發(fā)出4U/30kW和6U/60kW的高性能可編程電源,其輸出電壓最高可達2000V。與傳統(tǒng)基于硅晶體管的同類產(chǎn)品相比,這些電源在多個關鍵性能指標上實現(xiàn)了顯著提升。