由北京中科泛華測控技術(shù)有限公司（簡稱“泛華測控”）DAQ事業(yè)部舉辦的“2010數(shù)據(jù)采集全國巡回研討會(huì)”即將全面啟動(dòng)。

本次研討會(huì)將以快速搭建高效精準(zhǔn)的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)為核心，以X系列和CompactDAQ數(shù)據(jù)采集革新技術(shù)為切入點(diǎn)，深度剖析NI公司數(shù)據(jù)采集產(chǎn)品從入門到高級的具體行業(yè)應(yīng)用。

X系列數(shù)采卡憑借高處理能力的PCI Express總線、NI-STC3定時(shí)和同步技術(shù)、多核獲得優(yōu)化的驅(qū)動(dòng)與應(yīng)用軟件，將性能提升至新高度；CompactDAQ將用于USB的NI信號流技術(shù)與真正的即插即用軟件體驗(yàn)相結(jié)合，在精小便攜、簡單易用、低價(jià)位的系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)快速精確的測量應(yīng)用。在本次研討會(huì)中，泛華測控將就如何利用這些模塊，快速建立一個(gè)便捷、易用、安全、可靠、穩(wěn)定而精確的測試測量系統(tǒng)，與各位參會(huì)工程師進(jìn)行深入探討，并分享泛華測控歷年來在多領(lǐng)域的成功案例。

2009年，DAQ事業(yè)部全國巡回研討會(huì)在全國9大城市成功舉辦，有近千名測試測量工程師和國家重點(diǎn)工程項(xiàng)目負(fù)責(zé)人參與其中。今年，研討會(huì)將途經(jīng)無錫、北京、廈門、上海、蘇州、天津、杭州、常州、西安、合肥等地，輻射全國，貫穿全年，其覆蓋面之廣、影響之深遠(yuǎn)，是關(guān)注數(shù)據(jù)采集服務(wù)的各類人群不可忽略的交流平臺。