惠瑞捷(Verigy Ltd.)針對IC與微控制器(MCU)推出一套可執(zhí)行晶圓測試(Wafer Sort)及終程測試(Final Test)的V101測試系統(tǒng)。這套全新的100MHz tester-on-board系統(tǒng)擁有低成本與零佔用空間等優(yōu)勢，已於今年的SEMICON WEST展覽中首度對外展示。

V101測試系統(tǒng)最高可運作達100MHz測試工作頻率與1024個I/O通道。V101擁有獨特的Tester-on-Board架構(gòu)，可藉由內(nèi)建的數(shù)位與直流裝置簡化測試系統(tǒng)硬體及其結(jié)構(gòu)，並能以高產(chǎn)出量及較低成本進行高效率的多元件並行測試。另外，採用標準規(guī)格的零組件也讓V101更易於架設(shè)與維護。

V101的數(shù)位測試儀器架構(gòu)內(nèi)建數(shù)位與直流裝置，兼顧了測試效能與低成本兩項優(yōu)勢。這套架構(gòu)也讓V101的產(chǎn)出量可隨用戶需求彈性地擴充。V101是特別針對4、8與16位元MCU與其他低接腳數(shù)(pin count)低階IC元件的測試所設(shè)計。

這套數(shù)位儀器最高能以8個裝置電源供應(yīng)器(DPS，device power supplies)達到100MHz的測試工作頻率；同時提供60M的深度向量記憶體以及8M的數(shù)位擷取儲存記憶體，因應(yīng)快速的元件生命週期並進行修正，可降低雜訊、提升測試準確度與良率。內(nèi)建的多功能直流測量單位(MMU)可免除額外的類比卡，直接進行嵌入的類比/數(shù)位轉(zhuǎn)換器(ADC)測試，達到降低成本的目標。

V101是唯一支援直接探針測試(direct probing)的最佳晶圓測試系統(tǒng)，無須額外的pogo tower或其他高成本的外加介面，因而能大幅節(jié)省成本。V101的設(shè)計亦有助於提升晶圓測試的訊號保真度(signal fidelity)以及簡化生產(chǎn)設(shè)定工作。

V101採用惠瑞捷的Stylus作業(yè)系統(tǒng)軟體。Stylus提供直接的電子設(shè)計自動化(EDA)連結(jié)，可縮短程式開發(fā)時程。採用STIL標準的測試程式不僅可簡化其他STIL標準的測試程式轉(zhuǎn)換作業(yè)，當軟體搭配深度向量以及數(shù)位擷取儲存器記憶體時，更可大幅縮短程式開發(fā)時程。

V101的測試範圍涵蓋多種低成本IC元件，包括4/8/16位元MCU、顯示器驅(qū)動控制器、介面週邊應(yīng)用、一般用途的特殊應(yīng)用積體電路(ASIC)、嵌入式記憶體，以及嵌入式類比數(shù)位轉(zhuǎn)換器。