Multitest公司宣布，其Gemini?系列測試插座已被一家知名半導體IDM選為QFN封裝器件的專用測試插座。經過數月評估，Gemini?在多類別產品競爭中脫穎而出。這次成功再次證明使用Gemini?技術的優(yōu)勢。這種測試座性能卓越，使用壽命長，初置成本低，為客戶帶來超過預期的低測試成本。

Gemini?測試座經過經心設計，能克服QFN接觸的挑戰(zhàn)。單邊DUT（被測裝置）針頭式樣和雙簧探針結構提供了所需的DUT管腳接觸壓，這樣就克服了無鉛裝置上面常見的氧化物積層問題。探針基底異常堅硬，既最大程度上減少了磨損，又延長了測試座使用壽命。此外，平行電流通路使載流能力最大化、減少了接觸阻抗，并且提供極低電感環(huán)境。

Multitest Gemini?測試座設計為探針增添槽孔，優(yōu)化探針布局。槽孔使探針針頭精確對齊被測QFN器件低至0.4mm間距的管腳。探針在優(yōu)化位置進行排列，確保最低電感和最佳阻抗匹配環(huán)境。Gemini?測試座是業(yè)內領先的高性能解決方案，適于接收器、發(fā)射器、4G裝置、Wimax、USB 3.0及其他RF裝置的大容量半導體測試。