臺北訊 – 2011年9月23日 – 先進(jìn)電子量測方案的世界級領(lǐng)導(dǎo)廠商吉時(shí)利儀器公司推出獲得業(yè)界好評的吉時(shí)利測試環(huán)境（KTE）半導(dǎo)體測試軟體的升級版。KTE V5.3是專為配合吉時(shí)利最快、最經(jīng)濟(jì)有效的程式控制監(jiān)控方案產(chǎn)品線S530參數(shù)測試系統(tǒng)使用所設(shè)計(jì)。有關(guān)KTE V5.3的詳細(xì)資訊，請瀏覽：http://www.keithley.com/data?asset=55833。

KTE是一款強(qiáng)大的測試開發(fā)和執(zhí)行軟體平臺，全球有數(shù)百家半導(dǎo)體晶圓廠皆使用吉時(shí)利前幾代的參數(shù)測試系統(tǒng)?，F(xiàn)在，吉時(shí)利的S530測試系統(tǒng)利用這個(gè)經(jīng)過業(yè)界長期驗(yàn)證的軟體平臺在最嚴(yán)苛的生產(chǎn)環(huán)境中實(shí)現(xiàn)了靈活的測試計(jì)劃開發(fā)和高速測試?，F(xiàn)有的吉時(shí)利S400和S600系列參數(shù)測試儀用戶將能受益于S530系統(tǒng)上的KTE V5.3，因?yàn)樗麄兛梢詫F(xiàn)有的測量程式輕松轉(zhuǎn)移到S530，而且現(xiàn)有測試儀和新的S530系統(tǒng)可以共用同一個(gè)測試計(jì)劃。

結(jié)合了30年的參數(shù)測試代碼開發(fā)實(shí)務(wù)經(jīng)驗(yàn)和市場上最快、最先進(jìn)的系統(tǒng)硬體優(yōu)勢，吉時(shí)利進(jìn)一步將KTE測試開發(fā)和執(zhí)行環(huán)境擴(kuò)展至S530系統(tǒng)。S530儀器提供程式控制監(jiān)控等參數(shù)測試應(yīng)用要求的高速和廣泛測量范圍。



吉時(shí)利致力于讓新測試系統(tǒng)高度相容于較早的系統(tǒng)，以支援吉時(shí)利參數(shù)測試客戶。保持軟體相容性的承諾，使轉(zhuǎn)移路徑更為平順，并能在為測試平臺加入更新、更高速測試儀的同時(shí)，保護(hù)晶圓廠的測試軟體投資。

對于吉時(shí)利參數(shù)測試的新客戶而言，遵守系統(tǒng)軟體連續(xù)性的承諾會讓客戶對經(jīng)過業(yè)界長期驗(yàn)證軟體基礎(chǔ)的測試系統(tǒng)充滿信心。

對于已經(jīng)使用KTE較早版本的客戶來說，KTE V5.3加速并簡化了S530測試系統(tǒng)到測試平臺的整合。

· 同一種測試方法和測試方案適用于所有吉時(shí)利自動參數(shù)測試系統(tǒng)，這不僅縮短了使用多個(gè)系統(tǒng)的測試工程師和操作人員的學(xué)習(xí)過程，而且在測試平臺上增加新的高速系統(tǒng)，或取代較早期平臺時(shí)提供平穩(wěn)的轉(zhuǎn)換路徑，進(jìn)而保護(hù)晶圓廠的測試開發(fā)投入。

· 使用者只需重新編譯和重新建立多年來為更早吉時(shí)利系統(tǒng)開發(fā)的用戶資料庫，只需進(jìn)行少量的除錯(cuò)下，就能繼續(xù)在S530上使用這些資料庫。

· KTE V5.3簡化了建立條件測試順序的新用戶擷取點(diǎn)（user access point；UAP）原始碼以及制訂S530的系統(tǒng)工作流程。為早期吉時(shí)利系統(tǒng)開發(fā)的UAP原始碼在少量的調(diào)整下，適用于S530系統(tǒng)。

· KTE的工具對吉時(shí)利所有參數(shù)測試平臺都提供完全相同的功能。

S530的KTE適和在標(biāo)準(zhǔn)工業(yè)PC的Linux作業(yè)系統(tǒng)上運(yùn)作，可保持長期的穩(wěn)定性也易于維護(hù)。這項(xiàng)軟體已針對高速生產(chǎn)測試環(huán)境優(yōu)化了速度，也提升了可靠性。運(yùn)作KTE V5.3的S530系統(tǒng)能實(shí)現(xiàn)程式控制監(jiān)控、過程可靠監(jiān)控和元件特性分析要求的全部直流I-V和C-V測量。S530系統(tǒng)特別針對某些生產(chǎn)參數(shù)測試環(huán)境進(jìn)行優(yōu)化，包括必須配合廣泛產(chǎn)品組合的環(huán)境，必須維持廣泛應(yīng)用靈活性的環(huán)境，或快速測試方案開發(fā)。