臺積電28nm工藝仍將采用液浸ArF曝光 EUV將用于22nm以下工藝
臺積電(TSMC)于2008年10月20日在橫浜舉行的技術(shù)研討會“TSMC 2008 Technology Symposium”上公布了其有關(guān)曝光技術(shù)的發(fā)展藍圖。
該公司首先公布了未來的發(fā)展方針,表示繼已量產(chǎn)的40nm工藝之后,預定2010年初開始量產(chǎn)的28nm工藝仍將采用193nm波長的液浸ArF曝光技術(shù)。而在接下來的22nm工藝中,將討論使用以下三個候選方案。(1)193nm波長的液浸ArF曝光技術(shù),(2)EUV曝光技術(shù)(NA 0.25),(3)電子束直描技術(shù)。
不過,到15nm工藝時,將無法使用193nm波長的液浸ArF曝光技術(shù)。TSMC表示,15nm工藝將考慮選用電子束直描或EUV曝光技術(shù)(NA 0.35)。