嵌入式FPGA(eFPGA)是指將一個或多個FPGA以IP的形式嵌入ASIC，ASSP或SoC等芯片中。

換句話說，eFPGA是一種數字可重構結構，由可編程互連中的可編程邏輯組成，通常表現為矩形陣列，數據輸入和輸出位于邊緣周圍。 eFPGA通常具有數百或數千個輸入和輸出，可連接到總線、數據路徑、控制路徑、GPIO、PHY或任何需要的器件。

所有eFPGA都將查找表(LUT)作為基本構建模塊。 LUT有N個輸入選擇一個小表，其輸出表示N個輸入的任何需要的布爾函數。 有些eFPGA LUT有四個輸入，有的有六個。有些LUT有兩個輸出。 LUT通常在輸出端具有觸發(fā)器; 這些可以用來存儲結果。這些LUT寄存器組合通常以四進制形式出現，還有進位算術和移位器，以便有效地實現加法器。

LUT接收來自可編程互聯(lián)網絡的所有輸入，并將其所有輸出反饋到可編程互連網絡。

除了LUT之外，eFPGA還可能包含MAC(乘法器/累加器模塊)。 它們也連接到可編程互連網絡，用于提供更高效的數字信號處理(DSP)和人工智能(AI)功能。 對于內存來說，有大量的RAM，通常是雙端口的封裝。至于LUT和MAC，通過RAM連接到可編程互連網絡。

eFPGA具有輸入和輸出引腳的外環(huán)，將eFPGA連接到SoC的其它部分，這些引腳也連接到可編程的互連網絡。

軟件工具用于合成Verilog或VHDL代碼，以編程eFPGA邏輯和互連來實現任何所需的功能。

eFPGA是方便的新邏輯塊，可在許多方面提高SoC的價值，其中包括：

使用數百個LUT的廣泛，快速的控制邏輯;

可重新配置的網絡協(xié)議;

用于視覺或人工智能的可重構算法;

用于航空航天應用的可重配置DSP;

用于MCU和SoC的可重配置加速器。

除了以上這些，還有更多，這里就不一一介紹了。

當今，已經有了一些eFPGA供應商，主要包括Achronix，Flex Logix，Menta和QuickLogic，此外，還有一些較小的供應商。有了這些選擇，客戶需要決定哪一個最能滿足他們的需求。那么，要如何選擇呢? 雖然需要考慮商業(yè)因素，但本文重點討論技術因素。

第1步：制程的兼容性

通常情況下，即使在IP評估的早期階段，公司也會選擇foundry廠和工藝節(jié)點。而臺積電、GlobalFoundries和SMIC現在或正在開發(fā)針對包括65nm，40nm，28nm，22nm，16nm，14nm和7nm工藝節(jié)點的eFPGA。

但是，并非所有供應商對所有代工廠/工藝節(jié)點都有eFPGA，至少目前還沒有。 通過他們的網站檢查哪些與您的制程兼容非常重要。 您還應該看看所討論的eFPGA是否已經在芯片中進行了驗證，并在NDA下提供了報告。

不要忘記檢查金屬堆棧的兼容性。您選擇的關鍵IP，如SerDes或您的應用可能需要您使用特定的金屬堆棧，但并非所有eFPGA IP都與所有金屬堆棧兼容。

第2步：陣列大小和功能

并非所有的eFPGA供應商都可以做非常小規(guī)模的eFPGA，同時，并不是所有廠商都可以做出規(guī)模非常大的eFPGA。另外，它們支持的MAC和RAM的性質可能會有所不同。

對于您是否需要數百個LUT或數十萬個LUT，以及您對MAC和RAM的需求，這可能會篩選出一些供應商。

步驟3：使用RTL進行基準測試

eFPGA供應商會為您提供用于評估的軟件，以便您可以確定(RTL)每個eFPGA可以實現的硅面積和性能。您需要eFPGA能夠在與SoC其余部分相同的溫度和電壓范圍內運行，因此請確保您需要的是支持的。

在進行基準測試時，將蘋果與蘋果進行比較(compare apples to apples)非常重要。例如，您應該在相同的工藝(slow/slow or typ/typ or fast/fast)以及相同電壓和相同溫度下比較每個eFPGA。您應該期望來自eFPGA供應商的軟件工具將允許您檢查不同工藝轉角和電壓組合下的性能。

請注意，您的RTL適用于eFPGA。如果從硬連線ASIC設計中采用RTL，則觸發(fā)器之間往往會有20~30個邏輯層。如果你把它放在沒有優(yōu)化的eFPGA中，它會運行得非常慢。在eFPGA中，LUT輸出總是有觸發(fā)器，您可以使用它們向RTL添加更多的流水線，以在eFPGA中獲得更高的性能。

談到RTL，確保你正在測試什么對你很重要。

一個16位加法器。你關心的是它的運行速度有多快，但是如果你不小心，看到的結果可能會讓你感到驚訝?，F在想象一個大的eFPGA。如果加法器放置在陣列的一個角落，輸入和輸出接近，則性能將遠高于在陣列中間找到加法器的情況。這是因為如果您觀察從陣列輸入到陣列輸出的性能，當加法器位于陣列中間時，到數據輸入和加法器輸出的加法器的距離會更長。實際上，加法器是相同的，并且在兩個位置運行速度都很快。問題在于你的測試沒有隔離加法器的性能，但它也加入了達到加法器所需的信號。

下圖是一個例子，它使用一個LUT來布線，LUT速度不會改變，但通過互連進入和離開LUT的延遲會發(fā)生。

為了應對這種效應，尤其是因為您可能會比較兩種不同尺寸的eFPGA，您需要做的是在輸入和輸出上設置寄存器，這可確保您關心的性能均可測量，不受陣列的大小和位置的限制。

如果您需要MAC的DSP或AI功能，請了解每個eFPGA的乘法器大小和流水線的不同。 如果RTL指定了一個MxN乘法器，那么綜合軟件將確保eFPGA實現它，但它可能會跨越兩個或更多乘法器以達到所需的效果。 如果你需要MxN，那么這很重要。 但是，如果試圖比較apples-to-apples的倍增性能，您會希望讓RTL使用適合您所評估的所有eFPGA的倍增器大小。

圖：N-Tap FIR濾波器架構

一些eFPGA直接將MAC匯集到一起，這比可編程互聯(lián)網絡快得多。 實施N-Tap FIR濾波器將顯示具有MAC-to-MAC流水線的eFPGA與不具有流水線的eFPGA之間的差異。 上圖為使用流水線DSP MAC實現的N-Tap FIR濾波器的示例。

步驟4：使用您需要的RTL基準測試區(qū)域

與性能一樣，在嘗試針對不同eFPGA的RTL的相對面積進行基準測試時，要非常小心。一些eFPGA供應商使您能夠輕松生成數十種不同的陣列尺寸，但其他人可能只會為您的基準測試提供兩種尺寸。

第一步是查看LUT計數(或MAC計數)。但是，不同的eFPGA供應商可能有不同的LUT尺寸。在查找表中可能不會填滿它，所以如果你有兩個觸發(fā)器進入一個與非門，再進入另一個觸發(fā)器，那么任何大小的查找表都將實現一個與非門。

某些eFPGA在輸出端具有兩個觸發(fā)器，這使得N輸入LUT可以分解為兩個共享N輸入LUT和一些輸入子集的更小的LUT。此功能可提高面積利用率。

即使您正在對來自兩家供應商的N-LUT eFPGA進行基準測試 - 并且您的設計使用了兩個LUT中的一半并且兩者的面積相同 - 但您不能斷定它們同樣好。 你需要確定的是eFPGA LUT的利用率是否可以實現。一般eFPGA的利用率為60-70%，但有些eFPGA的利用率可達到90%。 唯一能找到的方法是使RTL幾乎填滿eFPGA的LUT。

另一種獲得使用感的方法是查看展示位置的可視化。 在下面的例子中，LUT顯然是非常緊密地組合在一起的(陰影塊是設計中使用的LUT)，這是高利用率的良好視覺指示。

但是，即使在這里你也必須小心。 如果在上面的設計中，輸入和輸出均勻分布在eFPGA陣列的邊上，那么隨著位置/路徑軟件將關鍵路徑最小化，將具有更均勻地分散LUT的效果。

因此，當使用這種可視檢查時，嘗試將輸入和輸出分組到eFPGA的一個角落，這樣，位置/路線軟件就可以將LUT放在一起，以最小化關鍵路徑。

步驟5：對輸入和輸出容量進行基準測試

一些基于eFPGA的應用程序需要大量的輸入和輸出。例如，網絡芯片的總線可以是512位寬(有時甚至數千位寬)。 您需要查看每個K-LUT可用的輸入和輸出計數，看看它是否在滿足您需求的范圍內。

結論

eFPGA是令人興奮的新工具，它使SoC架構師可以使他們的芯片更加靈活和可重新配置。

使用上面的指導原則，您將能夠更快地找到最適合您獨特應用程序、特定需求的eFPGA。如果您選擇正確的解決方案，您將能夠充分發(fā)揮eFPGA的潛力。