首先提一下分析的誤差因素：

A.運(yùn)放的非理想因素(直流部分)：

運(yùn)算放大器的輸入結(jié)構(gòu)：

1.失調(diào)電壓(Offset Voltage)：

該參數(shù)表示使輸出電壓為零時需要在輸入端作用的電壓差。它是由構(gòu)成輸入端差分放大器的管子(NPN，PNP，PMOS，NMOS)參數(shù)并不是完全對稱的【對于晶體管來說主要是Ube和Ueb的對稱性，對于JFET來說主要是Ugs，這個不對稱的電壓完全可以看成人為的加了一個電壓源】，這就引起了失調(diào)電壓，實(shí)際在說明書中的數(shù)值是通過實(shí)驗(yàn)測量抵消這一電壓必須在輸入端加一個與之反相的電壓。

失調(diào)電壓的溫度漂移：失調(diào)電壓是隨著溫度的變化而改變，一般在說明書中采用失調(diào)電壓的溫度系數(shù)來使用。如果給出了全溫度范圍內(nèi)的最大數(shù)據(jù)，則可以采用折算的辦法?！具@里有個有趣的事情，一般給的Tc_vos一般偏小，而在極端溫度下測得的失調(diào)電壓一般要大于常溫下測試得到的最大失調(diào)電壓+溫升×Tc_vos，我們只能認(rèn)為這個過程是Tc_vos是變化的，如果要計算惡劣的話，最好去最壞分析的情況?！?/p>

另外一點(diǎn)就是老化的問題：失調(diào)電壓的漂移的大小是隨時間而變化，它一般以mV/月或者mV/1,000小時來定義，這個非線性的函數(shù)與運(yùn)放期間使用時間的平方根成正比。這個數(shù)據(jù)一般不可得的，因此在計算的時候要使用最壞分析得到這個結(jié)果。PS：老化一般很難在計算時加入，但是非加入不可。首先是汽車，一般用10年15萬公里是很常見的，更別說儀器了，往往用用15年以上。

測試方法：

2.偏置電流(Bias Current)

該參數(shù)是指運(yùn)放輸入級電流平均值【IB+，IB-的平均值】，由構(gòu)成輸入端差分放大器管子(NPN，PNP，PMOS，NMOS)的基極或柵極電流構(gòu)成?！具\(yùn)算放大器不提供輸入級偏置電流的電流源，是為了運(yùn)放能獲取盡可能寬的共模輸入電壓范圍(直接耦合)】，此參數(shù)越小代表信號源的內(nèi)阻對運(yùn)放的影響越小，同時它也影響著輸入失調(diào)電流的大小。

3.失調(diào)電流(Offset Current)

該參數(shù)是指流入兩個輸入端的電流之差【IB+，IB-的差值】，也就是兩個輸入端管子的偏置電流差值。

測試方法：

說明一點(diǎn)：有個帖子是不錯的，怎樣測試運(yùn)放的失調(diào)電壓和偏置電流?在測試時候開關(guān)是不能亂加的，開關(guān)有導(dǎo)通電阻和斷開電阻，而后者如果在我們的Rf相當(dāng)時會產(chǎn)生非常大的誤差。同樣的，如果測試的電流較小的時候，電容的非理想特性的泄漏電阻也會產(chǎn)生影響，因此測量微弱電流的情況下，可能兩個東東都不能加。以上方法只是測試相對正常的偏置電流。

4.差模開環(huán)放大增益(Open Loop Gain)

運(yùn)放在無外加反饋條件下，輸出電壓的變化量與輸入電壓的變化量(差模放大倍數(shù))之比。在說明書里面一般以O(shè)pen Loop Gain表明。

測試方法：

用閉環(huán)的方法測試開環(huán)的增益，不過這里要注意信號源不能太大。可用交流的電壓測量。

5.共模抑制比 CMRR Common Mode Rejection Ratio

該參數(shù)主要是表征放大器抑制輸入共模信號的能力，一般定義為放大器對差模信號的電壓放大倍數(shù)(差模開環(huán)放大增益)與對共模信號的電壓放大倍數(shù)之比，稱為共模抑制比。

測試方法：

6.差模輸入電阻

運(yùn)放工作在線性區(qū)時，兩輸入端的電壓變化量與對應(yīng)的輸入端電流變化量的比值。

7.共模輸入電阻

運(yùn)放工作在輸入信號時(即運(yùn)放兩輸入端輸入同一個信號)，共模輸入電壓的變化量與對應(yīng)的輸入電流變化量之比。一般共模輸入電阻要比差模輸入電阻高很多。

測試方法：

分析運(yùn)放以TI公司的為例(面廣，主要是公司用的很多TI的運(yùn)放在汽車電子上面)以后分析使用典型運(yùn)放的參數(shù)：

B.電阻的誤差

以KOA電阻為例(數(shù)據(jù)全)，各種電阻的初始精度和PPM如圖。

KOA數(shù)據(jù)

KOA有詳細(xì)的關(guān)于每款電阻的最大PPM如圖(RN73系列為例)：

以上電阻精度為初始精度，也就是電阻制造完成后未使用的離散精度。經(jīng)過試驗(yàn)后電阻精度會改變。電阻考慮的還有抵抗實(shí)驗(yàn)和焊接后的特性，如圖：

我們需要把這些精度退化通過公式計算后才能用，MIL定義為：

具體計算過程可以看Blog：電阻精度分析

C.信號源內(nèi)阻

首先把輸入電阻和輸出電阻的概念辨析一下：

輸入電阻是用來衡量放大器對信號源的影響的一個性能指標(biāo)。輸出電阻用來衡量放大器帶負(fù)載能力的強(qiáng)弱。輸入電阻越大表明放大器從信號源取的電流越小，放大器輸入端得到的信號電壓也越大，即信號源電壓衰減的少。輸出電阻用來衡量放大器帶負(fù)載能力的強(qiáng)弱。當(dāng)放大器將放大了的信號輸出給負(fù)載電阻時，放大器可以等效為具有內(nèi)阻Ro的信號源，由這個信號源向RL提供輸出信號電壓和輸出信號電流。Ro稱為放大器的輸出電阻，它是從放大器輸出端向放大器本身看入的交流等效電阻。

對于我們放大來說，前面的輸出就是后面的輸入，也就是說我們的對象可能并不是真正的初始信號源，而是經(jīng)過處理后的信號源，因此我們要注意本級放大器的信號輸入電壓范圍和信號輸入內(nèi)阻。