一顆芯片從無(wú)到有，從有需求到最終應(yīng)用，經(jīng)歷的是一個(gè)漫長(zhǎng)的過(guò)程，作為人類科技巔峰之一的芯片，凝聚了人們的智慧，而芯片產(chǎn)業(yè)鏈也是極其復(fù)雜的，在此，我大致把它歸為四個(gè)部分（市場(chǎng)需求--芯片設(shè)計(jì)--芯片制造--測(cè)試封裝），然后再一一的做詳細(xì)介紹。

市場(chǎng)需求

這個(gè)無(wú)需多講，目前芯片應(yīng)用已經(jīng)滲透到我們生活的方方面面，早晨上班騎的共享單車(chē)，到公司刷的IC卡，工作時(shí)偷偷地打游戲，手機(jī)卡了還要換更快的手機(jī)，可以說(shuō)IC的市場(chǎng)需求一直都在。

（注：以下圖片部分來(lái)自網(wǎng)絡(luò)，侵刪）

芯片設(shè)計(jì)

芯片設(shè)計(jì)又可以分為兩部分，芯片前端設(shè)計(jì)和芯片后端設(shè)計(jì)，整體流程如下圖：

芯片前端設(shè)計(jì)

前端設(shè)計(jì)也就是從輸入需求到輸出網(wǎng)表的過(guò)程：主要分為以下六個(gè)步驟：

RTL設(shè)計(jì)

驗(yàn)證

靜態(tài)時(shí)序分析

覆蓋率

ASIC邏輯綜合

時(shí)序分析和驗(yàn)證時(shí)出現(xiàn)的錯(cuò)誤可能需要反復(fù)重做前面幾步才能解決，是一個(gè)多次迭代優(yōu)化的過(guò)程。

下面我來(lái)仔細(xì)介紹一下這六個(gè)步驟。

1、RTL設(shè)計(jì)

在設(shè)計(jì)之前我們先要確定芯片的工藝，比如是選擇TSMC還是SMIC，是7nm，還是5nm，而工藝的選擇也是受很多因素的制約（如下圖），而芯片工藝的選擇，就是對(duì)這些因素的權(quán)衡。

IC設(shè)計(jì)的第一步就是制定Spec，這個(gè)步驟就像是在設(shè)計(jì)建筑前，要先畫(huà)好圖紙一樣，在確定好所有的功能之后在進(jìn)行設(shè)計(jì)，這樣才不用再花額外的時(shí)間進(jìn)行后續(xù)修改。IC 設(shè)計(jì)也需要經(jīng)過(guò)類似的步驟，才能確保設(shè)計(jì)出來(lái)的芯片不會(huì)有任何差錯(cuò)。

由文檔來(lái)寫(xiě)RTL

而用RTL實(shí)現(xiàn)的各種功能模塊，來(lái)組成一個(gè)實(shí)現(xiàn)具體功能的IP，SOC芯片最終由SOC integration工程師把各個(gè)IP集成到一起。

IP又分為模擬IP和數(shù)字IP，大概可以做如下的分類：

在芯片功能設(shè)計(jì)完備后，我們還要做可測(cè)性設(shè)計(jì)DFT（Design For Test）。

RTL設(shè)計(jì)最后要做的就是代碼的設(shè)計(jì)規(guī)則檢查。

通過(guò)lint, Spyglass等工具，針對(duì)電路進(jìn)行設(shè)計(jì)規(guī)則檢查，包括代碼編寫(xiě)風(fēng)格，DFT，命名規(guī)則和電路綜合相關(guān)規(guī)則等。

2、驗(yàn)證

驗(yàn)證是保證芯片功能正確性和完整性最重要的一環(huán)。驗(yàn)證的工作量也是占整個(gè)芯片開(kāi)發(fā)周期的50%-70%，相應(yīng)的，驗(yàn)證工程師與設(shè)計(jì)工程師的數(shù)量大概在2-3:1。

從驗(yàn)證的層次可以分位：模塊級(jí)驗(yàn)證，子系統(tǒng)級(jí)驗(yàn)證和系統(tǒng)級(jí)驗(yàn)證。

從驗(yàn)證的途徑可以分為：模擬（simulation），仿真和形式驗(yàn)證（formality check）。

3、靜態(tài)時(shí)序分析（STA）

靜態(tài)時(shí)序分析是套用特定的時(shí)序模型（timing model）,針對(duì)特定電路，分析其是否違反designer給定的時(shí)序限制（timing constraint）。

目前主流的STA工具是synopsys的Prime Time。

時(shí)序分析流程圖

靜態(tài)時(shí)序分析的作用：

1.確定芯片最高工作頻率

通過(guò)時(shí)序分析可以控制工程的綜合、映射、布局布線等環(huán)節(jié)，減少延遲，從而盡可能提高工作頻率。

2. 檢查時(shí)序約束是否滿足

可以通過(guò)時(shí)序分析來(lái)查看目標(biāo)模塊是否滿足約束，如不滿足，可以定位到不滿足約束的部分，并給出具體原因，進(jìn)一步修改程序直至滿足要求。

3. 分析時(shí)鐘質(zhì)量

時(shí)鐘存在抖動(dòng)、偏移、占空比失真等不可避免的缺陷。通過(guò)時(shí)序分析可以驗(yàn)證其對(duì)目標(biāo)模塊的影響。

4、覆蓋率

覆蓋率作為一種判斷驗(yàn)證充分性的手段，已成為驗(yàn)證工作的主導(dǎo)。

從目標(biāo)上，可以把覆蓋率分為兩類：

代碼覆蓋率

作用：檢查代碼是否冗余，設(shè)計(jì)要點(diǎn)是否遍歷完全。

檢查對(duì)象：RTL代碼

功能覆蓋率

作用：檢查功能是否遍歷

檢查對(duì)象：自定義的container

在設(shè)計(jì)完成時(shí)，要進(jìn)行代碼覆蓋率充分性的sign-off, 對(duì)于覆蓋率未達(dá)到100%的情況，要給出合理的解釋，保證不影響芯片的工能。

5、ASIC綜合

邏輯綜合的結(jié)果就是把設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的RTL代碼翻譯成門(mén)級(jí)網(wǎng)表（netlist）的過(guò)程。

在做綜合時(shí)要設(shè)定約束條件，如電路面積、時(shí)序要求等目標(biāo)參數(shù)。

工具：synopsys的Design compiler, 綜合后把網(wǎng)表交給后端。

芯片后端設(shè)計(jì)

后端設(shè)計(jì)也就是從輸入網(wǎng)表到輸出GDSII文件的過(guò)程：主要分為以下六個(gè)步驟：

1.邏輯綜合

2.形式驗(yàn)證

3.物理實(shí)現(xiàn)

4.時(shí)鐘樹(shù)綜合-CTS

5.寄生參數(shù)提取

6.版圖物理驗(yàn)證

1.邏輯綜合

在前端最后一步已經(jīng)講過(guò)了，在此不做贅述。

2. 形式驗(yàn)證

驗(yàn)證芯片功能的一致性

不驗(yàn)證電路本身的正確性

每次電路改變后都需驗(yàn)證

形式驗(yàn)證的意義在于保障芯片設(shè)計(jì)的一致性，一般在邏輯綜合，布局布線完成后必須做。

工具：synopsys Formality

4. 物理實(shí)現(xiàn)

物理實(shí)現(xiàn)可以分為三個(gè)部分:

布局規(guī)劃 floor plan

布局 place

布線 route

1、布圖規(guī)劃floor plan

布圖規(guī)劃是整個(gè)后端流程中作重要的一步，但也是彈性最大的一步。因?yàn)闆](méi)有標(biāo)準(zhǔn)的最佳方案，但又有很多細(xì)節(jié)需要考量。

布局布線的目標(biāo)：優(yōu)化芯片的面積，時(shí)序收斂，穩(wěn)定，方便走線。

工具：IC compiler，Encounter

布圖規(guī)劃完成效果圖：

2、布局

布局即擺放標(biāo)準(zhǔn)單元，I/O pad，宏單元來(lái)實(shí)現(xiàn)個(gè)電路邏輯。

布局目標(biāo)：利用率越高越好，總線長(zhǎng)越短越好，時(shí)序越快越好。

但利用率越高，布線就越困難；總線長(zhǎng)越長(zhǎng)，時(shí)序就越慢。因此要做到以上三個(gè)參數(shù)的最佳平衡。

布局完成效果圖：

3、布線

布線是指在滿足工藝規(guī)則和布線層數(shù)限制、線寬、線間距限制和各線網(wǎng)可靠絕緣的電性能約束條件下，根據(jù)電路的連接關(guān)系，將各單元和I/O pad用互連線連接起來(lái)。

4. 時(shí)鐘樹(shù)綜合——CTS

Clock Tree Synthesis，時(shí)鐘樹(shù)綜合，簡(jiǎn)單點(diǎn)說(shuō)就是時(shí)鐘的布線。

由于時(shí)鐘信號(hào)在數(shù)字芯片的全局指揮作用，它的分布應(yīng)該是對(duì)稱式的連到各個(gè)寄存器單元，從而使時(shí)鐘從同一個(gè)時(shí)鐘源到達(dá)各個(gè)寄存器時(shí)，時(shí)鐘延遲差異最小。這也是為什么時(shí)鐘信號(hào)需要單獨(dú)布線的原因。

5. 寄生參數(shù)提取

由于導(dǎo)線本身存在的電阻，相鄰導(dǎo)線之間的互感,耦合電容在芯片內(nèi)部會(huì)產(chǎn)生信號(hào)噪聲，串?dāng)_和反射。這些效應(yīng)會(huì)產(chǎn)生信號(hào)完整性問(wèn)題，導(dǎo)致信號(hào)電壓波動(dòng)和變化，如果嚴(yán)重就會(huì)導(dǎo)致信號(hào)失真錯(cuò)誤。提取寄生參數(shù)進(jìn)行再次的分析驗(yàn)證，分析信號(hào)完整性問(wèn)題是非常重要的。

工具Synopsys的Star-RCXT

6.版圖物理驗(yàn)證

這一環(huán)節(jié)是對(duì)完成布線的物理版圖進(jìn)行功能和時(shí)序上的驗(yàn)證，大概包含以下方面：

LVS（Layout Vs Schematic）驗(yàn)證：簡(jiǎn)單說(shuō)，就是版圖與邏輯綜合后的門(mén)級(jí)電路圖的對(duì)比驗(yàn)證；

DRC（Design Rule Checking）：設(shè)計(jì)規(guī)則檢查，檢查連線間距，連線寬度等是否滿足工藝要求；

ERC（Electrical Rule Checking）：電氣規(guī)則檢查，檢查短路和開(kāi)路等電氣規(guī)則違例；

實(shí)際的后端流程還包括電路功耗分析，以及隨著制造工藝不斷進(jìn)步產(chǎn)生的DFM（可制造性設(shè)計(jì)）問(wèn)題等。

物理版圖以GDSII的文件格式交給芯片代工廠（稱為Foundry）在晶圓硅片上做出實(shí)際的電路。

GDSII效果版圖

最后進(jìn)行封裝和測(cè)試，就得到了我們實(shí)際看見(jiàn)的芯片。

芯片設(shè)計(jì)的流程是紛繁復(fù)雜的，從設(shè)計(jì)到流片耗時(shí)長(zhǎng)（一年甚至更久），流片成本高，一旦發(fā)現(xiàn)問(wèn)題還要迭代之前的某些過(guò)程。

作者：溫戈

來(lái)源：知乎