1.測試目的：評估晶體振蕩器驅(qū)動電路的驅(qū)動能力，保證晶體振蕩器穩(wěn)定振蕩。

2. 所需設備

可調(diào)穩(wěn)壓電源、示波器、可調(diào)電阻、萬用表

3.測試步驟說明

(1) 參數(shù)計算

a)為保證晶體振蕩器穩(wěn)定振蕩，晶體振蕩器的負性阻抗(-R)至少為晶體振蕩器阻抗的5倍以上，即|-R| 》 5RL

b)RL的計算：

RL=R1*(1+C0/CL)2

其中，R1：晶體振蕩器的等效串聯(lián)阻抗(Effective SeriesResistance)，可在晶體振蕩器的Datasheet中查詢;

C0：晶體振蕩器的寄生電容(Shunt Capacitance)， 可在晶體振蕩器的Datasheet中查詢;

CL：晶體振蕩器的負載電容，

CL=CT+CS

CT=(Cg*Cd)/(Cg+Cd)

CS：線路上分布的雜散電容 ，一般的典型值為5pf;

Cg和Cd如圖1，一般在電路設計中取相同的值

圖1 RL的計算

(2) 負性阻抗的測試

測試電路如下：

圖2 負性阻抗的測試

a)串聯(lián)可調(diào)電阻R到晶體振蕩器的輸出端(MCU芯片的EXTAL);

b)使用可調(diào)穩(wěn)壓電源按照所測電路板的供電需求給電路板供電，將示波器探頭接在可調(diào)電阻2腳(如圖2，靠近MCU芯片的EXTAL端)測試晶體振蕩器的振蕩波形，調(diào)整可調(diào)電阻R，使晶體振蕩器由起振至停止振蕩;

c)當電路由起振至停止振蕩時，關(guān)閉可調(diào)穩(wěn)壓電源的輸出，用萬用表測量R值;

d)計算晶體振蕩器的負性阻抗|-R| = R+RL，RL為晶體振蕩器的的負載阻抗值。

4. 測試合格準則

晶體振蕩器的負性阻抗(-R)至少為晶體振蕩器阻抗的5倍以上，即|-R| 》 5RL

5. 注意事項

(1)該項測試中，可先行計算晶體振蕩器的負載阻抗RL，然后根據(jù)5倍RL的值選擇一個阻值合適的可調(diào)電阻器;

(2)在測試的過程中，可能會出現(xiàn)可調(diào)電阻R已經(jīng)調(diào)到最大，并且此時R》》5RL，但晶體振蕩器仍然沒有停止振蕩，此時認為晶體振蕩器是可以穩(wěn)定振蕩的，若此時R值大約為n倍的RL，測試記錄中可寫|-R| 》(n+1) RL。