據(jù)麥姆斯咨詢報道，世界領先的納米電子和數(shù)字技術研究與創(chuàng)新中心Imec于2018年1月25日宣布，將在2月的舊金山SPIE西部光電技術展（SPIE Photonics West）上展示其首款短波紅外（SWIR）波段高光譜成像相機。這款相機集成了基于CMOS的光譜濾波器和基于InGaAs的成像器，因此結合了CMOS技術的小巧和低成本以及InGaAs的光譜范圍。

過去5年來，由Imec設計并制造的CMOS半導體高光譜圖像濾波器，已經以單片集成的方式應用于硅基CMOS圖像傳感器，其感光范圍為400~1000nm波段的可見光和近紅外光（VNIR）。然而，有研究預計將有超過一半的商用多光譜及高光譜成像應用需要鑒別1000~1700nm波段的短波紅外（SWIR）光譜數(shù)據(jù)。

Imec集成成像研究項目經理Andy Lambrechts認為，“SWIR波段是高光譜成像的關鍵，這是因為該波段可以提供極具價值的定量信息，例如食品、植物、人體組織、藥物粉末等有機物和無機物中水、脂肪、脂質和蛋白質的含量，以及塑料、紙張、木材和許多其它材料的關鍵辨別特性。Imec憑借其在光學濾波器設計及制造中的核心能力，以及為確保復雜、堅固的緊湊型低成本高光譜成像系統(tǒng)解決方案穩(wěn)定交付，而持續(xù)積累的專業(yè)技術能力，水到渠成地將其產品供應擴展到了SWIR波段。”

Imec首款SWIR波段高光譜成像儀不僅具有32到100個或以上的光譜帶線性掃描“階梯濾波器”設計，還支持快照馬賽克解決方案，可以在視頻拍攝速度下實時捕捉4到16個光譜帶。該款帶有USB 3.0和以太網（GIGE）接口的高光譜成像儀目前正在與戰(zhàn)略合作伙伴進行認證中。

Imec集成成像和視覺系統(tǒng)業(yè)務開發(fā)經理Jerome Baron解釋道，“InGaAs成像行業(yè)正處于發(fā)展的轉折時期。目前市場已逐步認識到，SWIR波段高光譜成像儀在眾多應用領域的發(fā)展前景已超越了軍事、遙感及科學技術等傳統(tǒng)利基領域，對如Imec這樣的研究機構來說，在SWIR波段發(fā)展緊湊型低成本堅固高光譜成像儀的時機剛剛好。Imec的目標是在該技術最具價格敏感性的市場中推進產品業(yè)務，此類常見市場包括食品分選、廢物管理及回收、工業(yè)機器視覺、精準農業(yè)和醫(yī)療診斷等。”

Imec首款SWIR波段高光譜成像儀將于2018年2月1日在SPIE西部光電技術展（SPIE Photonics West）上展示，展位位于舊金山莫斯科恩中心北大廳#4321。

圖為Imec的高光譜SWIR波段成像儀初步測試結果：a）短波紅外成像儀，b）1.1~1.7μm波段校準后的100 +光譜帶分析圖，c）640 x 480像素空間分辨率的人手和像素級100 +光譜帶階梯濾波器沉積和圖案化的實時原始圖像（RAW image），d）掃描后皮膚反射率的光譜圖

圖為在SWIR波段使用Imec的1.1~1.7 μm波段內LS 100+光譜帶的高光譜成像，可將堅果與堅果殼進行分類

圖為在SWIR波段使用Imec的1.1~1.7 μm波段內LS 100+光譜帶的高光譜成像，可對各種不同的紡織品進行分類