示波器作為數(shù)字信號(hào)調(diào)試和分析的通用工具，近十多年來在高速串行信號(hào)的一致性測試和分析中得到了廣泛應(yīng)用，從最初的 USB2.0/Ethernet 等到當(dāng)下熱門 HDMI2.0/USB3.x/Display Port/PCIE等。近幾年，隨著信號(hào)速率的持續(xù)推高和信號(hào)處理技術(shù)發(fā)展的需要，示波器在高速眼圖調(diào)試和分析中也已經(jīng)日益成為最重要的工具，廣泛應(yīng)用在 10G/40G/100G 高速信號(hào)傳輸?shù)难蹐D調(diào)試中。

傳統(tǒng)上，我們通常對(duì)示波器的四個(gè)常規(guī)指標(biāo)如帶寬，采樣率，存儲(chǔ)和觸發(fā)的重要性都有很深刻的認(rèn)識(shí)，本文在此不再贅述。

首先我們來看看示波器的本底噪聲來自于哪里？

典型的數(shù)字示波器的架構(gòu)如下圖1示：

▲圖1示波器的典型結(jié)構(gòu)圖

示波器的模擬帶寬主要取決于衰減器，其主要作用是將大信號(hào)衰減到ADC的最佳工作量程范圍內(nèi)，而放大器則是為了對(duì)小信號(hào)放大到ADC的最佳工作量程范圍內(nèi)。示波器的本底噪聲也主要來自于上圖中的衰減器和前置放大器部分,這是任何電路和部件本身無法完全消除的，這個(gè)本底噪聲會(huì)疊加在信號(hào)上，ADC在采樣時(shí)是無法區(qū)分的也即ADC采樣時(shí)會(huì)全部量化，而這個(gè)本底噪聲也會(huì)被當(dāng)成為信號(hào)的一部分。衰減器在對(duì)信號(hào)衰減后，示波器在完成采樣后做信號(hào)處理時(shí)重新放大信號(hào),而這個(gè)重新放大的過程同時(shí)也會(huì)把前端的衰減器的本底噪聲進(jìn)行放大。

▲圖2 本底噪聲如何引入示意

因此作為示波器前端部件性能的衡量指標(biāo)的本底噪聲數(shù)值就成為示波器產(chǎn)品手冊(cè)上必須標(biāo)注的一個(gè)指標(biāo)。

那么這一指標(biāo)參數(shù)到底對(duì)高速串行信號(hào)眼圖測試的影響有多大呢？

眼圖測試的必測參數(shù)之一是眼高：

▲圖3 眼圖測試示意圖

上圖是一個(gè)典型的眼圖測試各指標(biāo)的示意圖。其中眼高定義如下：

Eye Height = (PTopmean-3*PTopsigma)-(PBasemean+3*PBasesigma)

PTopsigma即為眼圖波形頂部的噪聲標(biāo)準(zhǔn)偏差或均方根值，PBasesigma為眼圖波形底部的噪聲標(biāo)準(zhǔn)偏差或均方根值。由此可見，眼高最終結(jié)果與波形噪聲標(biāo)準(zhǔn)偏差有直接關(guān)系。而波形噪聲標(biāo)準(zhǔn)偏差不僅僅與波形本身有關(guān)，如前文所述與示波器的本底噪聲也是緊密相關(guān)的。

如下圖示，即便是同品牌同帶寬的示波器產(chǎn)品, 本底噪聲水平也是不同的。這里是兩款 4 GHz 帶寬示波器測試同一個(gè)信號(hào)的眼圖。兩款示波器的帶寬、垂直/水平設(shè)置完全相同。您可以看到, 右圖 Infiniium S 系列示波器由于其低噪底和10bit ADC等特性更真實(shí)地再現(xiàn)了信號(hào)的眼圖, 眼圖高度比左圖高 200 mV,提供了一個(gè)誤差更小精度更高的測量結(jié)果。

▲圖4 不同底噪的示波器眼圖測試效果差異

以上我們討論了示波器的本底噪聲對(duì)串行信號(hào)眼圖測試精度的直接影響。

在眾多接口類高速串行信號(hào)物理層一致性測試(Compliance Test)中,如 USB3.x/ HDMI2.0/DP/SATA/PCIE3.0/SFP+ 等，為了實(shí)現(xiàn)一致性測試的標(biāo)準(zhǔn)化和兼容性通常采用夾具配合高頻電纜將信號(hào)連接到示波器上。隨著信號(hào)速率的持續(xù)推高，夾具的有限帶寬正在日益成為高速信號(hào)測試中的誤差來源之一。以HDMI2.0測試為例，下圖是由Wilder公司提供的HDMI2.0 TPA-P夾具。根據(jù)Wilder公司的數(shù)據(jù)，去除(De-Embedding)夾具中的連接器引起的損耗后-3dB帶寬可達(dá)26.5GHz與去除之前相比有非常顯著的改善。也就是說在實(shí)際的測試系統(tǒng)中，由于夾具有限性能引入了額外的測試誤差，事實(shí)上夾具本身不是真實(shí)運(yùn)行系統(tǒng)中的一部分而只是為了歸一化測試環(huán)境和方便測試。在今天的高速串行信號(hào)測試中隨著信號(hào)速率的提高，系統(tǒng)裕量越來越小，夾具引入的測試誤差已經(jīng)成為不可忽略的因素,因此夾具的去嵌正在成為高速串行信號(hào)一致性測試中的一部分。

▲圖5 Wilder公司HDMI2.0夾具和夾具去嵌效果示意圖

既然去嵌如此重要，那么去嵌的原理是什么呢？

▲圖6 夾具去嵌理論示意圖

如上圖所示,最下方的曲線是夾具本身的頻響曲線,其-3dB頻點(diǎn)在5GHz左右。采用黃色曲線進(jìn)行逆向放大后得到最終中間的曲線其-3dB頻點(diǎn)在9GHz左右，大大的補(bǔ)償了夾具在5GHz-9GHz的損耗.前面描述的這個(gè)過程就是夾具的去嵌(De-Embedding),也就是說通過這個(gè)信號(hào)處理將額外的為了方便測試和標(biāo)準(zhǔn)化而引入的夾具帶來的信號(hào)損耗或誤差進(jìn)行了放大補(bǔ)償。在這個(gè)放大的過程中，除了對(duì)信號(hào)進(jìn)行放大，也會(huì)放大示波器的本底噪聲,從而引入更多額外的測試誤差和不確定性。因此低本底噪聲的示波器會(huì)帶來更高的眼圖張開度,即眼高。

以上討論的對(duì)夾具所做的去嵌的處理，有時(shí)也會(huì)用在對(duì)電纜上。在Infiniium系列示波器上有可以自動(dòng)完成對(duì)夾具和電纜的去嵌的選件。

如圖7所示，左邊的眼圖是沒有做電纜損耗去嵌之前測試的結(jié)果，右邊的眼圖是去嵌電纜損耗后得到的結(jié)果，很明顯地眼睛張開度大幅提高了35mV左右。但是同時(shí)也可以看到眼睛的眼皮變厚了即噪聲在這個(gè)過程中不可避免地被放大了。低本底噪聲的示波器在這個(gè)去嵌放大的過程中由于其低本底噪聲必然會(huì)得到更加優(yōu)異的測試效果。更多關(guān)于夾具和電纜去嵌及嵌入的方法。具體請(qǐng)參考文獻(xiàn)5.

▲圖7 去嵌前后眼圖測試效果對(duì)比

今天的串行高速信號(hào)處理中，除了上面提到的夾具和電纜去嵌對(duì)本底噪聲的放大的影響外，還有一個(gè)更為普遍的是高速串行鏈路接收端(Receiver)里的均衡(Equalization)，包括前向均衡FFE(Feed-ForwardEqualization)和后向均衡DFE(Decision Feedback Equalization).典型地如USB3.x Gen1 5Gbps里的接收機(jī)里的CTLE(Continuous Linear Equalizer,FFE的一種)均衡：

▲圖8 USB3.0接收端CTLE均衡示意圖

上圖中可以看到800MHz-8GHz頻帶范圍內(nèi)，接收機(jī)里的CTLE對(duì)信號(hào)均在作一放大，最高達(dá)3dB左右。這一放大主要是為了補(bǔ)償信號(hào)由于傳輸鏈路的的有限帶通引起的損耗。在實(shí)際的測試過程中，無論是夾具還是示波器的探頭都不可能探測到接收機(jī)里的均衡后信號(hào)。因此這個(gè)均衡處理都需要示波器里的分析軟件來完成，比如針對(duì)USB3.x測試,如下圖所示中紅色標(biāo)線處的CTLE On即代表示波器的一致性分析軟件里接收端的CTLE均衡算法將打開：

▲圖9 USB3.1 一致性測試軟件設(shè)置界面

當(dāng)示波器軟件執(zhí)行均衡算法時(shí)必然也會(huì)放大儀器的本底噪聲，從而削減預(yù)留的裕量。在均衡放大的過程中類似于夾具去嵌，除了對(duì)信號(hào)進(jìn)行放大，也會(huì)放大示波器的本底噪聲,從而引入更多額外的測試誤差和不確定性。因此同理低本底噪聲的示波器會(huì)帶來更高的眼圖張開度,即眼高。

在很多標(biāo)準(zhǔn)的一致性測試中，引入夾具進(jìn)行規(guī)范化的一致性測試。但是在某些場合下也需要采用探頭進(jìn)行測試，比如需要高阻測試的場合或者多鏈路同時(shí)測試比如HDMI2.0等。探頭本身也是會(huì)有一定衰減,當(dāng)探頭在示波器外部對(duì)信號(hào)衰減的時(shí)候，示波器會(huì)再對(duì)信號(hào)進(jìn)行放大，這個(gè)放大過程也會(huì)對(duì)示波器的本底噪聲進(jìn)行放大，從而削減系統(tǒng)預(yù)留的裕量，最終在測試結(jié)果上就是會(huì)削減眼圖張開度即眼高。

本文主要就示波器的本底噪聲對(duì)高速串行信號(hào)的眼圖測試結(jié)果的影響做了一些初步的介紹和討論，主要有以下幾點(diǎn)：

當(dāng)然在示波器使用過程中還有一些其它的小的設(shè)置可能也會(huì)影響到測量的精度，比如檔位和垂直偏移等等,本文就不再討論了。

因此到這里，本文不僅僅是在討論示波器的本底噪聲如何影響眼睛張開度，也是在說明如果遇到眼睛張開度不夠即眼高測試失敗，如何嘗試解決問題的一些思路或者角度。

示波器乃至整個(gè)測量系統(tǒng)的本底噪聲對(duì)眼圖張開即眼高測試結(jié)果有很大的影響，當(dāng)然對(duì)整個(gè)系統(tǒng)的其它評(píng)價(jià)指標(biāo)如抖動(dòng)乃至誤碼率BER(Bit Error Ratio)當(dāng)然也會(huì)產(chǎn)生很大影響。由于篇幅有限，在這里本文不再討論了。

在今天的串行信號(hào)速率日益推高的趨勢下低電壓，高轉(zhuǎn)換速率的特點(diǎn)必然帶來系統(tǒng)預(yù)留的設(shè)計(jì)裕量日益緊縮。另一方面，源自于市場的降成本的壓力也會(huì)持續(xù)的壓縮設(shè)計(jì)裕量。因此采用低本底噪聲示波器進(jìn)行測試為系統(tǒng)設(shè)計(jì)保留更多的裕量已經(jīng)成為廣大業(yè)界從業(yè)人員的明智選擇。進(jìn)而示波器的本底噪聲也正在成為高速示波器繼帶寬，采樣，存儲(chǔ)和觸發(fā)后第五個(gè)重