放大器的測試指標可以分為兩類：線性指標測試和非線性指標測試。線性指標的測試基于S參數(shù)的測量，采用常規(guī)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀完成。對于非線性指標的測試，傳統(tǒng)測試方案采用頻譜儀加信號源方法，但這種方案有很多缺點：1）無法實現(xiàn)同步掃頻、掃功率測試。2）不能進行相位測量，如幅度相位轉(zhuǎn)化（AM/PM）測量。

R&S ZVB采用創(chuàng)新的硬件結(jié)構(gòu)，其輸出功率很高、功率掃描范圍寬，因而無需另外單獨使用前置放大器，一次掃描即可確定放大器功率壓縮特性。ZVB采用了強大的自動電平控制設(shè)計以及高選擇性、高靈敏性的接收機，因而可在較寬的動態(tài)范圍下進行放大器的諧波測試而無需使用外部濾波器。

此外R&S ZVB提供了豐富的測試功能和友好的操作界面，使得放大器的各種指標測試變得簡單又直觀。

端口匹配特性測量

端口匹配特性主要測試端口的S11與S22參數(shù)。如端口1的S11參數(shù)等于反射信號b1與入射信號a1之比：

S11參數(shù)也可稱為輸入反射因子。S11為復(fù)數(shù)，工程上通常用回波損耗(RL)和駐波比(VSWR)來表達端口的匹配程度。S11與這兩個參數(shù)的關(guān)系如下：

回波損耗 RL ＝ - 20log(r)，其中r = |S11|

駐波比 

以上兩個參數(shù)與S11的換算由ZVB自動完成，用戶只需要在[Format] 菜單中選擇[dB Mag]->回波損耗，[SWR]->駐波比，就可以顯示相應(yīng)的測試曲線。

ZVB提供軌跡統(tǒng)計功能[Trace Statistics]，可自動顯示軌跡的最大值、最小值和峰－峰值，并且可以通過設(shè)置 [Eval Range]，來調(diào)整統(tǒng)計頻率范圍。該功能對帶限器件（如濾波器）的帶內(nèi)指標測試非常有用。

在電路設(shè)計的過程中，精確輸入阻抗信息對于設(shè)計人員更為重要。比如：在手機板設(shè)計中，設(shè)計人員要精確測試前端放大器的輸入、輸出阻抗，然后根據(jù)輸入、輸出阻抗信息設(shè)計對應(yīng)的匹配網(wǎng)絡(luò)，達到手機的最大功率發(fā)射和最佳的整機靈敏度。輸入阻抗與S11的關(guān)系如下：

， 其中Z0=50Ω

用戶通過選擇[Format] 鍵中的[Smith]菜單顯示阻抗測試軌跡，通過設(shè)置Marker可以方便的測得每一頻點對應(yīng)的輸入電抗和電阻。另外ZVB標配的虛擬加嵌功能，能模擬在輸入、輸出端口加上虛擬的匹配網(wǎng)絡(luò)之后整個網(wǎng)絡(luò)的性能。該功能大大簡化了設(shè)計人員的工作量，無需實際的電路調(diào)整，就能預(yù)測調(diào)整后的DUT性能。用戶通過選擇[Mode]菜單中的[Virtual Transform]來激活該功能。

傳輸參數(shù)測量

除了端口匹配特性的測量，放大器前向放大和反向隔離特性也可分別由測試S21和S12得到。前向的傳輸參數(shù)S21等于在端口2測得前向功率b2與端口1的激勵功率a1的比值：

而放大器的增益等于S21絕對幅度的對數(shù)值：

增益 Gain ＝

反向的傳輸參數(shù)S12等于在端口1測得反向功率b1與端口2的激勵功率a2的比值：

而放大器的反向隔離度等于S12絕對幅度的對數(shù)值：

隔離度  Isolation = -20log( |S12| )

用戶只需分別設(shè)置S21和S12的 顯示格式為dB（[format] -> [dB Mag]），放大器增益和隔離度即可同時顯示在ZVB上。

功率壓縮特性測量

功率壓縮特性的測試主要用來衡量待測件（DUT）的線性度。對于放大器的測試，工程上通常采用輸出功率1 dB壓縮點（P1dB ）來表征該特性。P1dB的定義為：隨著輸入功率的增加，放大器的增益下降到比線性增益低1dB時的輸出功率值，如圖1所示。

ZVB不僅可以測量參數(shù)隨頻率變化的曲線還可以測量參數(shù)隨輸入功率變化的曲線。ZVB內(nèi)置信號源可以提供非常大的功率掃描范圍，其典型值為60dB，而且60dB的功率掃描范圍完全由電子衰減器來實現(xiàn)而非采用傳統(tǒng)的機械步進衰減器。機械式衰減器的幅度可重復(fù)度較差且使用壽命較短，所以ZVB特別適合測試有源器件的功率壓縮特性。

ZVB提供多通道（Channel）的測試功能，不同的通道可以設(shè)置不同的掃描方式，所以可以在一個通道內(nèi)設(shè)置頻率掃描用于測試S參數(shù)，而在另一通道內(nèi)設(shè)置成功率掃描用于測量功率壓縮特性，這樣調(diào)試人員就可以在調(diào)試放大器S參數(shù)的同時，觀察放大器P1dB的變化。用戶可通過[Chan select]鍵，選擇[Add Channel + Trace +Diag Area] 菜單來增加一個測試通道，然后選擇[Sweep]鍵中的[Sweep type]菜單，選擇[Power]就可以進行功率掃描測試。另外ZVB 在軌跡統(tǒng)計功能[Trace Statistics]中提供了自動尋找增益壓縮點的功能[Compression Point]，方便用戶快速讀值。

P1dB的測量涉及到S21隨著絕對輸入功率變化的曲線，而矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀通常用于S參數(shù)相對量的測量。為了提高其絕對測量精度，推薦使用的功率計對矢量網(wǎng)絡(luò)做功率校準。R&S公司的NRP系列功率計可以通過USB接口直接和ZVB連接，從而省掉功率計主機和昂貴的GPIB卡。ZVB功率校準過程分成兩個過程：矢量網(wǎng)絡(luò)的內(nèi)部源幅度校準和接收機幅度校準。在第一個過程中將功率探頭直接和矢量網(wǎng)絡(luò)的源端口連接，對應(yīng)選擇 [CAL]鍵下的菜單[Start Power Cal]-> [Souce Power Cal]。第二步將已校準的源端口和接收端口連接進行接收機的校準，對應(yīng)選擇 [CAL]鍵下的菜單[Start Power Cal]-> [Receiver Power Cal]。

諧波測量

隨著激勵功率的增加，放大器將進入非線性工作區(qū)，不僅會出現(xiàn)輸出功率壓縮現(xiàn)象，還會出現(xiàn)非線性頻率分量。這些新的頻率輸出分量多為輸入頻率的整數(shù)倍，稱為諧波分量。設(shè)計人員往往比較關(guān)心的是輸入基波分量與諧波分量的幅度差值，因為幅度差越大，意味著在同樣的直流輸入功率情況下，更多的功率轉(zhuǎn)換為所需的基波功率，而非諧波功率，也可視為提高了放大器的效率。

傳統(tǒng)的放大器的諧波測量是通過信號源加頻譜儀的方式實現(xiàn)，即用信號源作為激勵信號源，頻譜儀觀測基波和諧波的信號幅度。放大器的諧波測試往往需要測量不同輸入基波功率對應(yīng)的諧波輸出功率，或者測試不同的頻率點上同一輸入基波功率對應(yīng)的諧波輸出功率。傳統(tǒng)的方法須手動記錄或者編寫自動測試程序進行測試。

相對于這些繁瑣的方法，ZVB提供了更為靈活的解決方法。ZVB打破了傳統(tǒng)矢量網(wǎng)絡(luò)信號源和接收機必須工作在同一頻率上的限制，可以使矢量網(wǎng)絡(luò)信號源和接收機工作在不同的頻率點上。具體對于諧波測量而言，可以讓矢量網(wǎng)絡(luò)源輸出基波信號，而接收機工作在諧波頻率上，并可方便實現(xiàn)對基波輸入頻率或輸入功率的掃描測試（圖2）。對應(yīng)ZVB的設(shè)置：可先通過[Chan Select]+[Add channel +trace+Diag Area]的方法來添加一個新的觀測窗口和新的測試通道。然后在[Mode]鍵下選擇[Harmonics]進入諧波測試模式，而后通過選擇 2nd、3rd或者輸入其它諧波次數(shù)來測量對應(yīng)的諧波。

對于測試絕對諧波功率對輸入基波功率的變化，同樣推薦在測試前應(yīng)該進行功率校準。ZVB也提供諧波功率校準的方法。通過[Harmonic Power Cal] 進入功率校準對話框，其基本操作過程與測試放大器功率壓縮特性時相同，只不過在進行源功率校準時的頻率為整個測試頻率，而在接收機校準時的頻率為諧波頻率而已。

幅度相位轉(zhuǎn)化測量

放大器的非線性特性除了功率壓縮和產(chǎn)生諧波頻率兩個方面外，還有相位非線性特征，即隨著輸入功率的改變，放大器插入相移的變化。工程上通常采用AM/PM轉(zhuǎn)化來描述，其具體的定義為：輸入功率每變化1dB，插入相移的改變量，單位為Degrees/dB(圖3)。

同功率壓縮特性的測量一樣，應(yīng)設(shè)置ZVB掃描類型 [Sweep Type] 為功率掃描 [Power]。測試軌跡為S21，但顯示格式[Format]應(yīng)設(shè)置為相位方式[Phase]。在測試過程中，可使用ZVB 提供Delta Marker與Reference功能方便地讀值。

穩(wěn)定性因子測量

理想狀況下放大器的輸入、輸出端接阻抗應(yīng)該為50Ω，但是在實際的電路環(huán)境下往往并非如此。而有些放大器在某些端接阻抗可能出現(xiàn)自激振蕩，從而產(chǎn)生許多無用雜散輸出信號。放大器的穩(wěn)定性是指放大器對產(chǎn)生自激振蕩的抑制能力。工程上一般把放大器的穩(wěn)定性狀況分為兩種情況：絕對穩(wěn)定和條件穩(wěn)定。絕對穩(wěn)定是指在任何端接阻抗條件下都不出現(xiàn)振蕩，而條件穩(wěn)定是指如果端接阻抗選擇的合適將不出現(xiàn)振蕩現(xiàn)象，但在某些端接阻抗上將出現(xiàn)自激振蕩。

穩(wěn)定性因子有多種定義的方法，ZVB支持三種穩(wěn)定因子測量。穩(wěn)定性因子的測量基于S參數(shù)的測量，其S參數(shù)的關(guān)系如下：

對于絕對穩(wěn)定放大器必須滿足：K>1和兩個附加條件： 1-|S11|2>|S12.S21|與1-|S22|2>|S12.S21|。而采用m1和m2來描述就不需要附加條件，滿足m1>1或m2>1即可斷定放大器為絕對穩(wěn)定。

通過簡單的設(shè)置，ZVB就可進行放大器穩(wěn)定性測試（圖4），對應(yīng)選擇[Format]鍵下的[Stability]菜單，在彈出的對話框里選擇輸入、輸出端口和測試穩(wěn)定性因子的類型即可。

結(jié)束語

綜合所述，R&S ZVB 提供的眾多測試功能使其不僅適合放大器S參數(shù)測量也適合放大器幅度、相位非線性特性測量和穩(wěn)定度的測量，滿足放大器從設(shè)計到生產(chǎn)諸多測試需求。