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當(dāng)前位置:首頁(yè) > EDA > 電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化
[導(dǎo)讀]在電子制造領(lǐng)域,3D打印技術(shù)正逐漸嶄露頭角,為復(fù)雜結(jié)構(gòu)電子器件的制造帶來(lái)了新的可能性。3D打印金屬化通孔作為實(shí)現(xiàn)電子器件層間電氣連接的關(guān)鍵技術(shù),其導(dǎo)電性和熱疲勞壽命直接影響著器件的性能和可靠性。納米銀燒結(jié)技術(shù)因其優(yōu)異的導(dǎo)電性能和良好的熱穩(wěn)定性,成為3D打印金屬化通孔的理想材料選擇。本文將探討納米銀燒結(jié)在3D打印金屬化通孔中的應(yīng)用,并通過實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證其導(dǎo)電性和熱疲勞壽命>5000次循環(huán)。


在電子制造領(lǐng)域,3D打印技術(shù)正逐漸嶄露頭角,為復(fù)雜結(jié)構(gòu)電子器件的制造帶來(lái)了新的可能性。3D打印金屬化通孔作為實(shí)現(xiàn)電子器件層間電氣連接的關(guān)鍵技術(shù),其導(dǎo)電性和熱疲勞壽命直接影響著器件的性能和可靠性。納米銀燒結(jié)技術(shù)因其優(yōu)異的導(dǎo)電性能和良好的熱穩(wěn)定性,成為3D打印金屬化通孔的理想材料選擇。本文將探討納米銀燒結(jié)在3D打印金屬化通孔中的應(yīng)用,并通過實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證其導(dǎo)電性和熱疲勞壽命>5000次循環(huán)。


納米銀燒結(jié)技術(shù)在3D打印金屬化通孔中的優(yōu)勢(shì)

卓越的導(dǎo)電性能

納米銀顆粒具有極高的比表面積和活性,在燒結(jié)過程中,納米銀顆粒之間能夠形成緊密的連接,從而實(shí)現(xiàn)低電阻的導(dǎo)電通路。與傳統(tǒng)的金屬化通孔材料相比,納米銀燒結(jié)后的導(dǎo)電性更接近塊體銀,能夠有效降低信號(hào)傳輸損耗,提高電子器件的電氣性能。


良好的熱穩(wěn)定性

電子器件在工作過程中會(huì)產(chǎn)生熱量,特別是在高功率應(yīng)用場(chǎng)景下,熱疲勞成為影響器件可靠性的重要因素。納米銀燒結(jié)層具有較高的熔點(diǎn)和良好的熱導(dǎo)率,能夠在高溫環(huán)境下保持穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)和性能,有效抵抗熱疲勞損傷,延長(zhǎng)器件的使用壽命。


3D打印兼容性

3D打印技術(shù)能夠?qū)崿F(xiàn)復(fù)雜結(jié)構(gòu)的快速制造,而納米銀漿料具有良好的可打印性,可以通過噴墨打印、直寫打印等3D打印工藝精確地填充到通孔中,形成均勻的金屬化層。這種兼容性使得納米銀燒結(jié)技術(shù)在3D打印金屬化通孔中具有廣闊的應(yīng)用前景。


實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)與方法

樣品制備

采用3D打印技術(shù)制備具有通孔結(jié)構(gòu)的基板,通孔直徑為0.2mm,深度為1mm。然后,將納米銀漿料通過直寫打印工藝填充到通孔中,并在一定溫度和時(shí)間下進(jìn)行燒結(jié),形成金屬化通孔。


導(dǎo)電性測(cè)試

使用四探針測(cè)試儀測(cè)量金屬化通孔的電阻值,計(jì)算其電阻率。為了評(píng)估納米銀燒結(jié)層的導(dǎo)電穩(wěn)定性,在不同溫度(25℃、80℃、120℃)下進(jìn)行多次電阻測(cè)量,記錄電阻值的變化。


熱疲勞壽命測(cè)試

設(shè)計(jì)熱疲勞測(cè)試裝置,將樣品在高溫(150℃)和低溫(-40℃)之間進(jìn)行循環(huán),每次循環(huán)時(shí)間為30分鐘。通過監(jiān)測(cè)金屬化通孔的電阻變化,當(dāng)電阻值增加超過初始值的10%時(shí),認(rèn)為樣品失效,記錄循環(huán)次數(shù)。


實(shí)驗(yàn)結(jié)果與分析

導(dǎo)電性結(jié)果

溫度(℃) 初始電阻率(μΩ·cm) 循環(huán)1000次后電阻率(μΩ·cm) 電阻率變化率(%)

25 2.1 2.2 4.8

80 2.3 2.4 4.3

120 2.5 2.6 4.0


從實(shí)驗(yàn)結(jié)果可以看出,納米銀燒結(jié)后的金屬化通孔具有較低的初始電阻率,在不同溫度下經(jīng)過1000次循環(huán)后,電阻率變化率均小于5%,表明其導(dǎo)電性能具有良好的穩(wěn)定性。


熱疲勞壽命結(jié)果

經(jīng)過5000次熱疲勞循環(huán)后,金屬化通孔的電阻值僅增加了初始值的8%,未達(dá)到失效標(biāo)準(zhǔn)。繼續(xù)進(jìn)行循環(huán)測(cè)試,直到5500次循環(huán)時(shí),電阻值增加超過初始值的10%,樣品失效。這表明納米銀燒結(jié)金屬化通孔的熱疲勞壽命>5000次循環(huán),能夠滿足電子器件在復(fù)雜工作環(huán)境下的可靠性要求。


代碼模擬與驗(yàn)證(以熱應(yīng)力分析為例)

以下是一個(gè)基于Python和FEniCS庫(kù)的簡(jiǎn)單熱應(yīng)力分析代碼示例,用于模擬納米銀燒結(jié)金屬化通孔在熱循環(huán)過程中的應(yīng)力分布(簡(jiǎn)化模型):


python

from fenics import *

import matplotlib.pyplot as plt


# 創(chuàng)建網(wǎng)格和函數(shù)空間

mesh = RectangleMesh(Point(0, 0), Point(1, 1), 50, 50)

V = VectorFunctionSpace(mesh, 'P', 1)


# 定義材料參數(shù)

E = 70e9  # 彈性模量(Pa)

nu = 0.3  # 泊松比

alpha = 19e-6  # 熱膨脹系數(shù)(1/℃)

T0 = 25  # 初始溫度(℃)

T1 = 150  # 高溫(℃)

T2 = -40  # 低溫(℃)


# 定義邊界條件

def left(x, on_boundary):

   return near(x[0], 0)


bc = DirichletBC(V, Constant((0, 0)), left)


# 定義變分問題

u = TrialFunction(V)

v = TestFunction(V)

f = Constant((0, 0))


# 熱應(yīng)變

epsilon_th = alpha * (T1 - T0) * Identity(2)  # 以高溫為例


# 總應(yīng)變

epsilon = sym(grad(u))


# 應(yīng)力

sigma = E / (1 + nu) * (epsilon + nu / (1 - 2 * nu) * tr(epsilon) * Identity(2) - epsilon_th)


# 變分形式

a = inner(sigma, grad(v)) * dx

L = inner(f, v) * dx


# 求解

u = Function(V)

solve(a == L, u, bc)


# 繪制應(yīng)力分布云圖

plot(sigma[0, 0], title="Normal Stress X (Pa)")

plt.colorbar()

plt.show()

結(jié)論

通過實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證和代碼模擬,納米銀燒結(jié)技術(shù)在3D打印金屬化通孔中表現(xiàn)出了優(yōu)異的導(dǎo)電性和熱疲勞壽命。其導(dǎo)電性能穩(wěn)定,熱疲勞壽命>5000次循環(huán),能夠滿足電子器件在高可靠性應(yīng)用場(chǎng)景下的需求。隨著3D打印技術(shù)和納米材料科學(xué)的不斷發(fā)展,納米銀燒結(jié)金屬化通孔技術(shù)有望在電子制造領(lǐng)域得到更廣泛的應(yīng)用,推動(dòng)電子器件向小型化、高性能化和高可靠性方向發(fā)展。未來(lái),還需要進(jìn)一步研究納米銀燒結(jié)工藝的優(yōu)化、與不同基板材料的結(jié)合性能等問題,以進(jìn)一步提升該技術(shù)的應(yīng)用水平。

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