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[導(dǎo)讀]泰克公司推出的PCI Express接收器測試套件,通過自動(dòng)化軟件和行業(yè)領(lǐng)先的測試設(shè)備,顯著簡化了接收器測試的復(fù)雜性,同時(shí)確保與最新行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的同步發(fā)展。該測試套件支持從PCIe Gen3到Gen6的多種速率和規(guī)范,適用于多種應(yīng)用場景,包括系統(tǒng)級(jí)驗(yàn)證、硅片測試和合規(guī)性評(píng)估。通過自動(dòng)化校準(zhǔn)、鏈路訓(xùn)練和抖動(dòng)容限測試等功能,泰克解決方案為工程師提供了高效、精確的測試工具,助力其在高性能計(jì)算和通信領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)技術(shù)創(chuàng)新。

近二十年來,PCI Express技術(shù)已成為廣泛采用的高速串行接口連接標(biāo)準(zhǔn)。最新的PCIe規(guī)范滿足了數(shù)據(jù)密集型市場的需求,例如人工智能/機(jī)器學(xué)習(xí)和高性能計(jì)算。泰克PCIe自動(dòng)化測試解決方案能夠處理設(shè)置和校準(zhǔn),顯著降低了測試復(fù)雜性。與低噪音測量硬件相結(jié)合,可實(shí)現(xiàn)快速、準(zhǔn)確且可重復(fù)的信號(hào)完整性測量。作為PCI-SIG工作組的活躍投票成員,泰克擁有發(fā)射機(jī)、接收機(jī)、參考時(shí)鐘和鎖相環(huán)(PLL)驗(yàn)證所需的豐富專業(yè)知識(shí)。

泰克公司推出的PCI Express接收器測試套件,通過自動(dòng)化軟件和行業(yè)領(lǐng)先的測試設(shè)備,顯著簡化了接收器測試的復(fù)雜性,同時(shí)確保與最新行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的同步發(fā)展。該測試套件支持從PCIe Gen3到Gen6的多種速率和規(guī)范,適用于多種應(yīng)用場景,包括系統(tǒng)級(jí)驗(yàn)證、硅片測試和合規(guī)性評(píng)估。通過自動(dòng)化校準(zhǔn)、鏈路訓(xùn)練和抖動(dòng)容限測試等功能,泰克解決方案為工程師提供了高效、精確的測試工具,助力其在高性能計(jì)算和通信領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)技術(shù)創(chuàng)新。

泰克PCI Express接收器測試套件支持廣泛的速率和規(guī)范,包括PCIe Gen6(64 GT/s)、Gen5(32 GT/s)、Gen4(16 GT/s)和Gen3(8 GT/s),覆蓋以下應(yīng)用場景:

PCI Express 64 GT/s、32 GT/s、16 GT/s和8 GT/s

第6代/第5代/第4代/第3代基礎(chǔ)規(guī)范(硅驗(yàn)證)和第5代/第4代/第3代CEM規(guī)范(系統(tǒng)驗(yàn)證和合規(guī)性)

Root Complex和非Root Complex硅片

系統(tǒng)(主板和服務(wù)器)、插卡、交換機(jī)和橋接器、擴(kuò)展設(shè)備(重定時(shí)器和重驅(qū)動(dòng)器)

Stressed Eye校準(zhǔn)

泰克PCI Express接收器測試套件通過其自動(dòng)化軟件和向?qū)接脩艚缑?,為工程師提供了一種高效且精確的測試解決方案。該套件支持適用于Tektronix DPO70000SX系列實(shí)時(shí)示波器和Anritsu MP1900A BERT的接收器自動(dòng)化軟件,能夠引導(dǎo)用戶完成每一步校準(zhǔn)和測試流程。其彈出式用戶提示進(jìn)一步簡化了決策過程,同時(shí)支持最新的行業(yè)工具(如SigTest和Seasim);此外,該測試套件還提供詳細(xì)的校準(zhǔn)和測試報(bào)告,幫助用戶快速獲取關(guān)鍵數(shù)據(jù)。

PCI Express Gen6(64 GT/s)

Stressed Eye校準(zhǔn)(64 GT/s):支持64 GT/s速率,包括交流/直流平衡、幅度、四抽頭發(fā)送器(Tx)均衡、正弦抖動(dòng)和隨機(jī)抖動(dòng)校準(zhǔn),以及差分模式干擾(DMI)、共模干擾(CMI)、預(yù)設(shè)和CTLE選擇;

抖動(dòng)容限測試:通過Seasim統(tǒng)計(jì)仿真工具進(jìn)行插入損耗計(jì)算,支持自動(dòng)示波器噪聲補(bǔ)償。

PCI Express Gen5(32 GT/s)

Stressed Eye校準(zhǔn):支持32 GT/s速率,包括交流/直流平衡、幅度、四抽頭發(fā)送器(Tx)均衡、正弦抖動(dòng)和隨機(jī)抖動(dòng)校準(zhǔn),以及差分模式干擾(DMI)、共模干擾(CMI)、預(yù)設(shè)和CTLE選擇。

鏈路均衡測試:支持接收器和發(fā)送器鏈路均衡測試,提供高級(jí)調(diào)試模式。

由BERT的PPG(脈沖圖形發(fā)生器)生成的Stressed Eye信號(hào)的校準(zhǔn)至關(guān)重要,確保接收器在符合PCI-SIG規(guī)范的情況下進(jìn)行測試,并施加適當(dāng)?shù)母蓴_。在64 GT/s速率下的新挑戰(zhàn)要求采用Tektronix PCI Express接收器測試套件的全自動(dòng)化方法,以避免其他繁瑣且容易出錯(cuò)的方法。讓Tektronix工程師的領(lǐng)域?qū)I(yè)知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)引導(dǎo)您完成校準(zhǔn)步驟,從精確的TP3測量開始,直至在允許公差范圍內(nèi)輕松獲得TP2眼圖。工程師將花費(fèi)更少的時(shí)間在校準(zhǔn)上,更多的時(shí)間在收集接收器性能和裕量的有意義數(shù)據(jù)上。

TP3校準(zhǔn)

PCI Express第6代(64 GT/s)和第5代(32 GT/s)

TP3(從BERT PPG到示波器的電纜后的點(diǎn))校準(zhǔn)是所有設(shè)備的強(qiáng)制性步驟,以確保在定義的參考平面上滿足公差要求。Tektronix PCI Express接收器測試套件向?qū)⒁龑?dǎo)用戶完成所有必要步驟,以確保前通道信號(hào)符合規(guī)范要求,從而確保未來的校準(zhǔn)步驟順利完成。

1. 交流-直流平衡(AC-DC Balance) - 啟用少量的發(fā)送器均衡去強(qiáng)調(diào),以在共同的參考平面上平衡模式的低頻和高頻部分。

2. 幅度(Amplitude) - 差分電壓擺幅需要在720 – 800 mV范圍內(nèi)。

3. 發(fā)送器均衡預(yù)設(shè)(Tx Equalization Presets) - 校準(zhǔn)預(yù)擊1、預(yù)擊2(僅第6代)和去強(qiáng)調(diào),以確保在測試接收器時(shí)使用真實(shí)的預(yù)設(shè)電平。

4. 插入損耗測量(IL Measurement) - 使用Seasim在TP1和TP3之間計(jì)算通道插入損耗(在此處計(jì)算TP3參考點(diǎn)之前的損耗,以便稍后去除)。

5. 隨機(jī)抖動(dòng)(RJ) - RJ校準(zhǔn)為0.25 ps [第6代],0.5 ps [第5代](均方根值)名義上。

6. 正弦抖動(dòng)(SJ) - SJ校準(zhǔn)范圍為1-3 ps [第6代] / 1-5 ps [第5代](峰峰值),頻率為100 MHz。

7. SJ@210 MHz - 此校準(zhǔn)對(duì)于某些校準(zhǔn)中的JTOL(抖動(dòng)容忍度)測量是必需的。

8. 多音正弦抖動(dòng)(Multi-tone SJ) - 對(duì)于JTOL測量,最多使用14個(gè)頻率的校準(zhǔn),100 MHz以外的頻率也需要進(jìn)行校準(zhǔn)。

自動(dòng)表征和精確校準(zhǔn)預(yù)設(shè)、RJ和SJ以及用于校準(zhǔn)的重要參數(shù),如模式類型、示波器、BERT設(shè)置、回歸線斜率和截距等。

鏈路訓(xùn)練

在接收器測試之前,需要將被測設(shè)備(DUT)置于環(huán)回模式,在該模式下,接收器鎖存器處數(shù)字化的信號(hào)被對(duì)應(yīng)的發(fā)送器重新傳輸,使可能的比特或突發(fā)錯(cuò)誤可見。進(jìn)入環(huán)回測試模式需要在誤碼率測試儀(BERT)和DUT之間通過鏈路訓(xùn)練狀態(tài)機(jī)(LTSSM)進(jìn)行復(fù)雜的通信。Tektronix PCI Express接收器測試套件自動(dòng)化了這個(gè)過程,允許通過配置(短路徑)和恢復(fù)(完整訓(xùn)練鏈路Tx和Rx)的環(huán)回,用于不同級(jí)別的接收器測試。暴露相關(guān)參數(shù),使用戶在不增加不必要復(fù)雜性的情況下控制該過程。

鏈路訓(xùn)練配置

接收器和發(fā)送器鏈路均衡測試

在32 GT/s、16 GT/s和8 GT/s速率下,PCI Express合規(guī)性測試需要執(zhí)行接收器鏈路均衡測試(在完整鏈路訓(xùn)練后使用Stressed信號(hào)檢查模擬接收器性能)和發(fā)送器鏈路均衡測試(確保在接收器對(duì)其鏈路伙伴發(fā)出Tx變化請求時(shí)達(dá)到關(guān)鍵的數(shù)字定時(shí)限制)。

Tektronix PCI Express接收器測試套件在這些必需測試期間控制BERT和實(shí)時(shí)示波器,以提供高效的測試結(jié)果,同時(shí)僅在必要時(shí)提供控制。

高級(jí)調(diào)試模式為LEQ測試提供了額外的故障排除能力,允許定制應(yīng)力源、Tx預(yù)設(shè)、自定義模式、自動(dòng)搜索CTLE和時(shí)鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)(CDR)調(diào)諧。

Tx LEQ測試配置,Rx LEQ測試配置

測試軟件可以通過SCPI命令遠(yuǎn)程操作,允許與自定義測試流程的無縫集成。

抖動(dòng)容限(JTOL)測試

抖動(dòng)容限(JTOL)測試需要掃描多個(gè)校準(zhǔn)的正弦抖動(dòng)(SJ)音,從低幅度到高幅度,以觀察被測接收器的時(shí)鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)(CDR)如何跟蹤這些壓力(通常是在其他噪聲和抖動(dòng)源的存在下)。在測試過程中,可以配置自定義的JTOL通過/失敗掩碼,并使用不同的搜索算法(向上線性、對(duì)數(shù)等)。Tektronix PCI Express接收器測試套件允許工程師以最少的設(shè)置快速獲得詳細(xì)的測試報(bào)告。

JTOL測試配置設(shè)置

在JTOL測試中,提供了自定義掩碼和規(guī)范掩碼,以更好地理解DUT性能,特別是在設(shè)計(jì)階段。接收器解決方案執(zhí)行自動(dòng)反向通道均衡和采樣點(diǎn)優(yōu)化,以確保DUT傳輸?shù)臄?shù)據(jù)流在誤碼率測試儀接收器處被準(zhǔn)確理解,從而正確確定誤碼率(BER)性能。

JTOL測試結(jié)果與規(guī)范

PCIe PLL帶寬和峰值測試

該測試驗(yàn)證了插卡(AIC)發(fā)送器(Tx)鎖相環(huán)(PLL)是否具有正確的帶寬和峰值。為DUT提供100 MHz參考時(shí)鐘,并施加校準(zhǔn)的正弦抖動(dòng)(SJ),可以測量在特定SJ音調(diào)下通過DUT的Tx PLL的SJ量。通過多個(gè)音調(diào)執(zhí)行此過程,可以構(gòu)建PLL頻率響應(yīng)以測量帶寬和峰值。

泰克PCI Express接收器測試套件為第6/5/4/3代設(shè)備提供了全面的正弦抖動(dòng)(SJ)幅度校準(zhǔn)功能。該功能通過調(diào)制100 MHz參考時(shí)鐘來校準(zhǔn)DUT(被測設(shè)備)的Tx PLL,支持可調(diào)節(jié)的SJ幅度和用戶自定義的頻率選擇,確保在PLL的峰值和3dB點(diǎn)具有足夠的分辨率。此外,測試套件還支持增加平均值(建議使用5次平均)以最小化測量變動(dòng),同時(shí)配備軟件CTLE(連續(xù)時(shí)間線性均衡器),以支持高損耗通道和多種DUT Tx模式。

泰克測試套件還提供了精確的PLL帶寬和峰值測量功能,能夠根據(jù)選定的數(shù)據(jù)速率報(bào)告PLL的帶寬和峰值性能。DUT Tx可以在合規(guī)模式和抖動(dòng)測量模式之間切換,以滿足不同的測試需求。測試套件采用一致的DSP算法進(jìn)行SJ校準(zhǔn)和DUT測試,確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性和一致性。最終,測試報(bào)告將包含PLL帶寬、峰值、頻率響應(yīng)圖以及各個(gè)測量值的詳細(xì)信息,為工程師提供全面的測試數(shù)據(jù)支持。

PLL帶寬測試以及測試結(jié)果

了解泰克PCIe測試解決方案更多資料,請登錄:https://www.tek.com.cn/solutions/application/high-speed-serial-communication/pcie。

關(guān)于泰克科技

泰克公司總部位于美國俄勒岡州畢佛頓市,致力提供創(chuàng)新、精確、操作簡便的測試、測量和監(jiān)測解決方案,解決各種問題,釋放洞察力,推動(dòng)創(chuàng)新能力。70多年來,泰克一直走在數(shù)字時(shí)代前沿。歡迎加入我們的創(chuàng)新之旅,敬請登錄:tek.com.cn。

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