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[導(dǎo)讀]構(gòu)筑國產(chǎn)化合物半導(dǎo)體功率器件測試驗證的能力基石!

2023年6月15日,中國深圳——泰克科技(中國)有限公司和矽電半導(dǎo)體設(shè)備(深圳)股份有限公司戰(zhàn)略合作發(fā)布會在深圳創(chuàng)投大廈矽電總部召開,同一時間,泰克(中國)和矽電半導(dǎo)體宣布測試測量聯(lián)合實驗室正式成立。

矽電-泰克晶圓級探針測試測量聯(lián)合實驗室正式成立

毫無疑問,由于雙碳目標及綠色生態(tài)的政策傾向,ESG浪潮來襲,以SiC(碳化硅)和GaN(氮化鎵)為代表的第三代半導(dǎo)體已經(jīng)成為高性能器件廠商的優(yōu)先選擇,功率器件也成為中國半導(dǎo)體市場的新亮點。市場調(diào)研機構(gòu)Yole最新研究報告指出,全球功率半導(dǎo)體器件市場將從2020年的175億美元增長至2026年的262億美元,而其中約70%來自汽車市場。

隨之而來的是第三代半導(dǎo)體芯片和功率器件研發(fā)、生產(chǎn)中的測試測量難點和挑戰(zhàn),如高壓放電、大電流測試、高溫性能測試、超薄翹曲晶圓轉(zhuǎn)運等難題。

矽電半導(dǎo)體作為國內(nèi)半導(dǎo)體產(chǎn)線批量點測設(shè)備的頭部生產(chǎn)廠家,經(jīng)過20年的技術(shù)累積,掌握了探針測試多項核心關(guān)鍵技術(shù),其產(chǎn)品涵蓋集成電路、光電芯片、分立器件、第三代半導(dǎo)體等領(lǐng)域。泰克(中國)作為國際領(lǐng)先的測試測量解決方案供應(yīng)商,可以提供全流程半導(dǎo)體參數(shù)測試方案。泰克(中國)和矽電半導(dǎo)體的強強聯(lián)手,有助于高效解決業(yè)內(nèi)這些測試難點,在晶圓級測試節(jié)點提供WAT、CP、WLR、KGD等測試,在模塊級測試節(jié)點提供動靜態(tài)參數(shù)測試、封測和可靠性測試,覆蓋了整個化合物半導(dǎo)體功率器件全制程。

矽電-泰克晶圓級探針測試測量聯(lián)合實驗室正式成立

泰克(中國)和矽電半導(dǎo)體自2015年開展合作以來,在LEDWafer點測市場,取得了突破和進展。本次泰克和矽電戰(zhàn)略合作意向書的簽署,將“進一步發(fā)展和深化在Wafer Acceptance Test(簡稱WAT)市場的戰(zhàn)略合作,以期進一步開拓中國市場,為客戶在WAT測試領(lǐng)域提供整體性解決方案,并為客戶降低成本以提高競爭力”。

與此同時,矽電-泰克晶圓級探針測試測量聯(lián)合實驗室也宣布正式成立。此聯(lián)合實驗室旨在強化國產(chǎn)化合物半導(dǎo)體功率器件測試驗證的能力,進一步探究和優(yōu)化基于高精度和高吞吐率下的一過性解決方案。實驗室提供了可用于12寸、8寸晶圓的全自動探針臺,具備:

? 支持最高3000V/100A的高壓及大電流測試

? 探針系統(tǒng)測試漏電流<100pA@1000V

? WLR支持實現(xiàn)TDDB、NBTI、PBTI、HCI等測試功能

? 支持高溫測試,溫度可達200°C

? 特殊絕緣設(shè)計避免擊穿和打火,靜態(tài)測試最高電壓3000V,動態(tài)測試最高電壓2000V

? 搬運/探針部分與測試部分分離,可擴展性強

? 支持鐵環(huán),藍膜,華夫盒,Tap Reel等進出料方式

? 支持多臺站并行測試

關(guān)于矽電

矽電半導(dǎo)體設(shè)備(深圳)股份有限公司(簡稱“矽電”),成立于2003年12月25日,主要從事半導(dǎo)體專用設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售,專注于半導(dǎo)體探針臺測試技術(shù)領(lǐng)域,系中國境內(nèi)領(lǐng)先的探針測試技術(shù)系列設(shè)備制造企業(yè)。矽電半導(dǎo)體自主研發(fā)了多種類型應(yīng)用探針測試技術(shù)的半導(dǎo)體設(shè)備,產(chǎn)品已廣泛應(yīng)用于集成電路、光電芯片、分立器件、第三代化合物半導(dǎo)體等半導(dǎo)體產(chǎn)品制造領(lǐng)域,已成為中國大陸規(guī)模最大的探針臺設(shè)備制造企業(yè)。

關(guān)于泰克科技

泰克公司總部位于美國俄勒岡州畢佛頓市,致力提供創(chuàng)新、精確、操作簡便的測試、測量和監(jiān)測解決方案,解決各種問題,釋放洞察力,推動創(chuàng)新能力。70多年來,泰克一直走在數(shù)字時代前沿。歡迎加入我們的創(chuàng)新之旅,敬請登錄:tek.com.cn

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