測試是維護(hù)電子產(chǎn)品質(zhì)量與品牌的關(guān)鍵一步，也是決定產(chǎn)品成本的關(guān)鍵一步

測試驗證是半導(dǎo)體廠商進(jìn)行成品合格率（良率）管理的主要方法，它貫穿于集成電路設(shè)計開發(fā)、生產(chǎn)制造的全流程，每一個環(huán)節(jié)的測試結(jié)果都對最終良率有影響，綜合測試結(jié)果是判斷一顆芯片產(chǎn)品能否在市場上銷售的關(guān)鍵依據(jù)。

封裝與測試經(jīng)常被統(tǒng)計在一起，但實際上，測試并不是只存在于封裝環(huán)節(jié)。在芯片開發(fā)階段，就要考慮可測試性設(shè)計（DFT），以確保大部分設(shè)計功能均能被測試到；在晶圓制造的過程中，需要對工藝控制的關(guān)鍵參數(shù)進(jìn)行檢驗；晶圓探針測試（CP測試）通過探針來對裸芯片進(jìn)行基本功能及電氣特性檢測，以篩查有制造缺陷的裸芯片；通過CP測試的裸芯片被送上封裝產(chǎn)線，完成封裝的成品進(jìn)行終測（FT）；通過終測的產(chǎn)品，最終將出售到市場上。

“測試是維護(hù)電子產(chǎn)品質(zhì)量與品牌的關(guān)鍵一步，也是決定產(chǎn)品成本的關(guān)鍵一步，把產(chǎn)品上市交給泰瑞達(dá)，泰瑞達(dá)就是電子產(chǎn)業(yè)的品牌捍衛(wèi)者?！?泰瑞達(dá)有限公司業(yè)務(wù)戰(zhàn)略總監(jiān)Natalian Der強調(diào)測試環(huán)節(jié)在電子產(chǎn)業(yè)的重要性。她舉了一個例子，汽車?yán)锩嬗玫?000多個電子元器件，通常電子元器件的不良率以百萬分之一（PPM）來統(tǒng)計，單一元器件1個PPM的不良率在消費電子領(lǐng)域?qū)儆趦?yōu)良的指標(biāo)，但放入汽車中，7000多個電子元器件如果都有1PPM或以上的不良率，折合到整車，每輛車因電子系統(tǒng)導(dǎo)致的不良率就高達(dá)0.7%，一千輛車有7輛車會出問題，這對汽車業(yè)而言“是無法承受的結(jié)果”。

泰瑞達(dá)2019第三季度業(yè)績

為了實現(xiàn)電子系統(tǒng)在整車應(yīng)用上的PPM級別不良率，甚至是所謂的“零公里障礙”，就需要對電子元器件做更嚴(yán)格的篩選，車載電子元器件單一不良率通常在1個PPB（十億分之一）或以下，壽命要高達(dá)10年以上，這自然就依靠測試結(jié)果來判斷：該批次芯片能不能用、好不好用、能用多久。測試成本高是車載元器件相比消費級元器件成本高的主要原因之一。

Natalian告訴探索科技（techsugar），不管是車載元器件，還是消費用電子元器件，量產(chǎn)測試都是最后一道把關(guān)工序，而且是距離上市時間最近的一道工序，所以測試工程師的時間壓力非常大。“測試工程師承擔(dān)著最后的沖刺任務(wù)，什么時候測試完成，產(chǎn)品才能夠推向市場，測試環(huán)節(jié)也是成本管控的最后環(huán)節(jié)，如果不良率太高，將極大影響成本，測試工程師把控良率、提高產(chǎn)量，同時最關(guān)鍵要保證質(zhì)量，所以測試是芯片生產(chǎn)過程中很重要的環(huán)節(jié)，成功的測試提供了產(chǎn)品最終質(zhì)量的保證?！?

Natalian介紹，伴隨技術(shù)的發(fā)展，測試工程師的工作也面臨著更多挑戰(zhàn)。首先，設(shè)計工藝的進(jìn)步提高了集成度，但先進(jìn)工藝的可靠性相對降低，缺陷率也在增加，而社會對整機產(chǎn)品質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)要求越來越高，這就給測試工作增加了極大的難度。

其次，芯片開發(fā)周期有縮短的趨勢。消費電子向來以換代快著稱，但Natalian表示，傳統(tǒng)的工業(yè)電子與汽車電子更新?lián)Q代速度也在加快，“調(diào)查表明，68%的汽車電子芯片在兩年內(nèi)完成開發(fā)到上市的工作，越來越短的開發(fā)周期，加上越來越多的功能，工程師需要更先進(jìn)的工具來完成測試工作?！?

最后，終端產(chǎn)品多樣化導(dǎo)致芯片種類多樣化，測試廠商希望測試平臺能具備更大靈活性，以適應(yīng)更多種類芯片的測試，從而降低芯片測試的固定設(shè)備投入。

作為老牌測試設(shè)備廠商，泰瑞達(dá)針對上述挑戰(zhàn)已經(jīng)有應(yīng)對方案。利用泰瑞達(dá)可拓展測試架構(gòu)，可以滿足現(xiàn)代芯片測試對靈活性的需求，無論是模擬、射頻還是數(shù)字類芯片，只需選擇相對應(yīng)的測試板卡，就可以接入泰瑞達(dá)測試系統(tǒng)。

在測試加速上，泰瑞達(dá)的解決方案支持并行測試?！安⑿袦y試是最有效的加速方法，可以大幅降低單芯片測試時間與成本。同時，泰瑞達(dá)的測試環(huán)境是圖形化界面，測試工程師很容易上手，快速準(zhǔn)確地完成測試任務(wù)，縮短產(chǎn)品上市時間?！?

Natalian還指出，微調(diào)整（trim）在測試中越來越常用，在測試時間中所占比例也逐步提高。她表示，先進(jìn)工藝制造時更容易出現(xiàn)偏差，這時候通過微調(diào)整，可以把大部分不達(dá)標(biāo)芯片參數(shù)值調(diào)整到規(guī)格之內(nèi)?！肮に嚦叽缭絹碓叫。ㄟ^可生產(chǎn)性設(shè)計來進(jìn)行產(chǎn)品修復(fù)越來越普遍，尤其是射頻和模擬產(chǎn)品。通過trim可以調(diào)整電壓、電流與頻率，讓芯片最終滿足設(shè)計目標(biāo)?！盢atalian解釋道，“以射頻為例，trim時間達(dá)到了整個測試時間的40%以上，甚至能達(dá)到60%。”