一直以來，分析儀都是大家的關(guān)注焦點之一。因此針對大家的興趣點所在，小編將為大家?guī)淼?200A-SCS參數(shù)分析儀的相關(guān)介紹，詳細(xì)內(nèi)容請看下文。

4200A-SCS 是一種可以量身定制、全面集成的參數(shù)分析儀，可以同步查看電流電壓 (I-V)、電容電壓 (C-V)和超快速脈沖式 I-V 特性。作為性能最高的參數(shù)分析儀，4200A-SCS 加快了半導(dǎo)體、材料和工藝開發(fā)速度。

4200A-SCS ClariusTM 基于 GUI 的軟件提供了清楚的、不折不扣的測量和分析功能。憑借嵌入式測量專業(yè)知識和數(shù)百項隨時可以投入使用的應(yīng)用測試，Clarius Software 可以更深入地挖掘研究過程，快速而又滿懷信心。

4200A-SCS 參數(shù)分析儀可以根據(jù)不同用戶需求進行靈活配置，不管是現(xiàn)在還是未來，都可以隨時對系統(tǒng)進行升級。通過4200A-SCS 參數(shù)分析儀，通往發(fā)現(xiàn)之路現(xiàn)在變得異常簡便。

全新 Clarius Software 用戶界面，您可以把對科研的理解提升到全新水平。4200A-SCS 包括 Clarius+ 軟件包，可以執(zhí)行幾乎任何類型的 I-V、C-V 和脈沖式 I-V 表征測試。Clarius Software 用戶界面提供了觸滑或點擊控制功能，為現(xiàn)代半導(dǎo)體、材料和工藝表征提供高級測試定義、參數(shù)分析、圖表繪制和自動化功能。

4200A-SCS 參數(shù)分析儀具有大量隨時可以使用的應(yīng)用測試可供選擇，通過 Clarius 庫中裝備的 450 多項應(yīng)用測試，您可以選擇或修改預(yù)先定義的應(yīng)用測試，加快表征速度，或從一開始簡便地創(chuàng)建自定義測試。只需三步，Clarius Software 就可以引導(dǎo)新用戶像專家一樣完成參數(shù)分析。

4200A-SCS 參數(shù)分析儀可以查看實時結(jié)果和參數(shù)，自動數(shù)據(jù)顯示、算法分析和實時參數(shù)提取功能，加快獲得所需信息的速度。您不必?fù)?dān)心數(shù)據(jù)丟失，因為所有歷史數(shù)據(jù)都會保存下來。

4200A-SCS 參數(shù)分析儀無需示波器檢驗脈沖測量，脈沖定時預(yù)覽模式可以簡便地查看脈沖定時參數(shù)，確認(rèn)脈沖式I-V測試按希望的方式執(zhí)行。使用瞬態(tài)I-V或波形捕獲模式，進行基于時間的電流或電壓測量，而無需使用外部示波器。

精密直流電流 VS. 電壓 (I-V) 測量是器件和材料表征的基石。4200A-SCS 參數(shù)分析儀的核心采用世界一流的源測量單元(SMU) 儀器。源測量單元可以提供電壓或電流，可以以非常高的分辨率和精度同時測量電壓和電流。SMU 把電壓源、電流源、電流表和電壓表集成到一張儀器卡上，實現(xiàn) I-V 同步測量。源測量單元擁有四象限功能，因此不僅可以提供電流，還可以吸收電流，比如測試充電電容器或太陽能電池時。

4200A-SCS 參數(shù)分析儀可以配置最多 9 個 SMU。有四種SMU 型號：兩種中等功率 SMU，范圍高達(dá) 210 V 和 100mA; 兩 種 高 功 率 SMU， 范 圍 高 達(dá) 210 V 和 1 A。4201-SMU 和 4211-SMU 可以連接夾具，負(fù)載電容分別高達(dá) 10mF和 100mF，具體視電流范圍而定。所有 4200A-SCS SMUs 都有屏蔽三同軸連接，為低電流和高阻抗測量及 4 線 (Kelvin) force 和 sense 連接提供保護防漏電功能。

許多關(guān)鍵應(yīng)用需要能夠測量超低電流，如確定 FET 的柵極泄漏電流，測試靈敏的納米器件，測量絕緣裝置和電容器的泄漏電流。當(dāng) SMUs 配置選配的 4200-PA 遠(yuǎn)程前端放大器時，它們能夠進行超低電流測量。4200- 可擴展任意 SMU 型號的電流范圍，分辨率低至 10 aA。對用戶，SMU 只是表現(xiàn)為提供了額外的測量分辨率。前端放大器預(yù)裝在 4200A-SCS 主機背面。這種安裝方式可以使用標(biāo)準(zhǔn)線纜連接探針、測試夾具或開關(guān)矩陣?？梢詮暮竺姘逯腥サ羟岸朔糯笃鳎旁谳^遠(yuǎn)的位置 ( 如不透光的夾具盒或探針臺內(nèi) )，消除由于長電纜導(dǎo)致的測量問題。另外還提供了上機架附件和三同軸安裝附件。4200A-SCS 提供了獨一無二的功能，可以執(zhí)行超低頻率電容電壓測量，而不需 LCR 儀表或電容模塊。低頻率 C-V 測量用來分析某些材料中的緩慢捕獲和脫阱現(xiàn)象。

最后，小編誠心感謝大家的閱讀。你們的每一次閱讀，對小編來說都是莫大的鼓勵和鼓舞。最后的最后，祝大家有個精彩的一天。