9月23日，是德科技在北京召開記者發(fā)布會(huì)，會(huì)上是德科技中國(guó)通信產(chǎn)品中心市場(chǎng)戰(zhàn)略經(jīng)理Liz Ruetsch向大家介紹了“一個(gè)尺寸適應(yīng)所有場(chǎng)景”的概念。

眾所周知，是德科技的測(cè)試產(chǎn)品多種多樣，有臺(tái)式的、模塊化的儀表，甚至還有手持式的儀表，不同的儀表是為了解決不同的測(cè)試問題。其面向的市場(chǎng)，比如無(wú)線市場(chǎng)、航空航天、宇宙航天市場(chǎng)，或是通用研究，都有很多共性的問題。比如多入多出MIMO不但是航空航天和國(guó)防電子應(yīng)用越來(lái)越多，在無(wú)線通訊上像5G上應(yīng)用也越來(lái)越多。

在傳統(tǒng)上來(lái)講，是德科技已經(jīng)向用戶介紹了很多臺(tái)式儀器，但是在實(shí)際的應(yīng)用之中，從研發(fā)一直到制造可能不同的客戶有不同的需求。就研發(fā)來(lái)講，可能是需要所能獲得的最高的指標(biāo)，可能需要前面板進(jìn)行手工操作便于測(cè)試等等。而如果是制造，可能指標(biāo)就不是最關(guān)鍵的因素，測(cè)試速度有可能是最高的因素。所以Liz Ruetsch表示，同一種形式的儀器、同一種樣式的儀器來(lái)解決所有客戶應(yīng)用，可能才是合適、便捷的解決方案。

“是德科技的優(yōu)勢(shì)在于其測(cè)試技術(shù)IP，我們把這些專有技術(shù)用在所有的平臺(tái)上。我們有50到60種軟件其實(shí)是用在各種平臺(tái)上，有的軟件甚至?xí)玫绞畮追N硬件平臺(tái)上面，這保證了不同平臺(tái)的測(cè)試結(jié)果一致性。不管用戶利用的是哪種平臺(tái)形式，都會(huì)使用到安捷倫先進(jìn)的測(cè)試技術(shù)。”Liz Ruetsch解釋道。

是德歸納了“測(cè)量一致性”一詞，即無(wú)論用戶用什么樣的硬件在什么樣的平臺(tái)上，都能夠提供一致準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果。比如用戶如果做研發(fā)，可以用臺(tái)式的網(wǎng)絡(luò)分析儀ENA或PNA，如果做生產(chǎn)制造就可以用到模塊化的網(wǎng)絡(luò)分析儀，當(dāng)然取決于被測(cè)件提高速度。如果到外場(chǎng)做測(cè)試，對(duì)于同樣的期間像濾波器、天線等等可以用手持式分析儀，所有這些平臺(tái)測(cè)試的結(jié)果都是一致的。

Liz認(rèn)為在談一致性和兼容性的時(shí)候其實(shí)談了幾點(diǎn)，首先是對(duì)用戶界面，是德的測(cè)試產(chǎn)品做到不管是用臺(tái)式儀表或者是模塊化儀表，用戶界面是一致的。這樣如果是生產(chǎn)線工程師遇到問題，研發(fā)工程師去幫助解決問題時(shí)操作臺(tái)式儀器到模塊化儀器不會(huì)感覺不方便。另外是編程的一致性，所有儀器都是可程控的，編程也都一樣，用戶可以方便的在不同的平臺(tái)之間轉(zhuǎn)換。

同時(shí)，Liz Ruetsch在活動(dòng)中也表示是德科技生產(chǎn)模塊化的儀器的歷史也是非常悠久。根據(jù)第三方提供的數(shù)據(jù)，是德科技在PXI市場(chǎng)份額從2010年的5%到2013年13%，在兩三年內(nèi)迅速實(shí)現(xiàn)了成倍的增長(zhǎng)。近期是德推出了多種模塊化儀器。在活動(dòng)中主要介紹了其中幾個(gè)關(guān)鍵新產(chǎn)品，包括模塊化頻譜分析儀、模塊化矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、模塊化的任意波形發(fā)生器。

其中，最新的單槽PXI矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，其頻率范圍能達(dá)到300kHz至26.5GHz，并具備出色的速度、軌跡噪聲、穩(wěn)定性和動(dòng)態(tài)范圍。用戶可以在單個(gè)PXI機(jī)箱中安裝多個(gè)PXI VNA，以同時(shí)表征多個(gè)雙端口或多端口器件，從而實(shí)現(xiàn)快速、精確的測(cè)量并降低測(cè)試成本。

另外，全新采樣率65GSa/s的高速任意波形發(fā)生器M8195A，其帶寬高達(dá)20GHz，可以輕松產(chǎn)生高速數(shù)字或多電平信號(hào)場(chǎng)景，測(cè)試用于電、光接口超過32G波特率的復(fù)雜調(diào)試信號(hào)。

在電子設(shè)計(jì)越來(lái)越復(fù)雜的今天，工程師們不光面臨設(shè)計(jì)上的壓力，測(cè)試上也頻頻遇到挑戰(zhàn)。然而令人欣慰的是向是德這樣的測(cè)試測(cè)量廠商正在不斷努力，以降低測(cè)試難度，簡(jiǎn)化操作，讓工程師將更多精力運(yùn)用在產(chǎn)品設(shè)計(jì)上。