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高速通道無源測試去嵌：TRL校準與端口延伸的誤差抑制方法 引言
在5G通信、AI芯片等高速電子系統(tǒng)中，無源通道（如PCB走線、連接器、封裝基板）的信號完整性直接影響系統(tǒng)性能。某5G基站因無源通道阻抗失配導致誤碼率高達10??，數(shù)據(jù)傳輸效率下降30%。傳統(tǒng)測試方法受限于測試夾具、連接線等寄生效應，導致測量結果與真實通道特性偏差達±15%。TRL（Thru-Reflect-Line）校準與端口延伸技術通過數(shù)學建模和誤差補償，可將測量誤差抑制至±2%以內。本文結合TRL校準的8項誤差模型與端口延伸的相位補償算法，實現(xiàn)25Gbps通道S參數(shù)的精確提取。
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TRL校準方法的實現(xiàn)與應用
摘 要：介紹了目前矢量網(wǎng)絡分析儀廣泛存在的誤差，分析了各項誤差的產(chǎn)生機理，針對可修正的系統(tǒng)誤差列舉了誤差校 準的方法。詳細地推導了針對平面電路的TRL校準方法的算法，制作了TRL校準件，用矢量網(wǎng)絡分析儀測量了實際效果，實驗 結果表明，TRL校準方法有很高的精確度和實用性。
