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安捷倫 Express Test 現(xiàn)可兼容全部 G200 臺子和 DCM II、XP 壓頭

安捷倫科技公司日前宣布其快速壓痕測試 Express Test 選件榮獲全球百大科技研發(fā)獎，現(xiàn)可兼容全部 Nano Indenter G200 臺子、DCM II 和 XP 壓頭。創(chuàng)新 Express Test 技術(shù)可實現(xiàn)全球最快速的納米壓痕，以進行力學(xué)性能成

消費電子
2013-12-10

DCM EXPRESS 安捷倫 TEST
安捷倫屢獲殊榮的超快速 Express Test 現(xiàn)可兼容全部 G200 臺子和 DCM II、XP 壓頭

21ic訊安捷倫科技公司日前宣布其快速壓痕測試 Express Test 選件榮獲全球百大科技研發(fā)獎，現(xiàn)可兼容全部 Nano Indenter G200 臺子、DCM II 和 XP 壓頭。創(chuàng)新 Express Test 技術(shù)可實現(xiàn)全球最快速的納米壓痕，以進行力

測試測量
2013-12-10

DCM EXPRESS 安捷倫 TEST
安捷倫 Express Test 現(xiàn)可兼容全部 G200 臺子和 DCM II、XP 壓頭

2013 年 12月9日，北京——安捷倫科技公司（NYSE：A）日前宣布其快速壓痕測試 Express Test 選件榮獲全球百大科技研發(fā)獎，現(xiàn)可兼容全部 Nano Indenter G200 臺子、DCM II 和 XP 壓頭。創(chuàng)新 Express Test 技術(shù)可實現(xiàn)

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2013-12-09

DCM EXPRESS 安捷倫 TEST
愛德萬測試電子束微影系統(tǒng)獲產(chǎn)學(xué)界肯定

愛德萬測試(ADVANTEST)宣布全新F7000電子束微影系統(tǒng)獲得產(chǎn)學(xué)界下單肯定，三筆訂單分別來自日本東京大學(xué)、京都大學(xué)與一家半導(dǎo)體客戶。愛德萬測試預(yù)訂于2014年3月年度財務(wù)結(jié)算前內(nèi)完成交貨。F7000系列利用電子束技術(shù)將

半導(dǎo)體
2013-10-25

半導(dǎo)體電子基板 TEST
愛德萬測試電子束微影系統(tǒng)獲產(chǎn)學(xué)界肯定

愛德萬測試(ADVANTEST)宣布全新F7000電子束微影系統(tǒng)獲得產(chǎn)學(xué)界下單肯定，三筆訂單分別來自日本東京大學(xué)、京都大學(xué)與一家半導(dǎo)體客戶。愛德萬測試預(yù)訂于2014年3月年度財務(wù)結(jié)算前內(nèi)完成交貨。 F7000系列利用電子束技術(shù)

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2013-10-25

半導(dǎo)體電子基板 TEST
差分信號回流路徑的全波電磁場解析（二）

5、繼承以上條件，將開槽改為在參考平面GND2上，參考平面GND1保持完整，其三維幾何圖形如圖11: 圖14 參考GND2 平面開槽的三維幾何圖形進行分析計算。結(jié)果如下為：圖15 S

功率器件
2013-10-17

差分信號電磁場 BSP TEST
Open-Silicon通過Mentor Graphics的Tessent Cell-Aware Test改進測試品質(zhì)

【導(dǎo)讀】Mentor Graphics公司(納斯達克代碼：MENT)近日宣布，專用集成電路(ASIC)設(shè)計公司Open-Silicon采用帶Cell-Aware Test的Tessent? TestKompress?產(chǎn)品，改進了片上系統(tǒng)設(shè)計的測試品質(zhì)。使用Tessent TestKomp

半導(dǎo)體
2013-10-01

Silicon MENTOR GRAPHICS TEST
Open-Silicon通過Mentor的Tessent Cell-Aware Test改進測試品質(zhì)

Mentor Graphics公司(納斯達克代碼：MENT)日前宣布，專用集成電路(ASIC)設(shè)計公司Open-Silicon采用帶Cell-Aware Test的Tessent® TestKompress®產(chǎn)品，改進了片上系統(tǒng)設(shè)計的測試品質(zhì)。使用Tessent TestKompress

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2013-09-26

Silicon SE MENTOR TEST
瑞薩通過Mentor的TestKompress/LogicBIST混合解決方案

Mentor Graphics公司(納斯達克代碼：MENT)日前宣布瑞薩電子正在使用Tessent® TestKompress®/LogicBIST混合解決方案，以應(yīng)對ISO 26262標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的對安全很重要的測試要求。這種混合方法要求的測試邏輯非常少，

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2013-09-26

LOGIC MENTOR PRESS TEST
思博倫360度測試方案確保SDN網(wǎng)絡(luò)運行安全

Cisco可視聯(lián)網(wǎng)索引顯示，到2016年時，連接到IP網(wǎng)絡(luò)中的移動設(shè)備數(shù)量將高達屆時全球人口總數(shù)的三倍。該索引還顯示，視頻流量將占當(dāng)年全部消費Internet流量的55%，而且視頻點播流量也將大幅增長，相當(dāng)于每月40億張DVD的

測試測量
2013-09-17

測試方案 OPENFLOW SDN網(wǎng)絡(luò) TEST
OptimalTest提供美滿電子測試管理解決方案

企業(yè)用測試管理解決方案世界領(lǐng)導(dǎo)廠家OptimalTest近日宣布，美滿電子(Marvell)將在其內(nèi)部組織內(nèi)以及其全球供應(yīng)鏈采用OptimalTest測試管理軟體解決方案。這項決定是在近期成功采用OptimalTest于一先導(dǎo)計劃后，協(xié)助美滿

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2013-09-03

電子 LTE OPTIMAL TEST
OptimalTest獲超微選為主要測試管理供應(yīng)商

企業(yè)用測試管理解決方案世界領(lǐng)導(dǎo)廠家OptimalTest近日宣布，超微半導(dǎo)體公司(AMD)選擇該公司為其主要測試管理供應(yīng)商。兩家公司簽訂一個多年的合約，在這合約之下，于雙方全球的供應(yīng)鏈內(nèi)的設(shè)備以及工廠里的測試機臺，共

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2013-09-02

供應(yīng)鏈 LTE OPTIMAL TEST
OptimalTest獲AMD選為主要測試供應(yīng)商

OptimalTest宣布超微半導(dǎo)體(AMD)選擇該公司為其主要測試管理供應(yīng)商。兩家公司簽訂1年多的合約，于雙方全球供應(yīng)鏈內(nèi)的設(shè)備以及工廠里的測試機臺共同合作改善良率、品質(zhì)以及使用率。 OptimalTest總裁執(zhí)行長Dan Glot

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2013-09-02

AMD LTE OPTIMAL TEST
Advantest發(fā)表V93000行動電源管理IC測試方案

愛德萬測試(Advantest)宣布推出以 V93000 平臺為基礎(chǔ)的行動電源管理IC (PMIC)測試解決方案，以最具成本效益的優(yōu)勢進軍系統(tǒng)單晶片 (SoC) PMIC 測試市場。此套解決方案相容于愛德萬測試的 V93000 系統(tǒng)，可對具有嵌入式

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2013-08-02

測試方案電源管理IC IC測試 TEST
安捷倫的快速測試榮膺“全球百大科技研發(fā)獎”

安捷倫的快速測試（Express Test）榮膺“全球百大科技研發(fā)獎（R&D 100 Award）”2013 年 7 月 25日，北京――安捷倫科技公司（NYSE：A）日前宣布，作為對各種材料進行高精度納米力學(xué)測試的超快速方法，其 Express Te

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2013-07-25

安捷倫科技 EXPRESS 安捷倫 TEST
安捷倫的快速測試榮膺“全球百大科技研發(fā)獎”

安捷倫科技公司日前宣布，作為對各種材料進行高精度納米力學(xué)測試的超快速方法，其ExpressTest(快速測試)榮獲全球百大科技研發(fā)獎。這些獎項是業(yè)界最受推崇的榮譽，獲獎?wù)哂瑟毩⒌脑u審團以及《R&DMagazine(研發(fā)雜志)》

測試測量
2013-07-25

控制 EXPRESS 安捷倫 TEST
安捷倫快速測試榮膺“全球百大科技研發(fā)獎(R&D 100 Award)”

安捷倫科技公司日前宣布，作為對各種材料進行高精度納米力學(xué)測試的超快速方法，其 Express Test(快速測試)榮獲全球百大科技研發(fā)獎。這些獎項是業(yè)界最受推崇的榮譽，獲獎?wù)哂瑟毩⒌脑u審團以及《R&D Magazine(研發(fā)雜志

廠商動態(tài)
2013-07-25

控制 EXPRESS 安捷倫 TEST
在MATLAB環(huán)境中調(diào)用DLL對硬件資源訪問的方法

摘要：MATLAB是一款高性能的科學(xué)與工程計算軟件，具有強大的數(shù)值計算和分析能力，但其對硬件的訪問能力較弱。在MATLAB環(huán)境中實現(xiàn)對硬件資源的直接訪問可以極大的方便對數(shù)據(jù)的處理及算法的驗證，基于這種目的提出一種

測試測量
2013-07-24

硬件 MATLAB BSP TEST
Advantest全新T5831系統(tǒng)支援高速MCP測試

愛德萬測試(Advantest)的全新 T5831 系統(tǒng)已開始向客戶出貨，該系統(tǒng)主要應(yīng)用于新一代行動裝置應(yīng)用IC (包括搭載高速ONFi或Toggle Mode介面的 NAND 快閃記憶體) 與Managed NAND裝置 (如嵌入式多媒體記憶卡eMMC)，且具備

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2013-07-16

AN ADV MCP TEST
思博倫支持Openflow1.3 推進SDN控制器和交換機測試

全球網(wǎng)絡(luò)、設(shè)備及服務(wù)測試領(lǐng)域的領(lǐng)導(dǎo)者思博倫通信今天宣布SpirentTestCenter支持OpenFlow1.3。通過該最新發(fā)布的版本，思博倫通信繼續(xù)和業(yè)界一起，推動OpenFlow交換機和控制器走向更廣泛的部署。OpenFlow1.3增加了對

測試測量
2013-06-25

OPENFLOW SDN控制器交換機測試 TEST

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安捷倫 Express Test 現(xiàn)可兼容全部 G200 臺子和 DCM II、XP 壓頭

安捷倫屢獲殊榮的超快速 Express Test 現(xiàn)可兼容全部 G200 臺子和 DCM II、XP 壓頭

安捷倫 Express Test 現(xiàn)可兼容全部 G200 臺子和 DCM II、XP 壓頭

愛德萬測試電子束微影系統(tǒng)獲產(chǎn)學(xué)界肯定

愛德萬測試電子束微影系統(tǒng)獲產(chǎn)學(xué)界肯定

差分信號回流路徑的全波電磁場解析（二）

Open-Silicon通過Mentor Graphics的Tessent Cell-Aware Test改進測試品質(zhì)

Open-Silicon通過Mentor的Tessent Cell-Aware Test改進測試品質(zhì)

瑞薩通過Mentor的TestKompress/LogicBIST混合解決方案

思博倫360度測試方案確保SDN網(wǎng)絡(luò)運行安全

OptimalTest提供美滿電子測試管理解決方案

OptimalTest獲超微選為主要測試管理供應(yīng)商

OptimalTest獲AMD選為主要測試供應(yīng)商

Advantest發(fā)表V93000行動電源管理IC測試方案

安捷倫的快速測試榮膺“全球百大科技研發(fā)獎”

安捷倫的快速測試榮膺“全球百大科技研發(fā)獎”

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