Xilinx Virtex-5 FPGA 中的CRC模塊

PIC單片機CRC校驗程序

淺析嵌入式中通訊協(xié)議設(shè)計的規(guī)律

公司里做項目，嵌入式系統(tǒng)大大小小，到處都是。因為都是一個系統(tǒng)里的，所以都需要通訊，既然通訊就涉及到協(xié)議問題。

STM32F4學(xué)習筆記11——CRC循環(huán)冗余校驗

關(guān)于CRC校驗有以下幾個方面1.模2除（也就是異或）。2.多項式與二進制關(guān)系（x的最高冪次對應(yīng)二進制數(shù)的最高位，以下各位對應(yīng)多項式的各冪次，有此冪次項對應(yīng)1，無此冪次項對應(yīng)0，x的最高冪次為R，轉(zhuǎn)換成對應(yīng)的二進制數(shù)

Xilinx Virtex-5 FPGA 中的CRC模塊

嵌入式系統(tǒng)開發(fā)不難，保證可靠性有這幾大技巧

目前嵌入式系統(tǒng)開發(fā)應(yīng)用非常的廣泛，在很多領(lǐng)域都有應(yīng)用，而且技術(shù)更新很快。嵌入式系統(tǒng)是以應(yīng)用為中心，以計算機技術(shù)為基礎(chǔ)，并且軟硬件可裁剪，適用于應(yīng)用系統(tǒng)對功能、可

關(guān)于嵌入式系統(tǒng)開發(fā)的小技巧

嵌入式系統(tǒng)的設(shè)計技術(shù)主要包括硬件設(shè)計技術(shù)和軟件設(shè)計技術(shù)兩大類。其中，硬件設(shè)計領(lǐng)域的技術(shù)主要包括芯片級設(shè)計技術(shù)和電路板級設(shè)計技術(shù)兩個方面。

CRC循環(huán)冗余校驗的原理與算法及FPGA實現(xiàn)

CRC基本原理在串行數(shù)據(jù)流的最有效的檢錯方案是CRC(Cyclic Redundancy check)循環(huán)冗余檢驗，CRC循環(huán)冗余校驗最根本的原理就是將原始數(shù)據(jù)除以某個固定的數(shù)，然后所得的余數(shù)就

有趣的線性反饋移位寄存器(LFSR)

最近一直在研究信道編碼，發(fā)現(xiàn)在信道編碼里面有一個電路比較重要也比較有趣，那就是線性反饋移位寄存器 LFSR ，相信大家對 LFSR 電路也不陌生了，在通信領(lǐng)域lfsr有著很廣泛

CRC校驗原理與程序設(shè)計——(RS485總線系統(tǒng)應(yīng)用之1)

1.CRC校驗原理1.1 CRC的基本概念：CRC是英文Cyclical Redundancy Check的縮寫，翻譯成中文通常稱作循環(huán)冗余校驗或簡稱為CRC校驗。它是數(shù)據(jù)傳輸領(lǐng)域中最常用的一種差錯校驗

工業(yè)通信中的檢錯碼技術(shù)

0 引言在變頻器等工業(yè)現(xiàn)場，在傳輸數(shù)據(jù)的過程中，往往由于噪聲或瞬時中斷等干擾，使接收到的信息出現(xiàn)錯誤。如果信息傳輸出現(xiàn)錯誤而不被發(fā)現(xiàn)，會引起災(zāi)難性的后果，可以采取

一種簡化的MCU程序保護設(shè)計

受電磁干擾影響，單片機的程序讀取時會出錯，最終造成程序走飛和數(shù)據(jù)出錯。目前廣泛采用的看門狗技術(shù)只對部分程序走飛現(xiàn)象有效，而對程序執(zhí)行錯造成的數(shù)據(jù)錯無效。根據(jù)報道的受干擾而造成數(shù)據(jù)錯概率統(tǒng)計數(shù)據(jù)，計算出引起MCU系統(tǒng)失效的概率已遠大于功能安全要求的失效率。為了解決這一問題，需要對讀取的程序指令加以檢驗。國外有的單片機已經(jīng)添加了這一功能，即糾錯編碼(ECC)。本文建議一種簡化的檢驗功能，它基于并行的CRC檢驗，提出了求取并行CRC檢驗邏輯的方法。

2013年彩電研究發(fā)布會將召開 彩電多元化成大趨勢

2014年1月15日,由工業(yè)與信息化部指導(dǎo)、中國電子視像協(xié)會和奧維咨詢(AVC)聯(lián)合主辦的2013年度中國電子信息產(chǎn)業(yè)經(jīng)濟運行暨彩電行業(yè)研究發(fā)布會將在北京召開。作為彩電行業(yè)資深的專業(yè)研究成果發(fā)布會議,本次會議將以&ldquo

CAN協(xié)議的錯幀漏檢率改進

當數(shù)據(jù)在傳送中出錯，且錯幀被漏檢時，就意味著錯誤的數(shù)據(jù)被送到應(yīng)用層，除非應(yīng)用層有額外的數(shù)據(jù)識別措施，這個數(shù)據(jù)就可能引起不可預(yù)測的結(jié)果。CAN協(xié)議聲稱有很低的錯幀漏檢率(4.7×10-11×出錯率)[1]，有

TS流的CRC譯碼器設(shè)計

TS流的CRC譯碼器設(shè)計 潘家頂，楊光杰 (桂林理工大學(xué)信息科學(xué)與工程學(xué)院，廣西 桂林 541004) 摘要：TS流是數(shù)字電視信號傳輸?shù)闹饕绞剑捎谄洳捎玫氖菑V播方式且信道中存在著許多干擾，因此是不可靠傳輸。為了保證

基于SATAII協(xié)議的CRC32并行算法的研究

摘要：在介紹CRC校驗原理和傳統(tǒng)CRC32串行比特算法的基礎(chǔ)上，由串行比特型算法推導(dǎo)出一種CRC32并行算法、并結(jié)合SATAⅡ協(xié)議的要求，完成了SATAⅡ主控制器設(shè)計中CRC生成與校驗?zāi)K的設(shè)計。最后通過在ISE平臺上編寫Veril

交流通路與放大原理

有信號輸入時，放大電路的工作狀態(tài)稱為動態(tài)。動態(tài)時，電路中既有代表信號的交流分量，又有代表靜態(tài)偏置的直流分量。是交、直流共存狀態(tài)，盡管電路中既有交流分量，又有直流分量。由于電路中含有電抗性元件，因此，交

PIC單片機CRC校驗程序

用PIC單片機和Dallas的iButtON通訊時，編了段產(chǎn)生和校驗CRC的子程序。#include;-------------------------------cblock 0x20datBuff:8 ;assign 8 byte data bufferbit_cnt ;bit countingCRC_COUNT ;number of bytes

解讀CRC的校驗原理

解讀CRC的校驗原理

Vishay發(fā)布4款新型D/CRCWe3厚膜片式電阻的工程設(shè)計包

21ic訊 日前，Vishay Intertechnology, Inc.（NYSE 股市代號：VSH）宣布，推出其下一代TrenchFET® Gen IV系列30V n溝道功率MOSFET中的首款器件。SiRA00DP、SiRA02DP、SiRA04DP和SiSA04DN采用了新型高密度設(shè)計，在