測(cè)試
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光柱LED測(cè)試儀電路
該電路是由一個(gè)4.5伏電池供電并且與一個(gè)在測(cè)試的具有內(nèi)部參考的電池相比較，它由R1，R2和P1來(lái)設(shè)置。為了達(dá)到最佳效果，電池(DUT)應(yīng)裝入一個(gè)合適的電阻。該LM3914A的LED光柱
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全方位解析霍爾開關(guān)原理電路及失效檢測(cè)
一、霍爾開關(guān)原理--簡(jiǎn)介霍爾開關(guān)(Hall switch)又稱霍爾數(shù)字電路，是一種新型的電器配件，由反向電壓保護(hù)器、精密電壓調(diào)節(jié)器、霍爾電壓發(fā)生器、差分放大器、施密特觸發(fā)器、溫
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動(dòng)力電池安全性技術(shù)解析
在動(dòng)力電池安全性標(biāo)準(zhǔn)方面，目前模塊、系統(tǒng)對(duì)熱失控的防熱誘因測(cè)試方面，以及單體、模組和系統(tǒng)的生命周期安全性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)缺失，亟待研究與制定?，F(xiàn)行國(guó)家安全標(biāo)準(zhǔn)主要針對(duì)源
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基于MP430控制的正弦波信號(hào)源的設(shè)計(jì)與制作
本系統(tǒng)以MSP430為控制核心設(shè)計(jì)并制作一個(gè)正弦波和脈沖波信號(hào)源。本 實(shí)驗(yàn)分為四大模塊，分別是鍵盤掃描模塊，正弦波產(chǎn)生模塊，脈沖波產(chǎn)生模塊和液晶顯示模塊。正弦產(chǎn)生部分采
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安森美半導(dǎo)體推出先進(jìn)的同步整流控制器FAN6248
在電源設(shè)計(jì)中，為提高能效，通常采用同步整流，即用MOSFET取代二極管整流器，從而降低整流器兩端壓降和導(dǎo)通損耗，提供更高的電流能力，實(shí)現(xiàn)更高的系統(tǒng)能效。然而，傳統(tǒng)的同
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詳解芯片的設(shè)計(jì)生產(chǎn)流程
大家都是電子行業(yè)的人，對(duì)芯片，對(duì)各種封裝都了解不少，但是你知道一個(gè)芯片是怎樣設(shè)計(jì)出來(lái)的么?你又知道設(shè)計(jì)出來(lái)的芯片是怎么生產(chǎn)出來(lái)的么?看完這篇文章你就有大概的了解。
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英國(guó)將推動(dòng)5G測(cè)試網(wǎng)絡(luò)建設(shè)
英國(guó)倫敦大學(xué)國(guó)王學(xué)院7日發(fā)布音訊說(shuō)，該校與別的兩所大學(xué)已獲英國(guó)當(dāng)局贊助，將協(xié)作構(gòu)建一個(gè)綜合性的第五代挪動(dòng)通信(5G)測(cè)試收集。
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如何輕松搭建一個(gè)IoT通知設(shè)備
在世界中，各種電子設(shè)備通過無(wú)線電通信。比如基于802.11 b/g/n的WiFi協(xié)議和BLE(低功耗藍(lán)牙)允許這些電子設(shè)備使用其通信方案共享數(shù)據(jù)。像ESP8266和ESP32這樣的無(wú)線芯片使得廠
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從國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分析LED色容差
色容差定義及麥克亞當(dāng)橢圓理論色容差： 表征光色電檢測(cè)系統(tǒng)軟件計(jì)算的X、Y值與標(biāo)準(zhǔn)光源之間差別。數(shù)值越小，表示產(chǎn)品光色坐標(biāo)和標(biāo)準(zhǔn)值越接近，光源發(fā)出的光譜與標(biāo)準(zhǔn)光譜之間
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增強(qiáng)UV LED的透明導(dǎo)電性新方法
ITO跟有什么關(guān)系?ITO是一種透明的電極材料，具有高的導(dǎo)電率、高的可見光透過率、高的機(jī)械硬度和良好的化學(xué)穩(wěn)定性。目前ITO膜主要是為了提高LED的出光效率。Burstein-Moss效
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測(cè)試全自動(dòng)電容電感 需要注意哪些事情？
電容電感測(cè)試儀是不拆線檢測(cè)補(bǔ)償電容器的專用儀器。一般在進(jìn)行電容測(cè)試和電感測(cè)試之前，試驗(yàn)者需要根據(jù)被試品參數(shù)設(shè)置相應(yīng)的測(cè)量參數(shù)。但是在試驗(yàn)過程中，需要注意哪些事情呢？下面小編就給大家講講全自動(dòng)電容電感測(cè)試使用注意事項(xiàng)。
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一文了解MEMS晶圓級(jí)測(cè)試系統(tǒng)
微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)屬于21 世紀(jì)前沿技術(shù)，是對(duì)MEMS加速度計(jì)、MEMS 陀螺儀及慣性導(dǎo)航系統(tǒng)的總稱。MEMS 器件特征尺寸從毫米、微米甚至到納米量級(jí)，涉及機(jī)械、電子、化學(xué)、物理、
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簡(jiǎn)析芯片反向設(shè)計(jì)流程
什么是芯片反向設(shè)計(jì)?反向設(shè)計(jì)其實(shí)就是芯片反向設(shè)計(jì)?，它是通過對(duì)芯片內(nèi)部電路的提取與分析、整理，實(shí)現(xiàn)對(duì)芯片技術(shù)原理、設(shè)計(jì)思路、工藝制造、結(jié)構(gòu)機(jī)制等方面的深入洞悉，可
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PET背板，創(chuàng)新還是“創(chuàng)心”
背板作為晶硅的關(guān)鍵部件，對(duì)組件的安全性、使用壽命和降低功率衰減起著至關(guān)重要的作用。要達(dá)到保護(hù)電池片的目的，背板必須具備良好的機(jī)械強(qiáng)度與韌性、耐候性、絕緣、水汽阻
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充電倍率對(duì)車用鋰電池衰降的影響
離子電池在使用過程中隨著充放電次數(shù)的增加，容量逐漸降低，也就是我們所說(shuō)的衰降，直觀的感受就是電量越來(lái)越不夠用了。好比我們的手機(jī)，剛剛買來(lái)的時(shí)候，充滿一次電能夠使
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晶振與負(fù)載電容怎么搭配才好
晶振的老搭檔負(fù)載電容分為C1和C2兩個(gè)貼片電容，負(fù)載電容的作用就是消減其他雜波所帶來(lái)的干擾，從而提高電路的穩(wěn)定性。大家在選擇負(fù)載電容時(shí)，可以按照電容的具體大小計(jì)算公
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單片機(jī)RAM測(cè)試故障方法有幾種？
在各種單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)中，芯片存儲(chǔ)器的正常與否直接關(guān)系到該系統(tǒng)的正常工作。為了提高系統(tǒng)的可靠性，對(duì)系統(tǒng)的可靠性進(jìn)行測(cè)試是十分必要的。通過測(cè)試可以有效地發(fā)現(xiàn)并解決因
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數(shù)字可尋址照明接口(DALI)
描述數(shù)字可尋址照明接口(DALI) 標(biāo)準(zhǔn)定義了用于照明控制應(yīng)用中的通用通信協(xié)議和物理接口標(biāo)準(zhǔn)。該設(shè)計(jì)采用現(xiàn)有的TPS62260LED-338 EVM 和電平轉(zhuǎn)換電路板以實(shí)施DALI LED 器件類
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數(shù)字開關(guān)電源控制系統(tǒng)測(cè)試過程
功能演示版本已經(jīng)完成。0~36V連續(xù)可調(diào) 步進(jìn)0.1V 誤差 -0.03V 0~12A恒流可調(diào) 步進(jìn)0.1A 誤差 -0.1A (演示版本是10位精度的)?，F(xiàn)在10位、12位精度的控制系統(tǒng)已經(jīng)完成!可以用來(lái)
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高精度低噪聲濾波電路設(shè)計(jì)
TI 高精度設(shè)計(jì)是由TI 模擬產(chǎn)品專家創(chuàng)建的模擬解決方案。經(jīng)驗(yàn)證的設(shè)計(jì)提供理論分析、器件選型、完整的印刷電路板(PCB)、可使用電路經(jīng)測(cè)試過的性能。還討論了滿足可替代設(shè)計(jì)目
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