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DDR測(cè)試技術(shù)和工具是否跟上了時(shí)代步伐？
DDR測(cè)試技術(shù)和工具是否跟上了時(shí)代步伐？
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Agilent與Qualcomm簽訂工廠測(cè)試技術(shù)授權(quán)合約
安捷倫科技(Agilent Technologies)宣布已與 Qualcomm 簽訂工廠測(cè)試技術(shù)授權(quán)合約。根據(jù)合約條款，Qualcomm授予安捷倫展示及散布采用Qualcomm射頻工廠測(cè)試技術(shù)的產(chǎn)品之全球授權(quán)。該合約使安捷倫成為業(yè)界最早取得Qualco
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鉛酸蓄電池維護(hù)與測(cè)試現(xiàn)狀及測(cè)試技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)
摘要：介紹了影響蓄電池使用壽命的因素，并就容量測(cè)試技術(shù)的現(xiàn)狀進(jìn)行了分析，結(jié)合實(shí)際介紹了蓄電池容量測(cè)試技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)。關(guān)鍵詞：蓄電池；使用壽命；容量測(cè)試技術(shù)；發(fā)展趨勢(shì)0 引言 隨著信息、能源、電子技術(shù)
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北京東方中科集成公司測(cè)試技術(shù)分公司新網(wǎng)上線
北京東方中科集成科技股份有限公司測(cè)試技術(shù)分公司（簡(jiǎn)稱：測(cè)試技術(shù)分公司）是北京東方中科集成科技股份有限公司專業(yè)從事安捷倫測(cè)試產(chǎn)品銷售、租賃、應(yīng)用集成及相關(guān)配套服務(wù)的分公司，是安捷倫科技（中國(guó)）有限公司在
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巨有與致茂合作 突破IC測(cè)試技術(shù)瓶頸
巨有科技（PGC）近日宣布，己與致茂電子（Chroma）展開緊密合作。巨有選購(gòu)致茂的Chroma 3650平臺(tái)，以提供其消費(fèi)型電子產(chǎn)品及其他裝置的工程測(cè)試使用。Chroma 3650配備完整的測(cè)試模組，如邏輯模組、ADC/DAC模組、ALPG
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惠瑞捷將于VOICE 2011提出多項(xiàng)半導(dǎo)體測(cè)試論文簡(jiǎn)報(bào)
由半導(dǎo)體測(cè)試公司惠瑞捷(Verigy)所主辦的使用者社群會(huì)議暨合作伙伴研討會(huì)「VOICE 2011」即將于2011年4月19~21日在加州圣塔克魯斯(Santa Cruz)市舉行，此一國(guó)際性論壇將針對(duì)惠瑞捷系統(tǒng)提出廣泛的IC測(cè)試技術(shù)，并有眾多
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惠瑞捷主辦的VOICE 2011即將舉行
由半導(dǎo)體測(cè)試公司惠瑞捷(Verigy) 所主辦的使用者社群會(huì)議暨合作伙伴研討會(huì)「VOICE 2011」即將于4月19~21日在加州圣塔克魯斯(Santa Cruz)市舉行，此一國(guó)際性的論壇中將針對(duì)惠瑞捷系統(tǒng)提出廣泛的IC測(cè)試技術(shù)，并有眾
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電信級(jí)以太網(wǎng)測(cè)試技術(shù)研究
1 電信級(jí)以太網(wǎng)的概念 以太網(wǎng)作為一種快速、簡(jiǎn)單和高帶寬的局域網(wǎng)，在企業(yè)網(wǎng)中已經(jīng)使用了30年以上，但是其應(yīng)用多年來一直被電信運(yùn)營(yíng)商所低估。隨著電信級(jí)以太網(wǎng)(CE)的出現(xiàn)，運(yùn)營(yíng)商逐漸意識(shí)到在城域網(wǎng)中，以太網(wǎng)既
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互聯(lián)網(wǎng)路由交換測(cè)試技術(shù)介紹
1 引言 互聯(lián)網(wǎng)技術(shù)的快速發(fā)展對(duì)基礎(chǔ)網(wǎng)絡(luò)設(shè)施提出了更高的要求，IPTV業(yè)務(wù)、網(wǎng)絡(luò)視頻和IP電話等業(yè)務(wù)要求對(duì)網(wǎng)絡(luò)帶寬和QoS必須提供保證2P業(yè)務(wù)、泛濫的垃圾郵件也在不停地消耗著帶寬并影響正常業(yè)務(wù)的QoE指標(biāo)。為了滿足
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測(cè)試技術(shù)進(jìn)入2.0時(shí)代 示波器可借勢(shì)升級(jí)
作為電子行業(yè)最常用的通用設(shè)備之一，示波器一直在測(cè)試儀器的總體銷售中站著舉足輕重的地位，隨著示波器在整個(gè)測(cè)試測(cè)量行業(yè)中的重要作用將日益凸顯，加之各行業(yè)用戶需求的不斷提升及相應(yīng)性能的不斷完善，示波器技術(shù)的
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山東科學(xué)院激光研究所“光纖高溫高壓井筒測(cè)試技術(shù)”課題通過科技部驗(yàn)收
由山東省科學(xué)院激光研究所承擔(dān)的“光纖高溫高壓井筒測(cè)試技術(shù)”課題通過科技部驗(yàn)收。這一課題在國(guó)內(nèi)首次自主研制出了可在溫度220°C和壓力100MPa下長(zhǎng)期使用的固定式高精度光纖壓力傳感器。這標(biāo)志著中國(guó)光
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板級(jí)電路多信號(hào)模型自測(cè)試技術(shù)
1.引言 在工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)、國(guó)防軍事、航空航天等領(lǐng)域需要利用電路自身資源進(jìn)行快速的故障診斷，即要求電路具有自測(cè)試功能。為了使復(fù)雜的電路具有自測(cè)試功能必須進(jìn)行專門的可測(cè)性分析與設(shè)計(jì)[1]。而通過建立故障診斷模
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板級(jí)電路多信號(hào)模型自測(cè)試技術(shù)
1.引言 在工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)、國(guó)防軍事、航空航天等領(lǐng)域需要利用電路自身資源進(jìn)行快速的故障診斷，即要求電路具有自測(cè)試功能。為了使復(fù)雜的電路具有自測(cè)試功能必須進(jìn)行專門的可測(cè)性分析與設(shè)計(jì)[1]。而通過建立故障診斷模
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第五屆惠瑞捷年度VOICE會(huì)議即將召開
由半導(dǎo)體測(cè)試公司惠瑞捷舉辦的用戶組會(huì)議暨合作伙伴大會(huì)“2011VOICE技術(shù)會(huì)議”已經(jīng)展開國(guó)際論文征稿活動(dòng)。第五屆年度VOICE會(huì)議將在2011年4月19日-21日，位于加利福尼亞州圣克魯斯的查米納德度假村溫泉?jiǎng)俚?Chaminade
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PCB通用測(cè)試技術(shù)分析
一、引言 前隨著使用大規(guī)模集成電路的產(chǎn)品不斷出現(xiàn)，相應(yīng)的PCB的安裝和測(cè)試工作已越來越重要。印制電路板的通用測(cè)試是PCB行業(yè)傳統(tǒng)的測(cè)試技術(shù)、 最早的通用電性測(cè)試技術(shù)可追溯至七十年代末八十年代初
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醫(yī)院HIS應(yīng)用軟件自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)探討
3．3 性能測(cè)試內(nèi)容 通過性能測(cè)試，可以評(píng)價(jià)出醫(yī)院HIS中不足或不規(guī)范的地方，促使將不符合規(guī)范、不完善的信息系統(tǒng)進(jìn)行更新、完善，以保證信息系統(tǒng)可高效、準(zhǔn)確地運(yùn)行，從而為醫(yī)院的科學(xué)化、信息化、規(guī)范化管理創(chuàng)造條
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R&S：引領(lǐng)電磁兼容測(cè)試技術(shù)
2010年11月2至4日，在上海光大會(huì)展中心舉辦的第九屆中國(guó)上海國(guó)際電磁兼容技術(shù)與安規(guī)認(rèn)證展覽會(huì)上，R&S公司將展示其全面領(lǐng)先的電磁兼容測(cè)試解決方案。 作為世界頂級(jí)的EMC測(cè)試儀器、系統(tǒng)及方案提供商，R&S公司將在
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數(shù)字電視外場(chǎng)測(cè)試技術(shù)的研究和調(diào)研
摘要：介紹了數(shù)字電視測(cè)試信號(hào)、使用儀器及方法。重點(diǎn)分析和研究了外場(chǎng)測(cè)試技術(shù)，其中以覆蓋測(cè)試最為重要，強(qiáng)調(diào)選擇測(cè)試點(diǎn)的重要性，進(jìn)而詳述了覆蓋測(cè)試的各個(gè)要點(diǎn)、測(cè)試方案及必須遵守的流程。 關(guān)鍵詞：數(shù)字電視；
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吉時(shí)利啟動(dòng)2010年新能源與新材料測(cè)試技術(shù)中國(guó)區(qū)巡回研討會(huì)
美國(guó)吉時(shí)利（Keithley）儀器公司（NYSE代碼：KEI）8月24日宣布將舉辦2010年度新能源與新材料測(cè)試技術(shù)全國(guó)巡回研討會(huì)。巡回研討會(huì)將從9月初開始，在成都、重慶、合肥、南京、哈爾濱、武漢、蘭州舉辦。身為新興測(cè)量需求
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思達(dá)科技提供最佳半導(dǎo)體測(cè)試解決方案邁向全方位設(shè)備品牌
亞洲第一家半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試的專業(yè)設(shè)備商思達(dá)科技(STAr Technologies)，在臺(tái)成立迄今十年，主要經(jīng)營(yíng)半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)、儀器、軟件、探針卡(Probe Card)及測(cè)試外圍產(chǎn)品。早期思達(dá)科技主要專注于半導(dǎo)體制程前段的參數(shù)測(cè)試
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