泰克公司日前宣布，推出新的TekExpress™一致性自動(dòng)測(cè)試平臺(tái)和新的TekExpress SATA自動(dòng)一致性測(cè)試軟件。TekExpress SATA在TekExpress平臺(tái)上運(yùn)行，利用經(jīng)過認(rèn)證的泰克串行數(shù)據(jù)高性能儀器套件，對(duì)接收機(jī)、發(fā)射機(jī)和互連百分之百地自動(dòng)執(zhí)行SATA Gen-1和SATA Gen-2一致性測(cè)試。TekExpress一致性自動(dòng)測(cè)試平臺(tái)是為單鍵自動(dòng)測(cè)試高速串行標(biāo)準(zhǔn)開發(fā)的，TekExpress平臺(tái)基于National Instruments的TestStand之上，后者作為序列控制引擎使用。
  
TekExpress SATA使用運(yùn)行Windows XP的計(jì)算機(jī)就可 進(jìn)行控制，可以有效執(zhí)行SATA-IO工作組認(rèn)證的實(shí)現(xiàn)方法(MOI)要求的153項(xiàng)SATA Gen-2測(cè)試。TekExpress SATA軟件協(xié)調(diào)儀器設(shè)置和控制序列，為全部4個(gè)SATA-IO批準(zhǔn)的實(shí)現(xiàn)方法（MOI）提供完整的認(rèn)證測(cè)試結(jié)果，所需總測(cè)試時(shí)間不到3個(gè)小時(shí)，使一致性測(cè)試時(shí)間降低了約70%，為設(shè)計(jì)人員節(jié)約了寶貴的SATA設(shè)計(jì)驗(yàn)證時(shí)間。

第二代串行數(shù)據(jù)總線結(jié)構(gòu)，包括SATA Gen-2，提供的吞吐量比幾年前高出了一個(gè)量級(jí)。數(shù)據(jù)速率性能的加速，大大提高了設(shè)計(jì)工作的挑戰(zhàn)性，增加了設(shè)計(jì)的復(fù)雜性，從而可能會(huì)阻礙產(chǎn)品開發(fā)周期，提高開發(fā)成本。因此，工程師們需要強(qiáng)大的測(cè)試工具和軟件，實(shí)現(xiàn)更高的性能、更全面的分析及更高的測(cè)試效率。泰克新推出的TekExpress SATA自動(dòng)一致性測(cè)試套件可以實(shí)現(xiàn)無人值守SATA Gen-1和SATA Gen-2一致性測(cè)試，幫助客戶簡化測(cè)試操作，協(xié)助他們迅速向市場(chǎng)推出新產(chǎn)品。

TekExpress SATA一致性測(cè)試模塊分成“主機(jī)/設(shè)備”模塊和“電纜”模塊。前者要求六個(gè)模塊，后者要求一個(gè)模塊。對(duì)于主機(jī)/設(shè)備，自動(dòng)測(cè)試模塊包括：物理層(PHY)；發(fā)射機(jī)信令組(TSG)；帶外(OOB)；接收機(jī)信令組(RSG)；接收機(jī)余量(RMT)；發(fā)送和接收(Tx/Rx)。對(duì)于電纜，有一個(gè)額外的電纜信號(hào)完整性(SI)模塊。可以從任何Windows XP計(jì)算機(jī)上執(zhí)行SATA MOI。

在使用傳統(tǒng)測(cè)試方法時(shí)，客戶一般需要8個(gè)小時(shí)以上的時(shí)間，循環(huán)執(zhí)行要求的SATA Gen-2一致性測(cè)試，這是一個(gè)特別耗時(shí)的過程，如果遇到一個(gè)錯(cuò)誤，就必需重新執(zhí)行測(cè)試。通過使用TekExpress SATA，用戶不需要干預(yù)就可以執(zhí)行整個(gè)SATA Gen-2一致性測(cè)試，只需幾個(gè)小時(shí)就可以提供完整的測(cè)試結(jié)果。

TekExpress SATA擴(kuò)大了泰克通過高性能儀器家族為SATA Gen-2的開發(fā)和一致性測(cè)試提供的支持力度。泰克提供了獨(dú)一無二的業(yè)內(nèi)最杰出的儀器、超高性能以及產(chǎn)品自動(dòng)化功能，在進(jìn)行各種特定標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用時(shí)，能夠把客戶的工作效率提升到新的水平，滿足了當(dāng)前迅速發(fā)展的串行標(biāo)準(zhǔn)市場(chǎng)預(yù)期。

TekExpress SATA一致性測(cè)試要求的設(shè)備包括高帶寬實(shí)時(shí)示波器(DSA70000系列數(shù)字串行分析儀)、高速串行信號(hào)發(fā)生器(AWG7102任意波形發(fā)生器)和高帶寬采樣示波器(DSA8200系列數(shù)字串行分析儀)。泰克DSA示波器和AWG信號(hào)發(fā)生器為測(cè)試各代SATA設(shè)備提供了所需的性能，包括規(guī)劃中的預(yù)計(jì)運(yùn)行速率將達(dá)到6 Gb/sec的SATA Gen-3規(guī)范，。這些新一代儀器和應(yīng)用軟件解決方案是泰克為高速串行數(shù)據(jù)測(cè)試提供的完善的全新測(cè)試方案的一部分。

NI TestStand是隨時(shí)可以投入運(yùn)行的測(cè)試管理環(huán)境，簡化了測(cè)試和驗(yàn)證系統(tǒng)的自動(dòng)操作功能。TestStand與TekExpress相結(jié)合，可以開發(fā)、管理和執(zhí)行SATA Gen-2一致性測(cè)試以外的其它測(cè)試序列。

目前泰克已經(jīng)提供了RSG模塊，為TSG/PHY/OOB模塊提供預(yù)發(fā)布版本。其它SATA模塊預(yù)計(jì)將在2008年第二季度底提供。