日前，記者從中國科大獲悉，郭光燦院士領(lǐng)導(dǎo)的中科院量子信息重點實驗室孫方穩(wěn)研究組，日前在國際上首次利用量子統(tǒng)計測量技術(shù)，實現(xiàn)不受傳統(tǒng)光學(xué)散射極限限制的相鄰發(fā)光物體的測量與分辨，其精度可達納米量級。研究成果發(fā)表在4月9日的《物理評論快報》上。

提高測量精度一直是科學(xué)研究的主要課題。在眾多新型測量技術(shù)中，量子測量方法最具吸引力。量子測量既能實現(xiàn)超越經(jīng)典測量極限的高精度測量，又能實現(xiàn)經(jīng)典方式無法完成的各種測量。如利用傳統(tǒng)光學(xué)測量相近的兩個物體距離，精度在數(shù)百個納米。孫方穩(wěn)研究組利用物體發(fā)光的量子統(tǒng)計屬性，實現(xiàn)了不受經(jīng)典光學(xué)散射極限的量子統(tǒng)計測量技術(shù)，精度可達納米量級。

孫方穩(wěn)表示，量子測量技術(shù)除適用于相鄰物體的光學(xué)成像，還可實現(xiàn)發(fā)光壽命、偏振和其他自由度的測量與分辨。該測量技術(shù)還可實時測量近鄰物體的動力學(xué)演化以及它們之間的相互作用，為實現(xiàn)進一步的量子信息技術(shù)提供了一種新的測量技術(shù)，并將在化學(xué)、材料、生物等領(lǐng)域得到應(yīng)用。