GE檢測控制技術將參與2012年中國半導體展覽會
GE檢測控制技術即將參加在上海舉辦的2012年中國半導體展覽會 Semicon China.即時會向觀眾展示GE的高性能X射線檢測系統(tǒng),這是一款GE去年新推出的具有卓越的性價比的檢測系統(tǒng),可簡便地用于半導體分裝封裝和線路板組裝等電子行業(yè)領域。除此之外,還會展示GE的傳感器,現(xiàn)場儀表以及超聲檢測系統(tǒng)等。
GE展位號:E5館5505-5507,上海新國際展覽中心。
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關于GE檢測控制技術
GE檢測控制技術業(yè)務是一個行業(yè)領先創(chuàng)新者,業(yè)務涉及傳感測量, 無損檢測技術, 狀態(tài)監(jiān)測,與自動化優(yōu)化控制領域, 幫客戶實現(xiàn)精確、高效和安全。旗下產(chǎn)品廣泛應用于航空航天、石油天然氣、電力、運輸、醫(yī)療等行業(yè)。它在25個國家擁有超過40家企業(yè),隸屬于GE能源集團,為客戶提供更環(huán)保,更智能, 更高效的解決方案。獲取更多的信息,請訪問GE檢測控制技術(GE Measurement & Control )網(wǎng)站:www.ge-mcs.com 中國區(qū)免費咨詢電話: 800 915 9966