美國國家儀器有限公司(National Instruments，簡(jiǎn)稱NI)于4月13日發(fā)布了《2010自動(dòng)化測(cè)試前景報(bào)告》，就創(chuàng)新技術(shù)對(duì)當(dāng)今測(cè)試測(cè)量應(yīng)用的影響發(fā)表了研究結(jié)果。報(bào)告涵蓋了通信、國防航空、半導(dǎo)體、汽車和消費(fèi)電子等眾多產(chǎn)業(yè)，力圖幫助工程師和管理者了解自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域的最新發(fā)展趨勢(shì)及其影響。

NI通過與眾多涉及不同領(lǐng)域的公司進(jìn)行交流，對(duì)技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)進(jìn)行了廣泛的研究，從獨(dú)特的視角觀察測(cè)試測(cè)量市場(chǎng)。《2010自動(dòng)化測(cè)試前景報(bào)告》結(jié)合了學(xué)術(shù)研究、商業(yè)咨詢、用戶調(diào)查、在線論壇、客戶反饋和區(qū)域銷售代表討論的結(jié)果。以此數(shù)據(jù)為基礎(chǔ)，該報(bào)告闡述了未來測(cè)試測(cè)量趨勢(shì)以及如何應(yīng)對(duì)測(cè)試測(cè)量行業(yè)所面臨的市場(chǎng)挑戰(zhàn)與技術(shù)挑戰(zhàn)。

《2010自動(dòng)化測(cè)試前景報(bào)告》從五個(gè)角度出發(fā)進(jìn)行闡述：這五個(gè)角度分別是商業(yè)策略、構(gòu)架、計(jì)算、軟件和硬件I/O。報(bào)告在每一類中詳細(xì)闡述了影響測(cè)試測(cè)量行業(yè)的發(fā)展趨勢(shì)、方法或技術(shù)。報(bào)告談?wù)摿艘韵挛鍌€(gè)主題：

· 標(biāo)準(zhǔn)化：開發(fā)通用的平臺(tái)，降低成本，在產(chǎn)品的整個(gè)生命周期中可重復(fù)利用測(cè)試系統(tǒng)

· 多通道RF測(cè)試：測(cè)試下一代無線設(shè)備需要一個(gè)從信號(hào)層面到軟件層面的并行測(cè)試架構(gòu)

· Peer-to-Peer計(jì)算：越來越復(fù)雜的測(cè)試要求需要更高的性能和點(diǎn)對(duì)點(diǎn)計(jì)算構(gòu)架

· 嵌入式設(shè)計(jì)與測(cè)試：通過實(shí)時(shí)測(cè)試軟件，工程師可以在測(cè)試階段復(fù)用他們?cè)诋a(chǎn)品開發(fā)過程中建立的嵌入式系統(tǒng)模型

· 可重配置的儀器：基于FPGA的儀器通過引入硬件級(jí)的自定義特性，進(jìn)一步提高了性能和靈活性