28納米節(jié)點的新器件結(jié)構(gòu)以及所使用金屬層數(shù)量的日益增加正引入了許多可能影響IC性能的附加寄生效應(yīng)。要創(chuàng)建可精確預(yù)測電路性能的仿真模型，設(shè)計師需要精確的提取功能。QCP可滿足臺積電28納米通孔刻蝕、多維刻蝕表、觸點偏壓和額外通孔規(guī)則等需求，確保了必需的支持。除了滿足28納米設(shè)計復(fù)雜需求以外，QCP還提供了適用40納米及更大尺寸工藝技術(shù)IC的先進(jìn)提取功能。

“與戰(zhàn)略合作伙伴的密切合作仍是達(dá)成臺積電提供IC行業(yè)最先進(jìn)設(shè)計生態(tài)系統(tǒng)這一目標(biāo)的關(guān)鍵，”臺積電（TSMC）設(shè)計基礎(chǔ)設(shè)施市場部總監(jiān)Suk Lee表示。“對微捷碼下一代提取工具——QCP的質(zhì)量檢驗是確保雙方客戶28納米硅片設(shè)計成功的另一個里程碑?！?

“隨著QCP經(jīng)驗證可提供較傳統(tǒng)工具更快的多角提取，QCP的采用率正節(jié)節(jié)攀升，”微捷碼設(shè)計實施業(yè)務(wù)部總經(jīng)理Premal Buch表示?！?strong>臺積電對QCP的質(zhì)量檢驗讓我們的客戶對其快速精確28納米設(shè)計寄生提取的能力更具信心?！?BR>
QCP：解決28納米設(shè)計的提取問題

QCP經(jīng)架構(gòu)，可以最高精度提供最快提取。它不僅提供了近線性多處理器設(shè)備可擴(kuò)展性，使得設(shè)計團(tuán)隊可縮短運行時間并加速時序收斂；而且只需在原有運行時間上增加最少時間即可實現(xiàn)額外角點的提取，從而還解決了28納米設(shè)計出現(xiàn)的多角工藝、電壓和溫度（PVT）問題。