美商國家儀器（NI）第八屆大中華PXI技術與應用論壇5月18日于臺北六福皇宮盛大登場。來自不同產業(yè)界的代表廠商，在現場人潮洶涌的實際應用展示區(qū)內，百花齊放地呈現了以PXI模組化儀控設備和LabVIEW軟體為核心、有效提升自動化測試效能的最新成果。從電源供應、光學鏡頭到LED晶圓生產設備，NI的PXI模組化軟硬體平臺扮演著舉足輕重的關鍵角色。

圖一NI PXI論壇現場人潮絡繹不絕

在電源元件自動化測試部份，固緯電子示波器研發(fā)事業(yè)處專案襄理曾元佑表示，以往單一PXI儀控設備所能夠消耗的功率限制在25W之內，若待測物需要用到大瓦特數時，便必須搭配一般傳統(tǒng)的量測儀器，因此設計彈性就受到限制。固緯電子便藉由NI軟體定義的PXI模組化平臺價值為核心，擴充測試大瓦特數電源轉換器待測物的能力。為突破以往中低階量測儀器供應商的市場定位，固緯電子以上述概念作為出發(fā)點，與NI合作設計出開放式模組化電源測試系統(tǒng)，強化了工業(yè)和消費電子應用電源轉換器的測試能力。

這款模組化電源測試系統(tǒng)中，NI主要提供操作介面、示波器和電表卡板、以及耐高壓轉換匯流排，其余則是由固緯電子所衍生開發(fā)。為了降低客戶使用的門檻，在預設版本內就先刪除PXI控制器簡化功能的角色。至于軟體部份則是采用NI的測試管理套件TestStand，以此為基礎開發(fā)出其他LabVIEW測項功能，大部分軟體平臺也是由NI所提供。藉此固緯電子設計出一套可支援工業(yè)用電腦和消費電子產品等電源自動化測試、并能提供相關服務的原型平臺。

圖二固緯電子示波器研發(fā)事業(yè)處專案襄理曾元佑

另一方面，在光學透鏡檢測部份，國家實驗研究院儀器科技研究中心先進電子系統(tǒng)制作廠助理研究員陳永祥指出，消費電子產品搭配的光學鏡頭，需要經過嚴謹的偏心檢測作業(yè)。藉由PXI模組平臺的輔助，影像式光學透鏡模組的偏心檢測機臺，光軸中心和幾何中心兩點運算的偏心量就能更為精確地檢測出來，且能進一步提高周邊擴充功能和運算速度，比起傳統(tǒng)機械式繞圓的檢測方式，更能提高效率和精確度，從2～3分鐘大幅縮減數秒即可。

圖三右為國家實驗研究院儀器科技；左為研究中心先進電子系統(tǒng)制作廠助理研究員陳永祥

此外在LED晶圓測試領域，PXI模組化平臺更扮演不可或缺的角色。亞克先進系統(tǒng)部經理林世芳和順英有限公司蕭順中表示，現場展示的6寸LED晶圓測試設備，整合順英的電光測試機以及亞克先進的移動控制機臺，測試機除采用NI PXI SMU模組之外，整座機臺亦涵蓋NI在電性、馬達、影像視覺、I/O介面、LabVIEW等軟硬體功能，可支援高速、低雜訊、穩(wěn)定而精確的量測品質。6寸LED晶圓測試設備可同時進行垂直4點LED探針測試，并可兼顧波長檢測項目，不僅能大幅提高檢測產能，更可大幅降低無塵室生產線的建置成本，是臺灣自主開發(fā)的LED軟硬體檢測平臺。

圖四右為亞克先進系統(tǒng)部經理林世芳；左為順英有限公司蕭順中