惠瑞捷全新的 HSM3G 高速內(nèi)存測試解決方案為 DDR3、DDR4和更高級的內(nèi)存提供了低廉的測試成本平價的升級提供了未來三代設(shè)備多代發(fā)展路徑
惠瑞捷 (Verigy)（納斯達克代碼：VRGY）推出了全新的 HSM3G 高速內(nèi)存測試解決方案，進一步拓展V93000 HSM 平臺在以DDR3世代為主的內(nèi)存 IC 和未來更高級內(nèi)存的測試能力。V93000 HSM3G 獨特的優(yōu)勢在于其未來的可升級性，能夠為未來的三代 DDR 內(nèi)存提供數(shù)據(jù)傳輸速度高達6.8 Gbps且價格低廉的測試服務(wù)，從而前所未有地長期節(jié)約測試成本。
惠瑞捷 SOC 測試副總裁 Hans-Juergen Wagner 表示：“內(nèi)存制造商一直在尋找一種既能滿足其生產(chǎn)和功能需求又能提供比一個世代產(chǎn)品壽命更長、投資價值更高的經(jīng)濟型 ATE 解決方案。我們可升級的V93000 HSM 測試平臺提供前所未有的使用壽命，能夠為從 DDR3 到 DDR4 再到將來更高級的主流 DRAM 至少三代產(chǎn)品提供卓越的投資報酬。這些測試的經(jīng)濟效益，在業(yè)界其它產(chǎn)品均不可及?！?br>V93000 HSM3G 已俱備未來的速度和功能性，提供了高速內(nèi)存測試市場上最完整的特性。其可程序設(shè)計的、全速的每引腳 APG 能力加上能夠產(chǎn)生針對數(shù)據(jù)總線倒置 (DBI) 和循環(huán)冗余檢查碼 (CRC)所需的相關(guān)測試數(shù)據(jù)，對于進階的 DDR4 內(nèi)存技術(shù)特性能夠提供足夠的測試需求，以確保較高的測試質(zhì)量和產(chǎn)量。
得益于其每引腳的內(nèi)存自動測試設(shè)備處理能力，V93000 HSM3G 可以節(jié)約高達20%的測試時間。它可以提供全并行模式的功能測試 (parallel pattern execution)、全并行的DC特性檢測以及眼圖的測量(eye-width measurements)，從而提供了相當(dāng)高的多任務(wù)效率。
V93000 HSM3G 可以提供實質(zhì) 2.9 Gbps 的數(shù)據(jù)傳輸速度以及 完善的256-site DDR3并行測試(parallel testing)，在整個所需的測試速度范圍內(nèi)不會增加任何不必要的測試時間，也不會影響準(zhǔn)確性、功能性、測試范圍以及產(chǎn)量。歸功于可提供充裕的實質(zhì)速度(native speed headroom)，HSM3G 可以滿足所有主流DDR3 各種速度分級需求以及高級游戲機DDR3 和前兩個 DDR4 量產(chǎn)的速度等級。V93000 平臺架構(gòu)對于未來更高速的產(chǎn)品測試需求，確保將來能夠升級的能力。
惠瑞捷簡介
惠瑞捷公司 (Verigy)致力于為全球知名廠商提供設(shè)計驗證、特性量測、以及大批量生產(chǎn)測試所需的先進的半導(dǎo)體測試系統(tǒng)和解決方案?；萑鸾萏峁┑母魇娇缮壠脚_涵蓋各種系統(tǒng)級芯片 (SOC)、閃存和 DRAM（包括高速內(nèi)存）存儲系統(tǒng)以及多芯片封裝 (MCP) 測試解決方案。惠瑞捷提供的先進分析工具可協(xié)助客戶加快設(shè)計除錯與良率提升的過程。有關(guān)惠瑞捷更詳細的信息，可查詢：www.verigy.com網(wǎng)站。