——每個引腳數(shù)字參數(shù)測量和高密度的源測量單元模塊都是半導體研究、測試的理想選擇

新聞發(fā)布——2011年8月——美國國家儀器有限公司（NationalInstruments，簡稱NI）擴展其PXI平臺的功能，通過新發(fā)布的每個引腳參數(shù)測量單元模塊(PPMU)和源測量單元模塊（SMU）用于半導體的特性描述和生產測試。NIPXIe-6556200MHz高速數(shù)字I/O具備PPMU，NIPXIe-4140和NIPXIe-4141四通道的SMU可降低資本設備成本，縮短測試時間，并提升各種測試設備的混合信號靈活性。

使用NIPXIe-6556高速數(shù)字I/O模塊，工程師可以產生和獲得一個高達200MHz的數(shù)字波形或在同一針腳上，以1%誤差率執(zhí)行DC參數(shù)測量，從而簡化布線，減少測試時間和提高直流參數(shù)測試儀的測量密度。此外，其內置的時序校準功能可自動調整時序，幫助工程師們消除不同連線與線路長度所造成的時序偏移，。NIPXIe-6556可選擇是否以其他精度更高的NISMU切換，工程師可基于硬件或軟件觸發(fā)器，進而觸發(fā)參數(shù)測量。

NIPXIe-4140/41SMU模塊可用于PXIExpress插槽，提供多達4個SMU的通道，而4U的單一PXI機箱可提供多達68個SMU的通道,以輕松應對高針數(shù)設備的測試。高達每秒600,000樣本的采樣率，工程師們可以大大減少測量時間，或獲取設備重要的瞬態(tài)特性。此外，NIPXIe-4141具備新一代的SourceAdapt技術，工程師們可根據(jù)任何給定的負載自定義調整SMU輸出，以實現(xiàn)最大的穩(wěn)定性和最小的瞬態(tài)倍。傳統(tǒng)SMU技術無法提供此功能。

結合使用NILabVIEW系統(tǒng)設計軟件，這些新PPMU和SMU模塊為半導體測試提供了模塊化的軟件定義測量方式，從而提高質量，降低成本并減少整個測試驗證，特性研究和生產的時間。LabVIEW具有靈活性編程語言與先進的工程工具的力量，使工程師能夠滿足特定、定制化的要求。

關于PXI

PXI(PCIeXtensionsforInstrumentation，面向儀器系統(tǒng)的PCI擴展)作為由PXI系統(tǒng)聯(lián)盟所管理的開放式的工業(yè)標準，是一種堅固的基于CompactPCI技術的測試、測量和控制平臺。它的開放式構架、靈活性的PC技術以及它的成本優(yōu)勢為測量和自動化行業(yè)帶來一場翻天覆地的革命。自1997年PXI規(guī)范完成開發(fā)以來，如今已經有超過70個生產商支持，并提供了超過1500款PXI產品。時至今日，PXI已經成為當今測試、測量和自動化應用的標準平臺，PXI的應用也已經觸及到各行各業(yè)的諸多領域。通過融合高帶寬的PCIExpress技術，全新的PXIExpress總線更是為測試測量行業(yè)開辟了全新的應用空間。更多信息請訪問ni.com/china/pxi。

關于NI

30多年來，美國國家儀器公司(NI)幫助測試、控制、設計領域的工程師與科學家解決了從設計、原型到發(fā)布過程中所遇到的種種挑戰(zhàn)。