哈工大發(fā)現(xiàn)高效去除AFM探針表面污染物新方法
美國材料研究學(xué)會(MRS)官方網(wǎng)站日前在“材料研究當(dāng)前新聞”欄目中,以《光柵刷子能清潔原子力顯微鏡的探針針尖》為題,報道了哈爾濱工業(yè)大學(xué)化工學(xué)院催化科學(xué)與工程系教授甘陽與墨爾本大學(xué)教授弗蘭克斯合作發(fā)表在國際學(xué)術(shù)期刊《超顯微術(shù)》(Ultramicroscopy)上的原創(chuàng)性研究成果。
該報道稱:“清潔原子力顯微鏡(atomic force microscope,AFM)針尖是AFM可靠成像和力測量的關(guān)鍵。研究者現(xiàn)在發(fā)現(xiàn),具有超尖刺突的標(biāo)定光柵作為‘刷子’,可用來機械清除AFM探針上的污染物,這是通過把探針在加大力的恒力模式下掃描刺突來實現(xiàn)。這一方法不但能用來無損、高效地去除有機和無機污染物,而且可實現(xiàn)污染物去除和探針研究的一步完成。此外,該方法既可用來清潔膠體/顆粒探針,也可以用來清潔標(biāo)準AFM針尖。”
甘陽認為,作為一種新型的表面污染物“定點”清除方法,該方法的應(yīng)用遠不限于清潔原子力顯微鏡探針,更有望在廣泛的表界面研究、微電子等領(lǐng)域中得到廣泛應(yīng)用。
這篇論文在愛思唯爾(Elsevier)出版社2009年第三季度的“25篇最熱門論文”中列《超顯微術(shù)》的第一位?!冻@微術(shù)》是Elsevier出版的顯微研究領(lǐng)域的國際著名期刊。