NI(美國國家儀器公司，National Instruments，簡稱NI) 作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來應(yīng)對全球最嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商，今日宣布將在夏威夷檀香山舉行的2017國際微波會議(IMS)上展示一項準(zhǔn)5G波形發(fā)生和測量技術(shù)。 該展示將包含代表Verizon 5G技術(shù)論壇(5GTF)和3GPP提出的新無線電(New Radio, NR)物理層波形的信號生成和分析。

這一技術(shù)展示將使用1 GHz帶寬的PXIe-5840第二代矢量信號收發(fā)儀(VST)與用于波形調(diào)制和解調(diào)的準(zhǔn)5G軟件。波形調(diào)制的關(guān)鍵特征包括支持離散傅里葉變換擴(kuò)展正交頻分復(fù)用(DFT-S-OFDM)和正交頻分多址(OFDMA)以及支持3GPP 5G NR和Verizon 5GTF規(guī)范的靈活子載波間隔和分量載波配置，總帶寬為1 GHz。該演示支持高達(dá)256-QAM的調(diào)制類型，測量結(jié)果包含功率、相鄰信道功率和誤差矢量幅度。 該演示的典型應(yīng)用包括RF功率放大器、前端模塊和收發(fā)器等RFIC的測試。

NI無線設(shè)計和測試副總裁Charles Schroeder：“NI以軟件為中心的測試測量方法可允許PXI測試系統(tǒng)隨著軟件的更新速度進(jìn)行更新。 借助這種方法，工程師可以使用當(dāng)前用于測試LTE-A和LTE-A Pro產(chǎn)品的VST測試系統(tǒng)來測試未來的5G產(chǎn)品。”

NI的新5G測試技術(shù)與其廣泛的RF和無線測試產(chǎn)品系列相得益彰，新的軟件進(jìn)一步完善了現(xiàn)有的802.11a/b/g/j/n/p/ac/ax,、藍(lán)牙GSM、UMTS、LTE/LTE-A、FM/RDS、GNSS測試解決方案。 NI的RF和無線智能測試系統(tǒng)基于NI先進(jìn)的VST技術(shù)，可幫助工程師降低測試成本。 這些測試系統(tǒng)將受益于從直流到毫米波等不同工作頻率范圍的600多個PXI產(chǎn)品。它們采用PCI Express第三代總線接口，具有高吞吐量數(shù)據(jù)移動，同時具有亞納秒級同步以及集成的定時和觸發(fā)。 LabVIEW和TestStand軟件環(huán)境的高效生產(chǎn)力，以及一個由合作伙伴、附加IP和應(yīng)用工程師組成的充滿活力的生態(tài)系統(tǒng)，可幫助用戶大幅降低測試成本，縮短上市時間，開發(fā)面向未來的測試設(shè)備來應(yīng)對未來的種種挑戰(zhàn)。